Fischione

Plasma Cleaner, Nano Clean, Ion Mill, TEM Mill, Nano Mill, Pico Mill, Wafer Mill: eccellenza nella preparazione dei campioni Fischione

E.A. Fischione Inc., fondata da Eugene A. Fischione, è un’azienda di fama globale, riconosciuta per l’elevata qualità e innovazione dei suoi strumenti. Le loro soluzioni per la preparazione dei campioni sono presenti in migliaia di laboratori in tutto il mondo, supportando la ricerca e lo sviluppo nei settori della microscopia, scienza dei materiali, metallurgia, scienze della vita, semiconduttori, nucleare, medicale, automotive, aerospaziale e telecomunicazioni.

Dai sistemi di pulizia al plasma ai sofisticati ion mill per la lavorazione ultra-precisa, i prodotti Fischione sono sinonimo di affidabilità e prestazioni di alto livello. La loro tecnologia consente di ottenere risultati riproducibili e di massima qualità, supportando i ricercatori e le industrie nelle sfide più complesse.

La collaborazione con Media System Lab dura da quasi un decennio, a conferma della nostra fiducia nella qualità dei loro strumenti e del nostro impegno nel fornire ai clienti italiani le migliori soluzioni disponibili sul mercato.

Logo Fischione – Strumenti di precisione per la preparazione dei campioni.

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

portfolio sem ciqtek
Notizie

IMC 21 a Liverpool

Dal 31 Agosto al 4 Settembre a Liverpool si terrà il più importante congresso dedicato alla microscopia al mondo: International Microscopy Congress.

Media System Lab ha numerosi business partner nell’elenco degli espositori e che quindi potrete incontrare a Liverpool se avrete la fortuna come noi di visitare il Liverpool Experience

Leggi Tutto »
corso SEM, microscopia elettronica a scansione, formazione
Notizie

Un Settembre pieno di eventi

A Settembre, saremo a Liverpool, Brescia, Roma, Napoli, Jena e poi ci sarà il nostro corso SEM ad Ottobre.
Scrivi una e-mail a info@m-s.it per partecipare al workshop Delong Instruments a Napoli dal 21 al 25 Settembre e al nostro corso SEM il 20 e 21 Ottobre.

Leggi Tutto »
LVEM delong instruments
Articoli Tecnici

Applicazioni LVEM: Polimeri

Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.

E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.

Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto

Leggi Tutto »
SEM microscopia elettronica microscopio elettronico
Articoli Tecnici

Il contrasto di potenziale nel SEM

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

Leggi Tutto »
critical point dryer
Articoli Tecnici

Critical Point Dryer

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

Leggi Tutto »
terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

Leggi Tutto »

RIMANI AGGIORNATO

Iscriviti alla nostra newsletter