I NOSTRI VALORI

Siamo esperti in microscopia elettronica e il riferimento tecnico di laboratori di microscopia e caratterizzazione dei campioni in Scienze dei materiali e Scienze della vita, in Italia ed Europa.

IL TUO PARTNER IDEALE

La Ricerca della qualità, nei prodotti e nel servizio, sempre, è la nostra distintiva caratteristica.

Citando Benjamin Franklin:

“The bitterness of poor quality remains long after the sweetness of low prices forgotten”.

L’attitudine di Media System Lab è quella di diventare partner dei propri clienti in grado di risolvere tutti i loro problemi in tempi sempre più brevi, proponendo soluzioni sempre più sostenibili e di qualità, diventando consulenti e non solo fornitori.

Condividiamo le nostre conoscenze

APPLICATION NOTE

Produciamo continuamente nuove soluzioni applicative, proviamo per te le tecniche e gli strumenti più innovativi, condividiamo i nostri segreti tecnici e mettiamo tutta la nostra esperienza nelle application note che puoi leggere e scaricare quando vuoi.

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

Notizie

Un Settembre pieno di eventi

A Settembre, saremo a Liverpool, Brescia, Roma, Napoli, Jena e poi ci sarà il nostro corso SEM ad Ottobre.
Scrivi una e-mail a info@m-s.it per partecipare al workshop Delong Instruments a Napoli dal 21 al 25 Settembre e al nostro corso SEM il 20 e 21 Ottobre.

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LVEM delong instruments
Articoli Tecnici

Applicazioni LVEM: Polimeri

Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.

E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.

Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto

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SEM microscopia elettronica microscopio elettronico
Articoli Tecnici

Il contrasto di potenziale nel SEM

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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critical point dryer
Articoli Tecnici

Critical Point Dryer

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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flim, flim labs
Articoli Tecnici

FLIM LABS introduces its first “Solid FLIM Calibration Standard”

Did you know that precision in FLIM has never been this simple?
FLIM LABS continues its mission to democratise FLIM technology by introducing the FLIM-Phasors Calibration Kit, its first solid calibration standard.
The innovative FLIM LABS kit includes a monoexponential decay reference sample (2.5 ns) and a Convallaria

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