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Oxford EDS Ultim Max per TEM

Oxford EDS Ultim Max per TEM

detector EDS, microanalisi per analisi chimica del campione, spettri, analisi puntuale, eds windowless, sonda eds, microscopio elettronico a trasmissione, TEM

Ultim Max TLE, è il detector Oxford SDD di punta per i TEM

Questo detector è ottimizzato per offrire una caratterizzazione degli elementi su scala atomica offrendo velocità di conteggio massima a dimensioni minime della sonda.

Questa prestazione si ottiene utilizzando una forma ottimizzata, un sensore da 100 mmq,

una costruzione senza finestra, un design della meccanica ottimizzato ed elettronica sofisticata.

Alcune caratterustiche tecniche di questo detector EDS Ultim Max TLE per i Microscopi elettronici a Trasmissione:

Angolo solido di 0,5 – 1,1 srad
Aumento della sensibilità fino a 8 volte per raggi X a bassa energia
Analisi quantitativa a >400.000 cps
Raccoglie gli spettri dei campioni analizzati con temperature >1000 °C durante esperimenti in situ

Qui trovi la scheda tecnica del detector EDS Ultim Max TLE

L’alternativa per il tuo TEM è il detector EDS Ultim Max TEM

Ultim Max TEM, il nostro rivelatore SDD per analisi su nanoscala e mappatura elementale nel TEM.

L’uso di un nuovo sensore a basso profilo da 80 mmq si avvicina al campione offrendo più conteggi a raggi X in qualsiasi condizione.

Combina una meccanica senza finestra ed nuova elettronica , questo detector offre EDS ad alte prestazioni per TEM a 200kV.

Alcune caratterustiche tecniche di questo detector EDS Ultim Max TLE per i Microscopi elettronici a Trasmissione:

Angolo solido di 0,2 – 0,6 srad
Aumento della sensibilità fino a 8 volte per raggi X a bassa energia
Analisi quantitativa a >400.000 cps
Raccoglie gli spettri dei campioni analizzati con temperature >1000 °C durante esperimenti in situ

Qui trovi la scheda tecnica del detector Ultim Max TEM

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