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Oxford EDS X-Max per SEM

Oxford EDS X-Max per SEM

Detector EDS Oxford instrumetns, microanalisi per analisi chimica del campione in microscopia elettronica, microscopio elettronico a scansione

Il detector X-Max SDD (Silicon Drift Detector) per sensori ad ampia area, l’elaborazione del segnale digitale e l’imballaggio innovativo offrono la massima sensibilità per un’analisi accurata di tutti i tipi di campioni, inclusi campioni fragili e nanomateriali.

Il detector SDD X-Max ha un chip da 20 mm2

X-Max offre una ottima risoluzione indipendente dalle dimensioni del sensore – specifiche garantite ISO15632: 2012

Eccellente analisi a basso consumo energetico, il rilevamento degli elementi dal Be incluso.

La combinazione del detector EDS X-Max con la piattaforma AZtecOne è semplice ma potente

La soluzione ideale per eseguire un’attività complessa come EDS in modo rapido e semplice.

Anche se non hai una conoscenza avanzata della tecnica EDS, la tecnologia di Oxford Instruments ti facilita, garantendoti la possibilità di fare affidamento sugli elementi rilevati automaticamente e sulla segnalazione dei risultati corretti.

L’interfaccia è ottimizzata per ridurre al minimo il numero di passaggi per ottenere i risultati giusti.

Anche se non hai mai usato una EDS, puoi diventare autonomo in pochi minuti.

Dalla tua immagine SEM al rapporto dei risultati EDS in un secondo.

Qui trovi la scheda tecnica del detector X-Max

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