I tronchetti di presa EM-Tec e la morsa a base di morsa sono utili per afferrare e trattenere campioni SEM senza molta necessità di preparazione del campione. Ideale per la sezione trasversale e l’imaging edge-on.
L’ampia selezione di questo tipo di supporti per morse e morse convenienti è compatibile con SEM che utilizzano stub a perno (FEI, Zeiss, Tescan, Phenom, Aspex), SEM con filetto M4 (adattatori per palco Hitachi ed EM-Tec SEM) e JEOL SEM.