Pyser optics

Produzione di griglie per TEM e Micrometri certificati Pyser Optics

La collaborazione con Pyser optics, azienda leader nel settore, ci permette di offrire una gamma completa di griglie per microscopia elettronica a trasmissione (TEM) e micrometri certificati di alta precisione.

Pyser è specializzata nella produzione di griglie in rame, nichel, rame con rodio, oro, titanio, molibdeno, acciaio inossidabile e alluminio, disponibili sia nude che con rivestimento in carbonio per garantire prestazioni ottimali.

Grazie alla nostra partnership, forniamo soluzioni affidabili per laboratori di ricerca, università e industrie ad alta tecnologia che necessitano di strumenti di misurazione e supporti di qualità superiore.

Logo Pyser – Leader nella produzione di griglie TEM e micrometri certificati.

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

nanolive, olotomografia, live-cell imaging, label-free, piattaforma analisi dati eve explorer
Application Note

La piattaforma di analisi dei sogni è…EVE Explorer

Trasformare dati complessi in scoperte scientifiche chiare e affidabili non è mai stato semplice come lo è ora.

Nel mondo della ricerca odierna, specialmente nel live-imaging, saper gestire e interpretare i dataset è ormai tanto cruciale quanto la loro produzione.

È qui che entra in gioco EVE Explorer, una piattaforma

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delong instruments, tem, stem, sem, eds, diffrazione, microscopio elettronico
Articoli Tecnici

Microscopia Elettronica Low Voltage

Grazie all’elevato contrasto intrinseco, alla preparazione del campione semplificata e alla stabilità dello strumento, i sistemi LVEM rappresentano piattaforme robuste per l’analisi rapida, riproducibile e scientificamente rigorosa della qualità dei vettori virali.

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delong instruments, TEM, microscopio elettronico
Notizie

Microscopia elettronica a trasmissione Low Voltage – Workshop

Workshop di Media System Lab dedicato alla Low Voltage Electron Microscopy: una soluzione progettata per migliorare i limiti di contrasto dei sistemi tradizionali e rendere più accessibile la microscopia elettronica grazie a sistemi compatti e versatili.
TEM Compatti Delong Instruments e Ultramicrotomo RMC Boeckeler.

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Notizie

Abbiamo pubblicato su Substack!

Qui trovi il nostro primo articolo pubblicato su substack Abbiamo deciso di aggiungere un canale di comunicazione attraverso il quale condividere le nostre competenze e le nostre esperienze, sperando che microscopisti e ricercatori possano trovare risposte e suggerimenti utili per migliorare il proprio lavoro e aumentare le proprie consocenze. Abbiamo

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