EM-Tec FIB grid holders and FIB grid + sample holders

I supporti per griglia EM-Tec FIB sono tutti lavorati con precisione in alluminio per vuoto:

• EM-Tec F12 è un supporto per griglia FIB di base ma pratico per 2 griglie FIB. Basato sul perno standard Ø12,7mm, è compatto, economico e utile per conservare campioni preziosi. Il morsetto per morsa largo 10 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB. Disponibile con perno standard e perno Zeiss corto (EM-Tec F12Z)
• EM-Tec F18 è un tronchetto per griglia FIB ad alta capacità per contenere fino a 8 griglie FIB con 4 morsetti singoli. È praticamente 4 volte l’EM-Tec F12 su uno stub da 25,4 mm (1 ”). Ciascuno dei morsetti per morsa da 10 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB. Ideale per lo stoccaggio sicuro delle reti FIB con lamelle o per applicazioni FIB ad alto rendimento.
• EM-Tec F25 è un supporto per griglia FIB più grande che può ospitare fino a 5 griglie FIB dello stesso spessore. La morsa larga 25 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB e due viti a testa zigrinata in ottone per azionare la morsa. Disponibile con perno filettato e foro filettato M4.
• EM-Tec FS21 combina il supporto per griglia FIB EM-Tec F12 con due tronchesi standard da 12,7 mm (1/2 ”). Il supporto della griglia F12 FIB e gli stub del campione possono essere ruotati nel supporto per selezionare l’orientamento ottimale nel sistema FIB / SEM. La griglia FIB EM-Tec FS21 e il supporto campioni consentono di caricare i campioni e le reti FIB vicine tra loro. La griglia FIB e gli stub del campione sono allo stesso livello quando si usano campioni di wafer Si. Disponibile con perno filettato e foro filettato M4.
• EM-Tec FS22 combina due supporti per griglia F12 FIB con due tronchesi standard da 12,7 mm (1/1 “) con un ingombro di 27×27 mm. Sia i supporti per griglia F12 FIB che i tronchetti possono essere ruotati indipendentemente nel supporto per selezionare l’orientamento ottimale nel sistema FIB / SEM. La doppia griglia FIB EM-Tec FS22 e il supporto campioni consentono di caricare i campioni e le reti FIB vicine tra loro. La griglia FIB e gli stub del campione sono allo stesso livello quando si usano campioni di wafer Si. Disponibile con perno filettato e foro filettato M4.
• EM-Tec FS25 combina la più grande morsa porta-griglia FIB con un supporto per campioni sui tronchetti Ø25,4 mm in un unico supporto compatto. Ciò fornisce un singolo ciclo di caricamento per griglie e campioni FIB e brevi distanze dal sollevamento verso il montaggio delle lamelle. La superficie del campione di tipo wafer è alla stessa altezza dei pali della griglia FIB. Disponibile con perno filettato e foro filettato M4.

Questi supporti possono essere utilizzati su tutti i sistemi FIB e FIB / SEM di FEI, Hitachi, Zeiss e Tescan.Per i sistemi JEOL FIB / SEM utilizzare un adattatore stub EM-Tec adatto.

# 12-000270 Supporto per griglia FIB compatto EM-Tec F12 per un massimo di 2 griglie FIB, perno

EM-Tec F12 supporto griglia FIB compatto per un massimo di 2 griglie FIB, perno EM-Tec F12 è un supporto griglia FIB di base ma pratico con perno per 2 griglie FIB. Basato sul perno standard Ø12,7mm, è compatto e utile per conservare preziosi campioni FIB. Il morsetto per morsa largo 10 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB

	EM-Tec F12 compact FIB grid holder for up to 2 FIB grids, pin
Product #	Unit
12-000270	each

# 12-000271 EM-Tec F18 supporto griglia FIB ad alta capacità per un massimo di 8 griglie FIB, perno

EM-Tec F18 supporto per griglia FIB ad alta capacità per un massimo di 8 griglie FIB, perno EM-Tec F18 è un supporto per griglia FIB ad alta capacità per contenere fino a 8 griglie FIB con 4 piccoli morsetti singoli. È praticamente 4 volte l’EM-Tec F12 su uno stub da 25,4 mm (1 ”). Ciascuno dei morsetti per morsa da 10 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB. Ideale per lo stoccaggio sicuro delle reti FIB con lamelle o per applicazioni FIB ad alto rendimento

	EM-Tec F18 high capacity FIB grid holder for up to 8 FIB grids, pin
Product #	Unit
12-000271	each

# 12-000275 Supporto griglia EM-Tec F25 FIB per un massimo di 5 griglie FIB, perno

EM-Tec F25 Supporto per griglia FIB per un massimo di 5 griglie FIB, perno EM-Tec F25 è un supporto per griglia FIB più largo con perno che può ospitare fino a 5 griglie FIB dello stesso spessore. La morsa larga 25 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB e due viti a testa zigrinata in ottone per azionare la morsa.

	EM-Tec F25 FIB grid holder for up to 5 FIB grids, pin
Product #	Unit
12-000275	each

# 12-000277 Griglia FIB EM-Tec FS21 e supporto del campione per un massimo di 2 griglie FIB e perno filettato Ø12,7mm, perno

Griglia EM-Tec FS21 FIB e portacampioni per un massimo di 2 griglie FIB e perno filettato Ø12,7 mm, perno EM-Tec FS21 combina il supporto griglia EM-Tec F12Z FIB con due tronchesi standard da 12,7 mm (1/2 pollice). Il supporto della griglia F12 FIB e gli stub del campione possono essere ruotati nel supporto per selezionare l’orientamento ottimale nel sistema FIB / SEM. La griglia FIB EM-Tec FS21 e il supporto campioni consentono di caricare i campioni e le reti FIB vicine tra loro. La griglia FIB e gli stub del campione sono allo stesso livello quando si usano campioni di wafer Si. Include 1x stelo EM-Tec F12Z e 2x pin standard da 12,7 mm.

	EM-Tec FS21 FIB grid and sample holder for up to 2 FIB grids and Ø12.7mm pin stub, pin
Product #	Unit
12-000277	each

# 12-000278 Griglia FIB EM-Tec FS22 e portacampioni per griglie FIB fino a 2×2 e perno filettato Ø12,7mm 2x, perno

Griglia EM-Tec FS22 FIB e supporto del campione per un massimo di 2×2 griglie FIB e 2x stub pin Ø12,7 mm, pin EM-Tec FS22 combina due supporti della griglia F12 FIB con due stub pin standard 12,7 mm (1/2 pollice) in un ingombro di 27×27 mm . Sia i supporti per griglia F12 FIB che i tronchetti possono essere ruotati indipendentemente nel supporto per selezionare l’orientamento ottimale nel sistema FIB / SEM. La doppia griglia FIB EM-Tec FS22 e il supporto campioni consentono di caricare i campioni e le reti FIB vicine tra loro. La griglia FIB e gli stub del campione sono allo stesso livello quando si usano campioni di wafer Si. Include 2 pin EM-Tec F12 e 2 pin standard da 12,7 mm.

	EM-Tec FS22 FIB grid and sample holder for up to 2×2 FIB grids and 2x Ø12.7mm pin stub, pin
Product #	Unit
12-000278	each

# 12-000276 Griglia FIB EM-Tec FS25 e portacampioni per un massimo di 5 griglie FIB e perno filettato Ø25,4 mm, perno

Griglia EM-Tec FS25 FIB e supporto del campione per un massimo di 5 griglie FIB e perno del perno Ø25,4 mm, perno L’EM-Tec FS25 combina la morsa più larga del supporto della griglia F25 FIB con un supporto per tronchetti del perno Ø25,4 mm in un unico supporto compatto con un pin standard. Ciò fornisce un singolo ciclo di caricamento per griglie e campioni FIB e brevi distanze dal sollevamento del modulo al montaggio delle lamelle. La superficie del campione di tipo wafer è alla stessa altezza dei pali della griglia FIB.

	EM-Tec FS25 FIB grid and sample holder for up to 5 FIB grids and Ø25.4mm pin stub, pin
Product #	Unit
12-000276	each

# 12-000375 Supporto griglia FIB EM-Tec F25 per un massimo di 5 griglie FIB, M4

EM-Tec F25 Supporto per griglia FIB per un massimo di 5 griglie FIB, M4 EM-Tec F25 è un supporto per griglia FIB più largo con un foro filettato M4 che può ospitare fino a 5 griglie FIB dello stesso spessore. La morsa larga 25 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB e due viti a testa zigrinata in ottone per azionare la morsa.

	EM-Tec F25 FIB grid holder for up to 5 FIB grids, M4
Product #	Unit
12-000375	each

# 12-000377 EM-Tec FS21 Griglia FIB e supporto del campione per un massimo di 2 griglie FIB e perno filettato Ø12,7 mm, M4

Griglia EM-Tec FS21 FIB e supporto del campione per un massimo di 2 griglie FIB e stub pin Ø12,7 mm, M4 EM-Tec FS21 combina il supporto della griglia FIB EM-Tec F12 con due tronchesi standard da 12,7 mm (1/2 pollice). Il supporto della griglia F12 FIB e gli stub del campione possono essere ruotati nel supporto per selezionare l’orientamento ottimale nel sistema FIB / SEM. La griglia FIB EM-Tec FS21 e il supporto campioni consentono di caricare i campioni e le reti FIB vicine tra loro. La griglia FIB e gli stub del campione sono allo stesso livello quando si usano campioni di wafer Si. Include 1x stelo EM-Tec F12Z e 2x pin standard da 12,7 mm.

	EM-Tec FS21 FIB grid and sample holder for up to 2 FIB grids and Ø12.7mm pin stub, M4
Product #	Unit
12-000377	each

# 12-000378 Griglia FIB EM-Tec FS22 e portacampioni per griglie FIB fino a 2×2 e perno filettato Ø12,7mm 2x, M4

Griglia EM-Tec FS22 FIB e supporto del campione per un massimo di 2×2 griglie FIB e 2x stub pin Ø12,7 mm, M4 EM-Tec FS22 combina due supporti della griglia F12 FIB con due stub standard 12,7 mm (1/2 pollice) entro un ingombro di 27×27 mm . Sia i supporti per griglia F12 FIB che i tronchetti possono essere ruotati indipendentemente nel supporto per selezionare l’orientamento ottimale nel sistema FIB / SEM. La doppia griglia FIB EM-Tec FS22 e il supporto campioni consentono di caricare i campioni e le reti FIB vicine tra loro. La griglia FIB e gli stub del campione sono allo stesso livello quando si usano campioni di wafer Si. Include 2 pin EM-Tec F12 e 2 pin standard da 12,7 mm.

	EM-Tec FS22 FIB grid and sample holder for up to 2×2 FIB grids and 2x Ø12.7mm pin stub, M4
Product #	Unit
12-000378	each

# 12-000376 Griglia FIB EM-Tec FS25 e supporto del campione per un massimo di 5 griglie FIB e perno filettato Ø25,4 mm, M4

Griglia EM-Tec FS25 FIB e portacampioni per un massimo di 5 griglie FIB e perno filettato Ø25,4 mm, M4 EM-Tec FS25 combina la morsa più larga del supporto griglia F25 F25 con un supporto per tronchetti perno Ø25,4 mm in un unico compatto supporto con filettatura M4. Ciò fornisce un singolo ciclo di caricamento per griglie e campioni FIB e brevi distanze dal sollevamento del modulo al montaggio delle lamelle. La superficie del campione di tipo wafer è alla stessa altezza dei pali della griglia FIB.

	EM-Tec FS25 FIB grid and sample holder for up to 5 FIB grids and Ø25.4mm pin stub, M4
Product #	Unit
12-000376	each

# 12-003270 EM-Tec F12Z supporto griglia FIB compatto per un massimo di 2 griglie FIB, perno Zeiss corto

EM-Tec F12Z supporto griglia FIB compatto per un massimo di 2 griglie FIB, perno Zeiss corto EM-Tec F12Z è un supporto griglia FIB semplice ma pratico con perno per 2 griglie FIB. Basato sul perno standard Ø12,7mm con perno corto Zeiss, è compatto e utile per la memorizzazione di preziosi campioni FIB. Il morsetto per morsa largo 10 mm include una sporgenza per un facile posizionamento delle griglie FIB.

	EM-Tec F12Z compact FIB grid holder for up to 2 FIB grids, short Zeiss pin
Product #	Unit
12-003270	each