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EM-Tec holders and stubs for the JEOL NeoScope table top SEMs

The special selection of EM-Tec sample holders and sample stubs compatible with the JEOL NeoScope table top SEMs allows for increased productivity, quicker sample holding and improved imaging. The standard JEOL NeoScope series table top SEMs comprises X/Y movements of 35mm and allows for a maximum height of 50mm. The standard sample stage provides X/Y movements and Z adjustment, but tilt and rotation are only optionally available.

1 – EM-Tec JV40 stage adapter kit for the JEOL NeoScope series table top SEMs
The EM-Tec JV40 stage adapter kit is fully compatible with the standard X/Y stage of the JEOL NeoScope JCM-6000plus, JCM-6000 and JCM-5000 table top SEMs. With the EM-Tec JV40 stage adapter, a vast range of sample holders can be used on the JEOL NeoScope, offering improved sample handling and access to the vast range of EM-Tec versatile sample holders. It consists three parts:

Stage adapter discs insert with female M6 thread
Brass stage adapter pillar (adjustable height) with male M6 thread and M4 screw on top
aluminium M6 locking ring.

It replaces the standard JEOL NeoScope stage adapter as a drop in style replacement. The top of the adjustable height pillar includes an M4 screw. Fully compatible with all EM-Tec SEM sample holders with M4 threaded hole.

2 –EM-Tec sample holders for the JEOL NeoScope series table top SEMs
The EM-Tec sample holders with M4 threaded hole are fully compatible with the JEOL NeoScope table top SEMs using the EM-Tec JV-40 stage adapter. The sample holders fir within the stage travel limits and maximum available height. With the EM-Tec holders, tilt can be added to the sample movements. The EM-Tec sample holders enable quick and secure holding of samples without the use of adhesives.

3 – EM-Tec S-Clip holders for the JEOL NeoScope series table top SEMs
The EM-Tec S-Clips holders with the spring-loaded sample clips compatible with the JEOL NeoScope series table top using the EM-Tec JV40 stage adapter are:

standard horizontal
45° and 45° /90° sample stubs
90° sample stubs.

They are useful to hold thin sample such as Si wafer chips, metal strips, plastic foils, etc.

4 – EM-Tec sample stubs for the JEOL NeoScope series table top SEMs
The JEOL NeoScope series table top SEMs mostly uses the 25mm JEOL stubs. These are also used on the optionally available tilt/rotation stage. When using the EM-Tec sample holders, the standard JEOL 9.5, 12.2,25 and 32mm stubs can be used as well. Currently available JEOL stubs for the JEOL NeoScope JCM-6000plus, JCM6000 and JCM-5000 are:

Standard flat JEOL cylinder stubs with the popular 25, 9.5, 12.2 and 32mm diameters. Available with heights of 5 and 10mm.
Angled JEOL cylinder stubs with 45°, 45/90° and 90° pre-tilt surfaces.
Dish type pin stub with 12.2mm diameter and recessed top for fluid samples and solutions.

5 – EM-Tec SEM stub adapters for the JEOL NeoScope series table top SEMs
With the EM-Tec SEM stub adapters, you can use the standard pin stubs, Cambridge S4 stubs and Zeiss pin stubs on the JEOL NeoScope series tabletop SEMs. The JEOL stubs with the M4 threaded base fit directly on the EM-Tec JV-40 stage adapter and do not require a stub adapter. With a stub adapter, there is no need to re-mount the sample and sample integrity is maintained. Also useful for using calibration standards which are be mounted on a pin stub. Recommended SEM stub adapters are:

EM-Tec H15P stub adapter with M4 thread to accept all standard and Zeiss type pin stubs
EM-Tec HS4 adapter with M4 thread to accept the 32mm Cambridge S4 mounts

	EM-Tec JV40 versatile SEM stage adapter with M4 screw for JEOL Neoscope JCM6000 and JCM5000 table top SEMs
Product #	Unit
11-000540	each

# 12-000334 EM-Tec GS24 gripping stub holder with clamping plate, 0-4mm, aluminium, M4

EM-Tec GS24 gripping stub with clamping plate to hold cross section samples or tissue up to 4mm thickness. Sample is held by the clamping plate which is pushed with set screws. Also useful for holding tissue for dehydration and CPD processing. Holder dimensions are 24x12x12mm x M4.

	EM-Tec GS24 gripping stub holder with clamping plate, 0-4mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-000334	each

# 12-000331 EM-Tec HS2 mini M4 cylinder stub tube/needle clamp Ø2mm , Ø15x10mm, M4

EM-Tec HS2 mini M4 cylinder tub/needle clamp. Capacity is Ø2mm maximum, the needle is secured with a small set screw. This holder is ideal for probes, needles, wire and thin tubes. The perfect holder for the Cameca Atom Probe Microscope needle shaped samples. Holder size is Ø15x10mmxM4.

	EM-Tec HS2 mini M4 cylinder stub tube/needle clamp Ø2mm , Ø15x10mm, M4
Product #	Unit
12-000331	each

# 12-000306 EM-Tec HS6 mini M4 cylinder stub vise clamp 0-6mm, Ø15x10mm, M4

EM-Tec HS6 mini M4 cylinder stub vise clamp for sample thickness from 0-6mm. The sample is held vertically with a small set screw. Simple and cost-effective way to clamp cross sections of thin samples. Holder stub size is Ø15x10mmxM4.

	EM-Tec HS6 mini M4 cylinder stub vise clamp 0-6mm, Ø15x10mm, M4
Product #	Unit
12-000306	each

# 12-003209 EM-Tec HV5 mini vise sample clamp, M4

EM-Tec HV5 mini sample vise clamp for sample thickness from 0-5mm. The sample is held vertically between the vise jaws. The vise jaws are tightened by a brass thumb screw. Holder size is Ø12.2x17mmxM4.

	EM-Tec HV5 mini vise sample clamp, M4
Product #	Unit
12-003209	each

# 12-000315 EM-Tec HS15 M4 cylinder stub vise clamp 0-16mm, Ø25x10mm, M4

EM-Tec HS15 M4 cylinder stub vise clamp for sample thickness from 0-16mm. The sample is held vertically with a set screw (multiple lengths are supplied). Cost effective and practical small vise clamp base on the stub size of Ø25x10mmxM4.

	EM-Tec HS15 M4 cylinder stub vise clamp 0-16mm, Ø25x10mm, M4
Product #	Unit
12-000315	each

# 12-000323 EM-Tec GB16 bulk sample holder for up 16mm, gilded brass, M4

EM-Tec GB16 with M4 thread. Rectangular type bulk sample holder with two side brackets for sample thickness up to 16mm. Made from brass, 1µm thick gold plated. Ideal for smaller samples and smaller SEMs. Provided with 4 set screws.

	EM-Tec GB16 bulk sample holder for up 16mm, gilded brass, M4
Product #	Unit
12-000323	each

# 12-000314 EM-Tec P4 multi pin stub holder for 4 pin stubs, Ø31.5×10.5mm, M4

EM-Tec P4 multi pin stub holder for 4 pin stubs, Ø31.5×10.5mm, M4.

	EM-Tec P4 multi pin stub holder for 4 pin stubs, Ø31.5×10.5mm, M4
Product #	Unit
12-000314	each

# 12-000328 EM-Tec HS7 mini M4 cylinder stub dual slot vise clamp, 2x1mm, Ø15x6mm, M4

EM-Tec HS7 mini pin stub dual slot vise with two slots of one mm wide. Ideal for holding thin wafer like samples for cross section imaging. Sample are clamped by set screws. Holder size is Ø15x6mm, M4 threaded hole.

	EM-Tec HS7 mini M4 cylinder stub dual slot vise clamp, 2x1mm, Ø15x6mm, M4
Product #	Unit
12-000328	each

# 12-003228 EM-Tec VS8 mini spring-loaded vise holder for up to 8mm, M4

EM-Tec VS8 is a mini single action spring-loaded vise for samples with a maximum clamping size of 8mm. The vise is opened by pulling the moving vise jaw. Ideal for quickly loading thin cross-sections. The vase base dimensions are Ø25 x 12.5mm height. Made from vacuum grade aluminium with stainless steel rods and springs.

	EM-Tec VS8 mini spring-loaded vise holder for up to 8mm, M4
Product #	Unit
12-003228	each

# 12-000347 EM-Tec TV12 mini variable 0-90° angle tilt sample holder 11x12mm, angle indicators at 0, 30, 45, 70 and 90 degrees, M4

EM-Tec TV12 mini variable tilt mount allows 0-90° angle in a small sample mount; available with pin stub or M4 thread. The sample need to be mounted on the tilting platform of this compact holder. Side engravings on the tilting platform assist in setting the desired tilt angle.

	EM-Tec TV12 mini variable 0-90° angle tilt sample holder 11x12mm, angle indicators at 0, 30, 45, 70 and 90 degrees, M4
Product #	Unit
12-000347	each

# 12-000348 EM-Tec TV25 variable 0-90° angle tilt holder for stubs up Ø38mm, M4

EM-Tec TV25 larger variable tilt holder allows 0-90° angle for sample stubs or sample holders up Ø38mm. Larger stubs can be mounted, but tilting can be limited, depending on the SEM used. Compatible with both pin or Hitachi M4 threaded stubs or holders.

	EM-Tec TV25 variable 0-90° angle tilt holder for stubs up Ø38mm, M4
Product #	Unit
12-000348	each

# 12-000324 EM-Tec HS16 M4 cylinder stub round clamp up to Ø16mm, Ø25x10mm, M4

EM-Tec HS16 M4 cylinder stub to clamp round shaped samples up to Ø16mm in diameter. Samples are held by a set screw in the middle of a 25mm Hitachi stub. Holder stub size is Ø25x10mmxM4.

	EM-Tec HS16 M4 cylinder stub round clamp up to Ø16mm, Ø25x10mm, M4
Product #	Unit
12-000324	each

# 12-000325 EM-Tec B26 bulk sample holder for up 26mm, aluminium, M4

EM-Tec B26 wit M4 thread. Rectangular type bulk sample holder with two side bracket for sample thickness up to 26mm. Made from vacuum grade aluminium. Provided with 8 set screws.

	EM-Tec B26 bulk sample holder for up 26mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-000325	each

# 12-000300 EM-Tec V22 compact vise type sample holder for up to 22mm, M4

EM-Tec V22 compact vise sample holder for sample sizes up from 0-22mm with M4 thread. One fixed jaw and a spindle driven moving jaw. Jaw height is 10mm, clamping width is 25mm. Cost-effective compact vise which can be used in both standard SEMs and table top SEMs. Made from vacuum grade aluminium, brass spindle and stainless steel screws.

	EM-Tec V22 compact vise type sample holder for up to 22mm, M4
Product #	Unit
12-000300	each

# 12-000345 EM-Tec H45P fixed 45° pre-tilt holder for pin stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4

EM-Tec H45P fixed 45° tilt holder for standard and Zeiss pin stubs. Image sample surfaces or cross sections directly under 45° w/o having to use the tilt on the SEM stage. Particularly useful for table top SEMs without tilt facilities or to extend tilt angles for limited tilt stages. Overall size is Ø12.7x17mmxM4.

	EM-Tec H45P fixed 45° pre-tilt holder for pin stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4
Product #	Unit
12-000345	each

# 12-000312 EM-Tec J4 multi stub holder for 4 x Ø9.5mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4

EM-Tec J4 multi holder for 4 of the JEOL Ø9.5mm sample stubs. Holder size is Ø32x10mm.

	EM-Tec J4 multi stub holder for 4 x Ø9.5mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4
Product #	Unit
12-000312	each

# 12-000341 EM-Tec H45 fixed 45° pre-tilt holder for Hitachi M4 stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4

EM-Tec H45 fixed 45° tilt holder Hitachi M4 cylinder stubs. Image sample surfaces or cross sections directly under 45° w/o having to tilt the SEM stage. Particularly useful for table top SEMs without tilt facilities or to extend tilt angles for limited tilt stages. Overall size is Ø12.7x17mmxM4.

	EM-Tec H45 fixed 45° pre-tilt holder for Hitachi M4 stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4
Product #	Unit
12-000341	each

# 12-000308 EM-Tec SC1 SampleClamp SEM holder, 15x10mm sample area, M4

EM-Tec SC1 SampleClamp with a clamping area of 15x10mm. Small and thin wire, strips, fibers, cables can be clamped down with the strips at the side to examine the outside surface. No use of adhesive keeps the surface clean and allows for rotating the sample to examine the sample at different angles.

	EM-Tec SC1 SampleClamp SEM holder, 15x10mm sample area, M4
Product #	Unit
12-000308	each

# 12-000326 EM-Tec M26 metallographic mount holder for Ø25mm / Ø1inch mounts, M4

EM-Tec M26 metallographic mount holder for holding Ø25mm or Ø1” metallographic or petrographic mounts with embedded samples, M4.

	EM-Tec M26 metallographic mount holder for Ø25mm / Ø1inch mounts, M4
Product #	Unit
12-000326	each

# 12-000313 EM-Tec J3 multi stub holder for 3 x Ø12.2mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4

EM-Tec J3 multi holder for 4 of the JEOL Ø12.2mm sample stubs. Holder size is Ø32x10mm.

	EM-Tec J3 multi stub holder for 3 x Ø12.2mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4
Product #	Unit
12-000313	each

# 12-000317 EM-Tec GR20 bulk sample holder for up to Ø20mm, gilded brass, M4

EM-Tec GR20 with M4 thread. Round type bulk sample holder with three brackets for round and awkwardly shaped samples up to Ø20mm. Made from brass, 1µm thick gold plated. Ideal for smaller samples and smaller SEMs. Provided with 6 set screws.

	EM-Tec GR20 bulk sample holder for up to Ø20mm, gilded brass, M4
Product #	Unit
12-000317	each

# 12-000321 EM-Tec VS12 compact single action spring-loaded vise holder for up to 12mm, M4

EM-Tec VS12 is a compact single action spring-loaded vise for samples with a maximum clamping size of 12mm. The vise is opened by pushing the moving vise jaw with a push rod. The push rod can be removed when the holder is loaded in the SEM. Dowel pins can be inserted in the fixed and moving jaws to increase the opening to a sample size up to 18mm diameter or to hold awkwardly shaped samples; 4 dowel pins are included. Made from vacuum grade aluminium with stainless steel rods and springs.

	EM-Tec VS12 compact single action spring-loaded vise holder for up to 12mm, M4
Product #	Unit
12-000321	each

# 12-000309 EM-Tec SC2 SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4

EM-Tec SC2 SampleClamp with a clamping area of 25x15mm. Longer and thicker wire, strips, fibers, cables can be clamped down with the strips at the side to examine the outside surface. No use of adhesive keeps the surface clean and allows for rotating the sample to examine the sample at different angles.

	EM-Tec SC2 SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4
Product #	Unit
12-000309	each

# 12-000332 EM-Tec M32 metallographic mount holder for Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1/4inch mounts, M4

EM-Tec M32 metallographic mount holder for holding Ø30mm, Ø32mm or Ø1-1/4” metallographic or petrographic mount with embedded samples.

	EM-Tec M32 metallographic mount holder for Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1/4inch mounts, M4
Product #	Unit
12-000332	each

# 12-000322 EM-Tec VS26 compact double action spring-loaded vise holder for up to 26mm, M4

EM-Tec VS26 is a compact double action spring-loaded vise for sample with a maximum clamping size of 26mm with M4 thread. Due to the double sided spring, this vise acts as a centering vise. The vise jaws are opened by push rods which can be remove when the sample holder is loaded in the SEM. Dowel pins can be inserted in the jaws to increase sample size up to 34mm diameter or to hold irregular shaped samples; 4 dowel pin are included. Made from vacuum grade aluminium and stainless steel rods and springs.

	EM-Tec VS26 compact double action spring-loaded vise holder for up to 26mm, M4
Product #	Unit
12-000322	each

# 12-000310 EM-Tec SC2R recessed SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4

EM-Tec SC2R SampleClamp with a recessed area of 25x15mm. The recessed part leaves the sample area to be examined fully free standing. This allows for a complete rotation of the sample to examine all sides. The recessed area tends to be out of focus which leaves more emphasis on the sample. Tip: to avoid signal from the recessed area, one could place a carbon disc underneath the sample; this will greatly reduce both electron and X-ray signal.

	EM-Tec SC2R recessed SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4
Product #	Unit
12-000310	each

# 12-000333 EM-Tec R32 bulk sample holder for up to Ø32mm, aluminium, M4

EM-Tec R32 with M4 thread. Round type bulk sample holder with three brackets for round and awkwardly shaped samples up to Ø32mm. Equally useful as metallographic mounts holder for 30mm / 1-1/4” mounts. Made from vacuum grade aluminium. Provided with 9 set screws.

	EM-Tec R32 bulk sample holder for up to Ø32mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-000333	each

# 12-000311 EM-Tec HS3 mini M4 cylinder stub SampleClamp 0-2mm , Ø15x10mm, M4

EM-Tec HS3 mini M4 cylinder stub SampleClamp to clamp thin samples, foils, Si wafer pieces etc. directly on the stub. Samples are held down by a washer under the small screw. More effective and cleaner than using tape or conductive paint/paste. Holder stub size is Ø15x10mmxM4.

	EM-Tec HS3 mini M4 cylinder stub SampleClamp 0-2mm , Ø15x10mm, M4
Product #	Unit
12-000311	each

# 12-003315 EM-Tec HS19 swivel clamp for up to 16mm samples, aluminium, M4

EM-Tec HS19 swivel stub vise clamp for sample thickness from 0-16mm. The sample is held with a set screw (multiple length are provided). The swivel hinge allows close to 90° tilt both ways. Holder size is Ø25x30mm xM4.

	EM-Tec HS19 swivel clamp for up to 16mm samples, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003315	each

# 12-003330 EM-Tec HS18 mini swivel split mount vise for up to 8mm, aluminium, M4

EM-Tec HS18 mini swivel split mount vise for samples up to 8mm thickness. The sample is held between the mini vise clamps. This swivel holder allows can be tilted 90° both ways. Holder size is Ø15x30mm xM4.

	EM-Tec HS18 mini swivel split mount vise for up to 8mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003330	each

# 12-003340 EM-Tec HS17 mini swivel vise holder for up to 4mm, aluminium, M4

EM-Tec HS17 mini swivel vise holder for sample thickness up to 4mm. Sample is held with a set screw; ideal for Si chips and thin sample cross sections. This swivel holder allows for full 90° tilt both ways. Holder size is Ø12x23mm xM4.

	EM-Tec HS17 mini swivel vise holder for up to 4mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003340	each

# 12-003110 EM-Tec HGS10 swivel head sample holder for up to 10mm, gold plated brass, M4

EM-Tec HGS10 swivel head sample holder is made from gold plated brass to enable easy cleaning and to resist contamination. Maximum sample thickness is 10mm; sample is clamped with two thumb screws. Sample can be clamped from opposite ways. This swivel holder allows for full 90° tilt both ways. Holder size is 28x16x32mm x M4.

	EM-Tec HGS10 swivel head sample holder for up to 10mm, gold plated brass, M4
Product #	Unit
12-003110	each

# 12-000330 EM-Tec HS9 mini split mount vise 0 – 8mm, M4

EM-Tec HS9 mini split mount vise clamp for sample thickness from 0-8mm. The sample is clamped between the two jaws of the split mount. The split mount vise jaws are closed by two Allen screws. Closed mini split mount vise dimensions are Ø15x10mm; when opened 24x15x10mm. M4 threaded hole in the base.

	EM-Tec HS9 mini split mount vise 0 – 8mm, M4
Product #	Unit
12-000330	each

# 12-003211 EM-Tec HS15 Hitachi stub swivel mount, Ø15x21mm, aluminium, M4

EM-Tec HS15 Hitachi swivel stub mount. The head of the mount is attached to the cylinder stub via a swivel hinge which allows for 90 degrees tilting each way. Can be rotated 360 degrees in the cylinder stub. Excellent mount for SEMs without tilting facilities or when random tilt angled are needed. When the desired tilt angle is set, the top is secured with a socket cap screw. Top diameter is 15mm and the total height is 30mm.

	EM-Tec HS15 Hitachi stub swivel mount, Ø15x21mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003211	EM-Tec HS15 Hitachi stub swivel mount, Ø15x21mm, aluminium, M4

	5 each EM-Tec copper alloy S-Clips with 5 each brass M2x3mm screws
Product #	Unit
12-000900	pkg/5

	EM-Tec HS15C S-Clip swivel mount sample holder with 1xS-Clip, Ø15mm, M4
Product #	Unit
12-004911	each

	EM-Tec TV12C mini variable 0-90° angle tilt sample holder with 1 x S-Clip, angle indicators at 0, 30, 45, 70 and 90°, M4
Product #	Unit
12-004947	each

	EM-Tec S-Clip sample holder with 1xS-Clip 45° on Ø25mm stub, M4
Product #	Unit
12-004925	each

	EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø25x10mm stub, M4
Product #	Unit
12-004920-1	1x S-Clip on Ø25x10mm stub
12-004920-2	2x S-Clips on Ø25x10mm stub
12-004920-3	3x S-Clips on Ø25x10mm stub

	EM-Tec S-Clip sample holder with 2xS-Clips 45°/90° on Ø25 stub, M4
Product #	Unit
12-004927	each

	EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32x10mm stub, M4
Product #	Unit
12-004930-1	1x S-Clip on Ø32x10mm stub
12-004930-2	2x S-Clips on Ø32x10mm stub
12-004930-3	3x S-Clips on Ø32x10mm stub

	EM-Tec S-Clip sample holder with 2xS-Clips double 90° on Ø25mm stub, M4
Product #	Unit
12-004929	each

	EM-Tec S-Clip sample holder with 4xS-Clips at 90°, 12.7×12.7x14mm, M4
Product #	Unit
12-004914	each

	JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005010-50	pkg/50
10-005010-100	pkg/100

	JEOL Ø12.2x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product	Unit
10-005012-50	pkg/50
10-005012-100	pkg/100

	JEOL Ø25x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005025-10	pkg/10
10-005025-50	pkg/50
10-005025-100	pkg/100

	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005105-10	pkg/10
10-005105-50	pkg/50

	JEOL Ø25x8mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005028-10	pkg/10
10-005028-50	pkg/50

	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005109-10	pkg/10
10-005109-50	pkg/50

	JEOL Ø25x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005125-10	pkg/10
10-005125-50	pkg/50
10-005125-100	pkg/100

	JEOL Ø25×12.7mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005126-10	pkg/10
10-005126-50	pkg/50

	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005115-10	pkg/10
10-005115-50	pkg/50

	JEOL Ø25x16mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005215-10	pkg/10
10-005215-50	pkg/50

	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005119-10	pkg/10
10-005119-50	pkg/50

	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005127-5	pkg/5
10-005127-10	pkg/10

	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005219-1	pkg/1
10-005219-5	pkg/5

	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005225-1	pkg/1
10-005225-5	pkg/5

	JEOL Dish stub, Ø12.2×10 with 1.5mm dish depth, aluminium
Product #	Unit
10-005114-1	pkg/1
10-005114-5	pkg/5
10-005114-10	pkg/10

# 11-000304 EM-Tec H15P M4 adapter for pin stub, Ø15x16mm, M4

EM-Tec H15P M4 adapter for pin stubs for standard and short Ø3.2mm diameter pin stubs. The stem of the pin stub is secured with a set screw. Allows for using the popular pin stubs on Hitachi and JEOL Neoscope table top SEMs. Machined from vacuum grade aluminium. Overall size is Ø15x16mm. Includes allen key.

	EM-Tec H15P M4 adapter for pin stub, Ø15x16mm, M4
Product #	Unit
11-000304	each

# 11-000305 EM-Tec HS4 M4 adapter for Cambridge S4 stubs, M4

EM-Tec HS-4 M4 adapter for holding Cambridge S4 mounts. Screws are used to secure the Cambridge S4 mount. Machined from vacuum grade aluminium. Overall size is Ø30x10mm.

	EM-Tec HS4 M4 adapter for Cambridge S4 stubs, M4
Product #	Unit
11-000305	each

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# 12-000334 EM-Tec GS24 supporto tronchese con piastra di serraggio, 0-4mm, alluminio, M4

EM-Tec GS24 porta-tronchi di presa con piastra di serraggio, 0-4mm, alluminio, M4 EM-Tec GS24 tronchesi di presa con piastra di serraggio per contenere campioni di sezione trasversale o tessuti fino a 4 mm di spessore. Il campione viene trattenuto dalla piastra di serraggio che viene spinta con le viti di arresto. Utile anche per trattenere i tessuti per la disidratazione e l’elaborazione della CPD. Le dimensioni del supporto sono 24x12x12mm x M4.

# 12-000331 EM-Tec HS2 mini M4 stub cilindro / pinza ago Ø2mm, Ø15x10mm, M4

EM-Tec HS2 mini M4 cilindro stub / pinza ago Ø2mm, Ø15x10mm, M4 EM-Tec HS2 mini M4 cilindro pinza / pinza ago. La capacità è di Ø2 mm massimo, l’ago è fissato con una piccola vite di fermo. Questo supporto è ideale per sonde, aghi, filo e tubi sottili. Il supporto perfetto per i campioni a forma di ago del microscopio a sonda Cameca Atom. Le dimensioni del supporto sono Ø15x10mmxM4.

# 12-000306 EM-Tec HS6 mini cilindro M4 morsetto morsa morsetto 0-6mm, Ø15x10mm, M4

Morsetto morsa EM-Tec HS6 mini M4 cilindro 0-6mm, Ø15x10mm, M4 Morsetto morsa EM-Tec HS6 mini M4 cilindro per spessore campione da 0-6mm. Il campione viene tenuto verticalmente con una piccola vite di fermo. Modo semplice ed economico per bloccare sezioni trasversali di campioni sottili. Le dimensioni dello stub del supporto sono Ø15x10mmxM4.

# 12-003209 Pinza per campione mini morsa EM-Tec HV5, M4

Pinza per morsa mini EM-Tec HV5, M4 Pinza per morsa mini EM-Tec HV5 per spessori da 0-5 mm. Il campione viene tenuto verticalmente tra le ganasce della morsa. Le ganasce della morsa sono serrate da una vite a testa zigrinata in ottone. Le dimensioni del supporto sono Ø12,2x17mmxM4.

# 12-000315 EM-Tec HS15 M4 morsetto morsa cilindro 0-16mm, Ø25x10mm, M4

Morsetto morsa EM-Tec HS15 M4 cilindro 0-16mm, Ø25x10mm, M4 Morsetto morsa EM-Tec HS15 M4 cilindro per spessore campione da 0-16mm. Il campione viene tenuto verticalmente con una vite di fermo (vengono fornite più lunghezze). Base di fissaggio a morsa piccola economica e pratica sulla dimensione del mozzo di Ø25x10mmxM4.

# 12-000323 EM-Tec GB16 porta campioni sfuso fino a 16mm, ottone dorato, M4

EM-Tec GB16 porta campioni sfuso per fino a 16mm, ottone dorato, M4 EM-Tec GB16 con filetto M4. Porta campioni sfuso di tipo rettangolare con due staffe laterali per spessori del campione fino a 16 mm. Realizzato in ottone, placcato in oro 1µm. Ideale per campioni più piccoli e SEM più piccoli. Fornito con 4 viti di fermo.

# 12-000314 EM-Tec P4 supporto mozzo multiplo per tronchetti a 4 poli, Ø31,5×10,5mm, M4

EM-Tec P4 supporto mozzo multiplo per tronchetti a 4 poli, Ø31,5×10,5mm, M4 EM-Tec P4 perno tronchese multiplo per tronchetti a 4 pin, Ø31,5×10,5mm, M4

# 12-000328 EM-Tec HS7 mini M4 cilindro stub morsetto morsa doppia morsa, 2x1mm, Ø15x6mm, M4

Morsa EM-Tec HS7 mini m4 cilindrica con doppio foro per morsa cilindrica, 2x1mm, Ø15x6mm, M4 Morsa EM-Tec HS7 mini morsa con doppio perno con doppio intaglio largo due mm. Ideale per contenere wafer sottili come campioni per l’imaging di sezioni trasversali. Il campione viene bloccato da viti di fermo. Le dimensioni del supporto sono Ø15x6mm, foro filettato M4.

# 12-003228 Mini morsa EM-Tec VS8 caricata a molla per un massimo di 8 mm, M4

Mini morsa EM-Tec VS8 caricata a molla per un massimo di 8 mm, M4 EM-Tec VS8 è una morsa mini caricata a molla a singola azione per campioni con una dimensione massima di serraggio di 8 mm. La morsa si apre tirando la ganascia della morsa mobile. Ideale per caricare rapidamente sezioni trasversali sottili. Le dimensioni della base del vaso sono di Ø25 x 12,5 mm di altezza. Realizzato in alluminio per vuoto con barre e molle in acciaio inossidabile.

# 12-000347 EM-Tec TV12 mini porta inclinazione 0-90 ° inclinazione variabile 11x12mm, indicatori angolari a 0, 30, 45, 70 e 90 gradi, M4

EM-Tec TV12 mini supporto per inclinazione 0-90 ° inclinazione variabile 11x12mm, indicatori di inclinazione a 0, 30, 45, 70 e 90 gradi, M4 EM-Tec TV12 mini inclinazione per montaggio inclinabile consente un angolo 0-90 ° in un piccolo supporto per campione ; disponibile con perno filettato o filetto M4. Il campione deve essere montato sulla piattaforma inclinabile di questo supporto compatto. Le incisioni laterali sulla piattaforma inclinabile aiutano a impostare l’angolo di inclinazione desiderato.

# 12-000348 EM-Tec TV25 supporto inclinazione variabile 0-90 ° per tronchetti Ø38mm, M4

EM-Tec TV25 supporto inclinazione variabile 0-90 ° per tronchesi Ø38mm, M4 EM-Tec TV25 supporto inclinazione variabile più grande consente un angolo 0-90 ° per tronchesi o supporti campione Ø38mm. Stub più grandi possono essere montati, ma l’inclinazione può essere limitata, a seconda del SEM utilizzato. Compatibile con tronchesi o supporti filettati a perno o Hitachi M4.

# 12-000324 EM-Tec HS16 M4 stub cilindro morsetto tondo fino a Ø16mm, Ø25x10mm, M4

Pinza tonda cilindro M4 EM-Tec HS16 M4 fino a Ø16mm, Ø25x10mm, Pinza tonda M4 EM-Tec HS16 M4 per bloccare campioni di forma rotonda fino a Ø16 mm di diametro. I campioni sono trattenuti da una vite di fermo nel mezzo di uno stub Hitachi da 25 mm. Le dimensioni dello stub del supporto sono Ø25x10mmxM4.

# 12-000325 EM-Tec B26 porta campioni sfuso fino a 26 mm, alluminio, M4

EM-Tec B26 porta campioni sfuso fino a 26mm, alluminio, M4 EM-Tec B26 con filettatura M4. Porta campioni sfuso di tipo rettangolare con due staffe laterali per spessori fino a 26 mm. Realizzato in alluminio per vuoto. Fornito con 8 viti di fermo.

# 12-000300 Portacampioni tipo morsa EM-Tec V22 compatto per un massimo di 22 mm, M4

Porta campioni per morsa compatta EM-Tec V22 fino a 22 mm, M4 Porta campioni per morsa compatta EM-Tec V22 per campioni di dimensioni fino a 0-22 mm con filettatura M4. Una mascella fissa e una mascella mobile guidata da mandrino. L’altezza della mascella è di 10 mm, la larghezza di serraggio è di 25 mm. Morsa compatta economica che può essere utilizzata in SEM standard e SEM da tavolo. Realizzato in alluminio per vuoto, mandrino in ottone e viti in acciaio inossidabile.

# 12-000345 EM-Tec H45P supporto pre-inclinazione 45 ° fisso per tronchesi / supporti perno, Ø12,7x17mm, M4

EM-Tec H45P supporto di inclinazione fisso a 45 ° per tronchesi / supporti, Ø12.7x17mm, M4 EM-Tec H45P supporto di inclinazione fisso a 45 ° per tronchesi standard e Zeiss. Le superfici del campione dell’immagine o le sezioni trasversali direttamente al di sotto di 45 ° senza usare l’inclinazione sul palco SEM. Particolarmente utile per i SEM da tavolo senza dispositivi di inclinazione o per estendere gli angoli di inclinazione per fasi di inclinazione limitate. La dimensione complessiva è Ø12,7x17mmxM4.

# 12-000312 EM-Tec J4 supporto multiplo per 4 tronchetti JEOL Ø9,5mm, Ø31,5x10mm, M4

Supporto multiplo EM-Tec J4 per 4 tronchetti JEOL Ø9,5mm, Ø31,5x10mm, supporto multiplo EM-Tec J4 per 4 dei tronchetti JEOL Ø9,5mm. Le dimensioni del supporto sono Ø32x10mm.

# 12-000341 EM-Tec H45 supporto pre-inclinazione fisso a 45 ° per tronchesi / attacchi Hitachi M4, Ø12,7x17mm, M4

EM-Tec H45 supporto fisso pre-inclinazione 45 ° per mozzi / attacchi Hitachi M4, Ø12,7x17mm, M4 EM-Tec H45 supporto fisso inclinazione 45 ° mozzi cilindro Hitachi M4. Le superfici del campione dell’immagine o le sezioni trasversali direttamente al di sotto di 45 ° senza inclinare lo stadio SEM. Particolarmente utile per i SEM da tavolo senza dispositivi di inclinazione o per estendere gli angoli di inclinazione per fasi di inclinazione limitate. La dimensione complessiva è Ø12,7x17mmxM4.

# 12-000308 EM-Tec SC1 Supporto SampleClamp SEM, area campione 15x10mm, M4

EM-Tec SC1 SampleClamp Supporto SEM, area di campionamento 15x10mm, M4 EM-Tec SC1 SampleClamp con area di serraggio di 15x10mm. Fili piccoli e sottili, strisce, fibre, cavi possono essere fissati con le strisce laterali per esaminare la superficie esterna. Nessun uso di adesivo mantiene pulita la superficie e consente di ruotare il campione per esaminare il campione con diverse angolazioni.

# 12-000326 EM-Tec M26 supporto per supporto metallografico per supporti Ø25mm / Ø1inch, M4

Supporto di montaggio metallografico EM-Tec M26 per supporti Ø25mm / Ø1 pollici, supporto di supporto metallografico M26 EM-Tec M26 per contenere supporti metallografici o petrografici Ø25mm o Ø1 ”con campioni incorporati, M4.

# 12-000313 EM-Tec J3 supporto multiplo per 3 mozzi JEOL Ø12,2mm, Ø31,5x10mm, M4

Supporto multiplo EM-Tec J3 per 3 tronchetti JEOL Ø12,2mm, Ø31,5x10mm, M4 Supporto multiplo EM-Tec J3 per 4 tronchetti JEOL Ø12,2mm. Le dimensioni del supporto sono Ø32x10mm.

# 12-000317 EM-Tec GR20 porta campioni sfuso fino a Ø20mm, ottone dorato, M4

EM-Tec GR20 porta campioni sfuso fino a Ø20mm, ottone dorato, M4 EM-Tec GR20 con filetto M4. Supporto per campioni sfusi di tipo rotondo con tre staffe per campioni rotondi e di forma scomoda fino a Ø20mm. Realizzato in ottone, placcato in oro 1µm. Ideale per campioni più piccoli e SEM più piccoli. Fornito con 6 viti di fermo.

# 12-000321 EM-Tec VS12 supporto morsa compatto a molla a singola azione per un massimo di 12 mm, M4

EM-Tec VS12 porta morsa compatta a molla a singola azione fino a 12 mm, M4 EM-Tec VS12 è una morsa compatta a molla a singola azione per campioni con dimensioni massime di serraggio di 12 mm. La morsa si apre spingendo la ganascia della morsa mobile con un’asta di spinta. L’asta di spinta può essere rimossa quando il supporto è caricato nel SEM. I perni di centraggio possono essere inseriti nelle ganasce fisse e mobili per aumentare l’apertura fino a una dimensione del campione fino a un diametro di 18 mm o per contenere campioni dalla forma scomoda; Sono inclusi 4 tasselli. Realizzato in alluminio per vuoto con barre e molle in acciaio inossidabile

# 12-000309 EM-Tec SC2 Supporto SampleClamp SEM, area campione 25x15mm, M4

EM-Tec SC2 SampleClamp Supporto SEM, area di campionamento 25x15mm, M4 EM-Tec SC2 SampleClamp con area di serraggio di 25x15mm. Fili, strisce, fibre, cavi più lunghi e più spessi possono essere bloccati con le strisce laterali per esaminare la superficie esterna. Nessun uso di adesivo mantiene pulita la superficie e consente di ruotare il campione per esaminare il campione con diverse angolazioni.

# 12-000332 Supporto metallografico EM-Tec M32 per supporti Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1 / 4 pollici, M4

Supporto di montaggio metallografico M32 EM-Tec per supporti Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1 / 4 pollici, supporto di supporto metallografico M4 EM-Tec M32 per il supporto di supporto metallografico o petrografico Ø30mm, Ø32mm o Ø1-1 / 4 ”con campioni incorporati.

# 12-000322 EM-Tec VS26 supporto morsa compatto a molla a doppia azione per un massimo di 26 mm, M4

EM-Tec VS26 porta morsa compatta a molla a doppia azione fino a 26 mm, M4 EM-Tec VS26 è una morsa compatta a molla a doppia azione per campione con una dimensione massima di serraggio di 26 mm con filettatura M4. A causa della molla a doppia faccia, questa morsa funge da morsa di centraggio. Le ganasce della morsa sono aperte da aste di spinta che possono essere rimosse quando il supporto del campione viene caricato nel SEM. I perni di riferimento possono essere inseriti nelle ganasce per aumentare la dimensione del campione fino a un diametro di 34 mm o per contenere campioni di forma irregolare; Sono inclusi 4 tasselli. Realizzato con aste e molle in alluminio per vuoto e acciaio inossidabile

# 12-000310 EM-Tec SC2R Supporto da incasso SampleClamp SEM, area campione 25x15mm, M4

EM-Tec SC2R SampleClamp ad incasso Supporto SEM, area campione 25x15mm, M4 EM-Tec SC2R SampleClamp con area incasso di 25x15mm. La parte incassata lascia l’area del campione da esaminare completamente indipendente. Ciò consente una rotazione completa del campione per esaminare tutti i lati. L’area incassata tende a essere sfocata, il che lascia maggiore enfasi sul campione. Suggerimento: per evitare il segnale dall’area incassata, si potrebbe posizionare un disco di carbone sotto il campione; questo ridurrà notevolmente sia il segnale elettronico che i raggi X.

# 12-000333 EM-Tec R32 porta campioni sfuso fino a Ø32mm, alluminio, M4

EM-Tec R32 porta campioni sfuso fino a Ø32mm, alluminio, M4 EM-Tec R32 con filetto M4. Supporto per campioni sfusi di tipo rotondo con tre staffe per campioni rotondi e di forma scomoda fino a Ø32mm. Altrettanto utile come supporto per supporti metallografici per supporti da 30mm / 1-1 / 4 “. Realizzato in alluminio per vuoto. Fornito con 9 viti di fermo

# 12-000311 EM-Tec HS3 mini stelo cilindro M4 SampleClamp 0-2mm, Ø15x10mm, M4

Stub cilindro EM-Tec HS3 mini M4 SampleClamp 0-2mm, Ø15x10mm, M4 Stub cilindro EM-Tec HS3 mini M4 SampleClamp per bloccare campioni sottili, fogli, pezzi di wafer Si ecc. Direttamente sullo stub. I campioni vengono trattenuti da una rondella sotto la piccola vite. Più efficace e più pulito rispetto all’utilizzo di nastro adesivo o vernice / pasta conduttiva. Le dimensioni dello stub del supporto sono Ø15x10mmxM4.

# 12-003315 Pinza girevole EM-Tec HS19 per campioni fino a 16 mm, alluminio, M4

Morsetto orientabile EM-Tec HS19 per campioni fino a 16 mm, alluminio, M4 Morsetto orientabile EM-Tec HS19 con morsa girevole per spessori del campione da 0 a 16 mm. Il campione viene tenuto con una vite di fermo (sono fornite lunghezze multiple). La cerniera girevole consente un’inclinazione di quasi 90 ° in entrambe le direzioni. Le dimensioni del supporto sono Ø25x30mm xM4.

# 12-003330 Morsa EM-Tec HS18 mini girevole con attacco sdoppiato per un massimo di 8 mm, alluminio, M4

Morsa EM-Tec HS18 mini con attacco snodato split per un massimo di 8 mm, alluminio, M4 Morsa EM-Tec HS18 mini con attacco snodato split per campioni con spessore fino a 8 mm. Il campione viene tenuto tra i mini morsetti per morsa. Questo supporto girevole consente di inclinarlo di 90 ° in entrambi i modi. Le dimensioni del supporto sono Ø15x30mm xM4.

# 12-003340 EM-Tec HS17 mini porta morsa girevole per un massimo di 4 mm, alluminio, M4

Mini porta morsa girevole EM-Tec HS17 fino a 4 mm, alluminio, M4 Mini porta morsa EM-Tec HS17 per spessore campione fino a 4 mm. Il campione viene tenuto con una vite di fermo; ideale per chip Si e sezioni sottili del campione. Questo supporto girevole consente un’inclinazione completa di 90 ° in entrambe le direzioni. Le dimensioni del supporto sono Ø12x23mm xM4.

# 12-003110 EM-Tec HGS10 supporto per testina girevole fino a 10mm, ottone placcato oro, M4

Portacampioni a testa girevole EM-Tec HGS10 fino a 10 mm, ottone placcato oro, M4 Portacampioni a testa girevole EM-Tec HGS10 è realizzato in ottone placcato oro per consentire una facile pulizia e resistere alla contaminazione. Lo spessore massimo del campione è di 10 mm; il campione viene bloccato con due viti a testa zigrinata. Il campione può essere bloccato da modi opposti. Questo supporto girevole consente un’inclinazione completa di 90 ° in entrambe le direzioni. Le dimensioni del supporto sono 28x16x32mm x M4.

# 12-000330 Morsa EM-Tec HS9 mini split 0 – 8mm, M4

Morsa EM-Tec HS9 mini split split 0 – 8mm, M4 Morsa EM-Tec HS9 mini split split per campioni con spessore da 0-8mm. Il campione viene bloccato tra le due ganasce del supporto diviso. Le ganasce della morsa con attacco diviso sono chiuse da due viti a brugola. Le dimensioni della morsa mini con attacco diviso chiuso sono Ø15x10mm; quando aperto 24x15x10mm. Foro filettato M4 nella base.

# 12-003211 EM-Tec HS15 Attacco girevole per troncone Hitachi, Ø15x21mm, alluminio, M4

EM-Tec HS15 Hitachi attacco mozzo girevole, Ø15x21mm, alluminio, M4 EM-Tec HS15 Hitachi attacco mozzo girevole. La testa del supporto è fissata al mozzo del cilindro tramite una cerniera girevole che consente un’inclinazione di 90 gradi in entrambe le direzioni. Può essere ruotato di 360 gradi nel mozzo del cilindro. Eccellente supporto per SEM senza dispositivi di inclinazione o quando sono necessarie inclinazioni casuali angolate. Quando viene impostato l’angolo di inclinazione desiderato, la parte superiore viene fissata con una vite a testa cilindrica. Il diametro superiore è di 15 mm e l’altezza totale è di 30 mm.

	5 each EM-Tec copper alloy S-Clips with 5 each brass M2x3mm screws
Product #	Unit
12-000900	5 each EM-Tec copper alloy S-Clips with 5 each brass M2x3mm screws

	JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005010-50	JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005010-100	JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø12.2x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005012-50	JEOL Ø12.2x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005012-100	JEOL Ø12.2x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005105-10	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
10-005105-50	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium

	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005109-10	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
10-005109-50	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

# 11-000304 Adattatore EM-Tec H15P M4 per perno, Ø15x16mm, M4

Adattatore EM-Tec H15P M4 per perno, Ø15x16mm, M4 Adattatore EM-Tec H15P M4 per perno per perno standard e corto diametro Ø3,2mm. Lo stelo del perno del perno è fissato con una vite di fermo. Permette di utilizzare i famosi stub a perno sui SEM da tavolo Hitachi e JEOL Neoscope. Realizzato in alluminio per vuoto. La dimensione complessiva è di Ø15x16mm. Include chiave a brugola.

# 11-000305 Adattatore EM-Tec HS4 M4 per mozzi Cambridge S4, M4

Adattatore EM-Tec HS4 M4 per mozzi Cambridge S4, adattatore M4 EM-Tec HS-4 M4 per contenere supporti Cambridge S4. Le viti vengono utilizzate per fissare il supporto Cambridge S4. Realizzato in alluminio per vuoto. La dimensione complessiva è di Ø30x10mm.