I NOSTRI VALORI

Siamo esperti in microscopia elettronica e il riferimento tecnico di laboratori di microscopia e caratterizzazione dei campioni in Scienze dei materiali e Scienze della vita, in Italia ed Europa.

IL TUO PARTNER IDEALE

La Ricerca della qualità, nei prodotti e nel servizio, sempre, è la nostra distintiva caratteristica.

Citando Benjamin Franklin:

“The bitterness of poor quality remains long after the sweetness of low prices forgotten”.

L’attitudine di Media System Lab è quella di diventare partner dei propri clienti in grado di risolvere tutti i loro problemi in tempi sempre più brevi, proponendo soluzioni sempre più sostenibili e di qualità, diventando consulenti e non solo fornitori.

Condividiamo le nostre conoscenze

APPLICATION NOTE

Produciamo continuamente nuove soluzioni applicative, proviamo per te le tecniche e gli strumenti più innovativi, condividiamo i nostri segreti tecnici e mettiamo tutta la nostra esperienza nelle application note che puoi leggere e scaricare quando vuoi.

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

portfolio sem ciqtek
Notizie

IMC 21 a Liverpool

Dal 31 Agosto al 4 Settembre a Liverpool si terrà il più importante congresso dedicato alla microscopia al mondo: International Microscopy Congress.

Media System Lab ha numerosi business partner nell’elenco degli espositori e che quindi potrete incontrare a Liverpool se avrete la fortuna come noi di visitare il Liverpool Experience

Leggi Tutto »
corso SEM, microscopia elettronica a scansione, formazione
Notizie

Un Settembre pieno di eventi

A Settembre, saremo a Liverpool, Brescia, Roma, Napoli, Jena e poi ci sarà il nostro corso SEM ad Ottobre.
Scrivi una e-mail a info@m-s.it per partecipare al workshop Delong Instruments a Napoli dal 21 al 25 Settembre e al nostro corso SEM il 20 e 21 Ottobre.

Leggi Tutto »
LVEM delong instruments
Articoli Tecnici

Applicazioni LVEM: Polimeri

Dai composti sintetici come le moderne plastiche e gomme, fino alle sostanze naturali come l’ambra e il caucciù, i polimeri costituiscono una classe di materiali straordinariamente variegata.

Oggi, con l’avvento e la crescente centralità della nano-strutturazione, l’analisi approfondita della loro morfologia, del comportamento di fase e delle loro proprietà fondamentali

Leggi Tutto »
SEM microscopia elettronica microscopio elettronico
Articoli Tecnici

Il contrasto di potenziale nel SEM

Nell’analisi dei dispositivi elettronici esistono situazioni in cui osservare la sola morfologia o la composizione chimica di un campione non è sufficiente. Un circuito integrato può apparire perfettamente integro al microscopio elettronico, senza evidenti difetti strutturali, eppure non funzionare correttamente. In questi casi diventa fondamentale capire se ogni linea conduttrice,

Leggi Tutto »
critical point dryer
Articoli Tecnici

Critical Point Dryer

Il Critical Point Dryer (CPD) è uno strumento utilizzato per essiccare campioni biologici e non biologici in modo da preservarne la struttura tridimensionale originale, evitando i danni causati dalla tensione superficiale dell’acqua durante l’essiccamento convenzionale.

Il principio su cui si basa il CPD è il raggiungimento del “punto critico”, ovvero

Leggi Tutto »
terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

Leggi Tutto »

RIMANI AGGIORNATO

Iscriviti alla nostra newsletter