Bruker

Tecnologie Bruker EDS, WDS, EBSD per la caratterizzazione dei materiali

Bruker offre una gamma completa di strumenti per l’analisi avanzata dei materiali su microscopi elettronici, con tecnologie EDS, WDS ed EBSD. Grazie a soluzioni innovative e ad alte prestazioni, Bruker stabilisce nuovi standard nella spettrometria a dispersione di energia per microscopi elettronici a scansione.

La nuova generazione di QUANTAX EDS integra i rilevatori XFlash® 6, con superfici attive da 10 a 100 mm², e i modelli XFlash® 6T, ideali per TEM e STEM con superfici da 30 mm² e 60 mm². Per la spettroscopia WDS, il sistema QUANTAX WDS utilizza lo spettrometro compatto XSense, che combina tecnologie all’avanguardia per un’analisi estremamente precisa.

Bruker offre anche ESPRIT QUBE, il software più avanzato per la visualizzazione 3D e l’elaborazione dei dati acquisiti con EBSD e/o EDS. Grazie al suo innovativo approccio basato sui quaternioni, permette una rappresentazione e un’analisi tridimensionale accurata, sia su strumenti FIB/SEM che con tecniche metallografiche standard.

Con tecnologie all’avanguardia e strumenti altamente performanti, Bruker è un punto di riferimento per la caratterizzazione dei materiali nei settori scientifico e industriale.

Strumenti Bruker per analisi EDS, WDS ed EBSD su microscopi elettronici

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

lightsheet, biologia, organoidi
Application Note

Light Sheet Happens

The ability to visualize biological specimens in three dimensions (like organoids) has become increasingly important across many areas of life science research. From neuroscience and developmental biology to oncology and organoid research, understanding the spatial organization of cells and tissues often requires imaging beyond the limitations of conventional two-dimensional microscopy

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stem sem feg, microscopio elettronico a scansione
Articoli Tecnici

STEM in FE-SEM

L’aggiunta di un detector STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) ad un SEM con sorgente ad emissione di campo, (SEM-FEG) amplia ulteriormente la tipologia di campioni e di analisi accessibili, mantenendo la flessibilità e la relativa semplicità d’uso del SEM, ma aggiungendo modalità di contrasto e di analisi tipiche della microscopia

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uni Napoli vanvitellli
Notizie

Università degli Studi della Campania “Luigi Vanvitelli”

Oggi pubblichiamo una breve intervista con il Prof. Vincenzo Carafa dell’Università degli Studi della Campania “Luigi Vanvitelli”, cliente del supporto service di Media System Lab, conosciamo la sua attività e il supporto che negli anni Media System Lab ha portato al suo gruppo di lavoro.”

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portfolio sem ciqtek
Notizie

IMC 21 a Liverpool

Dal 31 Agosto al 4 Settembre a Liverpool si terrà il più importante congresso dedicato alla microscopia al mondo: International Microscopy Congress.

Media System Lab ha numerosi business partner nell’elenco degli espositori e che quindi potrete incontrare a Liverpool se avrete la fortuna come noi di visitare il Liverpool Experience

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corso SEM, microscopia elettronica a scansione, formazione
Notizie

Un Settembre pieno di eventi

A Settembre, saremo a Liverpool, Brescia, Roma, Napoli, Jena e poi ci sarà il nostro corso SEM ad Ottobre.
Scrivi una e-mail a info@m-s.it per partecipare al workshop Delong Instruments a Napoli dal 21 al 25 Settembre e al nostro corso SEM il 20 e 21 Ottobre.

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