Bruker

Tecnologie Bruker EDS, WDS, EBSD per la caratterizzazione dei materiali

Bruker offre una gamma completa di strumenti per l’analisi avanzata dei materiali su microscopi elettronici, con tecnologie EDS, WDS ed EBSD. Grazie a soluzioni innovative e ad alte prestazioni, Bruker stabilisce nuovi standard nella spettrometria a dispersione di energia per microscopi elettronici a scansione.

La nuova generazione di QUANTAX EDS integra i rilevatori XFlash® 6, con superfici attive da 10 a 100 mm², e i modelli XFlash® 6T, ideali per TEM e STEM con superfici da 30 mm² e 60 mm². Per la spettroscopia WDS, il sistema QUANTAX WDS utilizza lo spettrometro compatto XSense, che combina tecnologie all’avanguardia per un’analisi estremamente precisa.

Bruker offre anche ESPRIT QUBE, il software più avanzato per la visualizzazione 3D e l’elaborazione dei dati acquisiti con EBSD e/o EDS. Grazie al suo innovativo approccio basato sui quaternioni, permette una rappresentazione e un’analisi tridimensionale accurata, sia su strumenti FIB/SEM che con tecniche metallografiche standard.

Con tecnologie all’avanguardia e strumenti altamente performanti, Bruker è un punto di riferimento per la caratterizzazione dei materiali nei settori scientifico e industriale.

Strumenti Bruker per analisi EDS, WDS ed EBSD su microscopi elettronici

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Ogni settimana pubblichiamo un nuovo articolo tecnico su tematiche ispirate dalle ultime novità e da quello che succede dietro del nostro lab

confronto con segnale a fluorescenza per rilevare nanoparticelle.
Articoli Tecnici

La fluorescenza per quantificare l’uptake di nanoparticelle, è veramente necessaria?

L’articolo esplora alternative alla fluorescenza per la quantificazione dell’uptake di nanoparticelle (NPs) da parte delle cellule. Grazie all’olotomografia di Nanolive, basata sull’indice di rifrazione, è possibile distinguere e quantificare le NPs senza marcatori. Questa tecnologia label-free consente imaging tridimensionale, monitoraggio in tempo reale e analisi quantitativa, rivelandosi una valida opzione

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alluminio polvere
Articoli Tecnici

Analisi microstrutturale e composizionale della superficie di ceramiche in nitruro di alluminio

L’articolo esplora le proprietà microstrutturali delle ceramiche in nitruro di alluminio (AlN), con particolare attenzione agli effetti degli additivi sulla densificazione e sulla riduzione delle impurità. L’analisi SEM-EDS consente di valutare la distribuzione elementare e ottimizzare i parametri di sinterizzazione, migliorando così le prestazioni termiche dei substrati per l’elettronica ad

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STEDYCON
Articoli Tecnici

Unlock “Super-FLIM” with Abberior STEDYCON & FLIM LABS

Abberior STEDYCON è un sistema di microscopia rivoluzionario basato su tecnologia STED, che raggiunge la super-risoluzione. Con l’upgrade FLIM LABS, puoi aggiungere l’imaging a tempo di vita della fluorescenza (FLIM) al tuo microscopio, ottenendo informazioni avanzate su interazioni proteiche, processi metabolici e ambiente cellulare. Compatibilità immediata, software dedicato e massima

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sputter o evaporatore termico
Articoli Tecnici

Sputter o Evaporatore Termico?

Sistema da laboratorio per sputtering magnetron e PVD, ideale per la deposizione controllata di film sottili su diversi substrati. Offre configurazioni personalizzabili, elevate prestazioni e massima precisione nei processi di deposizione sottovuoto.

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