Bruker

Tecnologie Bruker EDS, WDS, EBSD per la caratterizzazione dei materiali

Bruker offre una gamma completa di strumenti per l’analisi avanzata dei materiali su microscopi elettronici, con tecnologie EDS, WDS ed EBSD. Grazie a soluzioni innovative e ad alte prestazioni, Bruker stabilisce nuovi standard nella spettrometria a dispersione di energia per microscopi elettronici a scansione.

La nuova generazione di QUANTAX EDS integra i rilevatori XFlash® 6, con superfici attive da 10 a 100 mm², e i modelli XFlash® 6T, ideali per TEM e STEM con superfici da 30 mm² e 60 mm². Per la spettroscopia WDS, il sistema QUANTAX WDS utilizza lo spettrometro compatto XSense, che combina tecnologie all’avanguardia per un’analisi estremamente precisa.

Bruker offre anche ESPRIT QUBE, il software più avanzato per la visualizzazione 3D e l’elaborazione dei dati acquisiti con EBSD e/o EDS. Grazie al suo innovativo approccio basato sui quaternioni, permette una rappresentazione e un’analisi tridimensionale accurata, sia su strumenti FIB/SEM che con tecniche metallografiche standard.

Con tecnologie all’avanguardia e strumenti altamente performanti, Bruker è un punto di riferimento per la caratterizzazione dei materiali nei settori scientifico e industriale.

Strumenti Bruker per analisi EDS, WDS ed EBSD su microscopi elettronici

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

flim, flim labs
Articoli Tecnici

FLIM LABS introduces its first “Solid FLIM Calibration Standard”

Did you know that precision in FLIM has never been this simple?
FLIM LABS continues its mission to democratise FLIM technology by introducing the FLIM-Phasors Calibration Kit, its first solid calibration standard.
The innovative FLIM LABS kit includes a monoexponential decay reference sample (2.5 ns) and a Convallaria

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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microscopio elettronico a trasmissione, microscopia elettronica, tem , stem, preparativa dei campioni
Articoli Tecnici

Microscopia elettronica Low Voltage

Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.

E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.

Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto

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media system lab
Notizie

Dal 1998, 28 anni, oggi.

Media System Lab, 28 anni oggi.

Abbiamo molti ricordi chiusi in ampolle di cristallo vicino al nostro personale “pensatoio” e come Albus Silente ne apriamo una alla volta per rivivere le nostre esperienze.

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tribologia
Application Note

Indagini tribologiche con SEM-EDS

La combinazione SEM-EDS rivoluziona l’approccio tribologico, unendo morfologia superficiale e chimica micro e nanometrica per una failure analysis accurata e predittiva, anche in situ.

I casi studio dimostrano la sua straordinaria versatilità: permette di identificare l’origine esatta delle fratture, mappare il degrado nei polimeri e analizzare oli lubrificanti a temperature

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