Bruker

Tecnologie Bruker EDS, WDS, EBSD per la caratterizzazione dei materiali

Bruker offre una gamma completa di strumenti per l’analisi avanzata dei materiali su microscopi elettronici, con tecnologie EDS, WDS ed EBSD. Grazie a soluzioni innovative e ad alte prestazioni, Bruker stabilisce nuovi standard nella spettrometria a dispersione di energia per microscopi elettronici a scansione.

La nuova generazione di QUANTAX EDS integra i rilevatori XFlash® 6, con superfici attive da 10 a 100 mm², e i modelli XFlash® 6T, ideali per TEM e STEM con superfici da 30 mm² e 60 mm². Per la spettroscopia WDS, il sistema QUANTAX WDS utilizza lo spettrometro compatto XSense, che combina tecnologie all’avanguardia per un’analisi estremamente precisa.

Bruker offre anche ESPRIT QUBE, il software più avanzato per la visualizzazione 3D e l’elaborazione dei dati acquisiti con EBSD e/o EDS. Grazie al suo innovativo approccio basato sui quaternioni, permette una rappresentazione e un’analisi tridimensionale accurata, sia su strumenti FIB/SEM che con tecniche metallografiche standard.

Con tecnologie all’avanguardia e strumenti altamente performanti, Bruker è un punto di riferimento per la caratterizzazione dei materiali nei settori scientifico e industriale.

Strumenti Bruker per analisi EDS, WDS ed EBSD su microscopi elettronici

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

portfolio sem ciqtek
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IMC 21 a Liverpool

Dal 31 Agosto al 4 Settembre a Liverpool si terrà il più importante congresso dedicato alla microscopia al mondo: International Microscopy Congress.

Media System Lab ha numerosi business partner nell’elenco degli espositori e che quindi potrete incontrare a Liverpool se avrete la fortuna come noi di visitare il Liverpool Experience

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corso SEM, microscopia elettronica a scansione, formazione
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Un Settembre pieno di eventi

A Settembre, saremo a Liverpool, Brescia, Roma, Napoli, Jena e poi ci sarà il nostro corso SEM ad Ottobre.
Scrivi una e-mail a info@m-s.it per partecipare al workshop Delong Instruments a Napoli dal 21 al 25 Settembre e al nostro corso SEM il 20 e 21 Ottobre.

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Applicazioni LVEM: Polimeri

Dai composti sintetici come le moderne plastiche e gomme, fino alle sostanze naturali come l’ambra e il caucciù, i polimeri costituiscono una classe di materiali straordinariamente variegata.

Oggi, con l’avvento e la crescente centralità della nano-strutturazione, l’analisi approfondita della loro morfologia, del comportamento di fase e delle loro proprietà fondamentali

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SEM microscopia elettronica microscopio elettronico
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Il contrasto di potenziale nel SEM

Nell’analisi dei dispositivi elettronici esistono situazioni in cui osservare la sola morfologia o la composizione chimica di un campione non è sufficiente. Un circuito integrato può apparire perfettamente integro al microscopio elettronico, senza evidenti difetti strutturali, eppure non funzionare correttamente. In questi casi diventa fondamentale capire se ogni linea conduttrice,

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critical point dryer
Articoli Tecnici

Critical Point Dryer

Il Critical Point Dryer (CPD) è uno strumento utilizzato per essiccare campioni biologici e non biologici in modo da preservarne la struttura tridimensionale originale, evitando i danni causati dalla tensione superficiale dell’acqua durante l’essiccamento convenzionale.

Il principio su cui si basa il CPD è il raggiungimento del “punto critico”, ovvero

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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