Oxford Instruments

Soluzioni Oxford Instruments per EDS, EBSD, WDS

Oxford Instruments Nano Analysis sviluppa strumenti all’avanguardia per la caratterizzazione dei materiali e la manipolazione dei campioni su scala nanometrica. Le sue soluzioni avanzate, utilizzate su microscopi elettronici (SEM e TEM) e sistemi a fasci di ioni (FIB), trovano applicazione in settori come semiconduttori, energie rinnovabili, estrazione mineraria, metallurgia e medicina legale.

Specializzata in tecniche di microanalisi come EDS, EBSD e WDS, Oxford Instruments Nano Analysis garantisce prestazioni elevate per la ricerca e lo sviluppo sia in ambito accademico che industriale. Media System Lab è partner per l’Italia e opera anche in Europa, fornendo supporto tecnico e commerciale di alto livello.

Strumenti Oxford Instruments Nano Analysis per EDS, EBSD, WDS

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

flim, flim labs
Articoli Tecnici

FLIM LABS introduces its first “Solid FLIM Calibration Standard”

Did you know that precision in FLIM has never been this simple?
FLIM LABS continues its mission to democratise FLIM technology by introducing the FLIM-Phasors Calibration Kit, its first solid calibration standard.
The innovative FLIM LABS kit includes a monoexponential decay reference sample (2.5 ns) and a Convallaria

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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microscopio elettronico a trasmissione, microscopia elettronica, tem , stem, preparativa dei campioni
Articoli Tecnici

Microscopia elettronica Low Voltage

Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.

E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.

Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto

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media system lab
Notizie

Dal 1998, 28 anni, oggi.

Media System Lab, 28 anni oggi.

Abbiamo molti ricordi chiusi in ampolle di cristallo vicino al nostro personale “pensatoio” e come Albus Silente ne apriamo una alla volta per rivivere le nostre esperienze.

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tribologia
Application Note

Indagini tribologiche con SEM-EDS

La combinazione SEM-EDS rivoluziona l’approccio tribologico, unendo morfologia superficiale e chimica micro e nanometrica per una failure analysis accurata e predittiva, anche in situ.

I casi studio dimostrano la sua straordinaria versatilità: permette di identificare l’origine esatta delle fratture, mappare il degrado nei polimeri e analizzare oli lubrificanti a temperature

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