Oxford Instruments

Soluzioni Oxford Instruments per EDS, EBSD, WDS

Oxford Instruments Nano Analysis sviluppa strumenti all’avanguardia per la caratterizzazione dei materiali e la manipolazione dei campioni su scala nanometrica. Le sue soluzioni avanzate, utilizzate su microscopi elettronici (SEM e TEM) e sistemi a fasci di ioni (FIB), trovano applicazione in settori come semiconduttori, energie rinnovabili, estrazione mineraria, metallurgia e medicina legale.

Specializzata in tecniche di microanalisi come EDS, EBSD e WDS, Oxford Instruments Nano Analysis garantisce prestazioni elevate per la ricerca e lo sviluppo sia in ambito accademico che industriale. Media System Lab è partner per l’Italia e opera anche in Europa, fornendo supporto tecnico e commerciale di alto livello.

Strumenti Oxford Instruments Nano Analysis per EDS, EBSD, WDS

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

Notizie

Un Settembre pieno di eventi

A Settembre, saremo a Liverpool, Brescia, Roma, Napoli, Jena e poi ci sarà il nostro corso SEM ad Ottobre.
Scrivi una e-mail a info@m-s.it per partecipare al workshop Delong Instruments a Napoli dal 21 al 25 Settembre e al nostro corso SEM il 20 e 21 Ottobre.

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LVEM delong instruments
Articoli Tecnici

Applicazioni LVEM: Polimeri

Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.

E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.

Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto

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SEM microscopia elettronica microscopio elettronico
Articoli Tecnici

Il contrasto di potenziale nel SEM

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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critical point dryer
Articoli Tecnici

Critical Point Dryer

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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flim, flim labs
Articoli Tecnici

FLIM LABS introduces its first “Solid FLIM Calibration Standard”

Did you know that precision in FLIM has never been this simple?
FLIM LABS continues its mission to democratise FLIM technology by introducing the FLIM-Phasors Calibration Kit, its first solid calibration standard.
The innovative FLIM LABS kit includes a monoexponential decay reference sample (2.5 ns) and a Convallaria

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