Tousimis

Strumenti e prodotti chimici Tousimis di alta qualità per la microscopia elettronica

Tousimis Research Corporation è un’azienda specializzata nella produzione e distribuzione di strumenti e materiali di alta qualità per la microscopia elettronica e la ricerca scientifica. Fondata nel 1962 dal pioniere scientifico Dr. A. J. Tousimis, l’azienda ha sempre avuto l’obiettivo di sviluppare e perfezionare strumentazione e prodotti destinati ai laboratori di analisi avanzata.

Oggi Tousimis offre una vasta gamma di strumenti per la microscopia elettronica, tra cui Critical Point Dryers e accessori per la preparazione dei campioni, oltre a prodotti chimici ultrapuri di grado TEM, sviluppati con metodi di purificazione proprietari per garantire la massima affidabilità. L’azienda è anche leader nella fornitura di standard di riferimento per la microanalisi a raggi X, utilizzati da settori come l’industria aeronautica, automobilistica e siderurgica.

Tousimis si distingue per la qualità e la durabilità dei suoi prodotti, come dimostra il primo Critical Point Dryer venduto dall’azienda, ancora perfettamente funzionante dopo 25 anni. Ogni strumento è progettato per garantire risultati riproducibili e costanti, offrendo ai laboratori soluzioni innovative e affidabili per le loro ricerche.

Tousimis Research Corporation produce strumenti e reagenti di alta qualità per la microscopia elettronica e la microanalisi a raggi X

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

lightsheet, biologia, organoidi
Application Note

Light Sheet Happens

The ability to visualize biological specimens in three dimensions (like organoids) has become increasingly important across many areas of life science research. From neuroscience and developmental biology to oncology and organoid research, understanding the spatial organization of cells and tissues often requires imaging beyond the limitations of conventional two-dimensional microscopy

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stem sem feg, microscopio elettronico a scansione
Articoli Tecnici

STEM in FE-SEM

L’aggiunta di un detector STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) ad un SEM con sorgente ad emissione di campo, (SEM-FEG) amplia ulteriormente la tipologia di campioni e di analisi accessibili, mantenendo la flessibilità e la relativa semplicità d’uso del SEM, ma aggiungendo modalità di contrasto e di analisi tipiche della microscopia

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uni Napoli vanvitellli
Notizie

Università degli Studi della Campania “Luigi Vanvitelli”

Oggi pubblichiamo una breve intervista con il Prof. Vincenzo Carafa dell’Università degli Studi della Campania “Luigi Vanvitelli”, cliente del supporto service di Media System Lab, conosciamo la sua attività e il supporto che negli anni Media System Lab ha portato al suo gruppo di lavoro.”

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portfolio sem ciqtek
Notizie

IMC 21 a Liverpool

Dal 31 Agosto al 4 Settembre a Liverpool si terrà il più importante congresso dedicato alla microscopia al mondo: International Microscopy Congress.

Media System Lab ha numerosi business partner nell’elenco degli espositori e che quindi potrete incontrare a Liverpool se avrete la fortuna come noi di visitare il Liverpool Experience

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corso SEM, microscopia elettronica a scansione, formazione
Notizie

Un Settembre pieno di eventi

A Settembre, saremo a Liverpool, Brescia, Roma, Napoli, Jena e poi ci sarà il nostro corso SEM ad Ottobre.
Scrivi una e-mail a info@m-s.it per partecipare al workshop Delong Instruments a Napoli dal 21 al 25 Settembre e al nostro corso SEM il 20 e 21 Ottobre.

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