La tomografia a sonda atomica (APT) è l’unica tecnica di analisi dei materiali che offre ampie funzionalità sia per l’imaging 3D che per le misurazioni della composizione chimica su scala atomica (circa 0,1-0,3 nm di risoluzione in profondità e 0,3-0,5 nm lateralmente). Sin dai suoi primi sviluppi, APT ha contribuito a importanti progressi nella scienza dei materiali.
La tomografia a sonda atomica (APT o 3D Atom Probe) è l’unica tecnica di analisi dei materiali che offre ampie funzionalità sia per l’imaging 3D che per le misurazioni della composizione chimica su scala atomica (circa 0,1-0,3 nm di risoluzione in profondità e 0,3-0,5 nm lateralmente).
Sin dai suoi primi sviluppi, la tomografia a sonda atomica ha contribuito a importanti progressi nella scienza dei materiali. Il campione viene preparato sotto forma di una punta molto acuminata. La punta raffreddata è polarizzata ad alta tensione CC (3-15 kV). Il raggio molto piccolo della punta e l’alta tensione inducono un campo elettrostatico molto elevato (decine V / nm) sulla superficie della punta, appena sotto il punto di evaporazione dell’atomo. Sotto impulso laser o HV, uno o più atomi vengono evaporati dalla superficie, per effetto di campo (vicino al 100% di ionizzazione) e proiettati su un rilevatore di posizione sensibile (PSD) con un’efficienza di rilevamento molto elevata.
L’efficienza degli ioni raggiunge l’80%, la massima efficienza analitica di qualsiasi microscopia 3D.
