Il C-Nano+ è un rivelatore EBSD progettato per tutti i tipi di materiali e applicazioni. Utilizzando un sensore CMOS personalizzato, il C Nano+ offre una velocità di acquisizione massima superiore a 600 pps con pattern di risoluzione eccezionale di 312 x 256 pixel: ciò lo rende circa 5-6 volte più veloce di rivelatori analoghi basati su CCD, utilizzando pattern con un numero di pixel almeno 4 volte superiore. Il risultato è una prestazione di cui ci si può fidare, con un’eccellente qualità dei dati anche sui materiali più difficili.
Il design a fibre ottiche senza lenti del C-Nano+ garantisce una sensibilità eccellente e livelli di distorsione inferiori al pixel, rendendo questo rivelatore ideale per le analisi dettagliate delle deformazioni, per le quali sono necessari pattern eccellenti e ad alta definizione.
Le massime velocità di analisi possono essere raggiunte utilizzando correnti di fascio molto basse (inferiori a 3 nA), mentre la modalità a piena risoluzione offre una sensibilità massima di 900 pps / nA, consentendo analisi dettagliate e di successo di materiali sensibili al fascio e nanocristallini.
Il C Nano+ beneficia anche delle molteplici caratteristiche di progettazione esclusive dell’intera gamma di rivelatori CMOS di Oxford Instruments, tra cui il sensore di prossimità che aiuta a evitare collisioni indesiderate e costose prima che si verifichino. Si tratta di un rivelatore di cui ci si può fidare per ottenere i risultati desiderati, sempre.
Il detector C Nano+ è il rivelatore ad alte prestazioni con tecnologia CMOS per tutti:
- Velocità di indicizzazione garantita di 600 pps con una corrente di fascio di soli 3 nA
- Risoluzione del pattern di 312 x 256 pixel alla massima velocità – 4 volte più pixel di un rilevatore CCD sensibile a velocità comparabili
- Pattern a piena risoluzione megapixel (1244 x 1024 pixel) – ideale per le analisi di deformazione con EBSD ad alta risoluzione
- Distorsione sub-pixel garantita, che assicura una precisione angolare migliore di 0,05°
- Estrema sensibilità fornita dalle fibre ottiche e da uno schermo al fosforo ottimizzato, che assicura pattern di alta qualità a basse dosi e basse energie del fascio, con conseguente massima risoluzione spaziale
- Integrazione EDS senza soluzione di continuità anche alle velocità più elevate
- Interfaccia SEM a soffietto, per mantenere l’integrità del vuoto del microscopio
- Sensore di prossimità unico nel suo genere: rileva potenziali collisioni prima che si verifichino e sposta automaticamente il rivelatore in una posizione sicura
- Impostazioni del rivelatore semplici e intuitive, per garantire sempre risultati ottimali
- Cinque rivelatori forescatter integrati (opzionali), che forniscono immagini a colori a contrasto di canalizzazione complementare e a contrasto di numero atomico
App. Notes
