Il C-Swift+ è un detector EBSD ad alta produttività, leader nella sua categoria. Come il rivelatore Symmetry S3, il C-Swift+ utilizza un sensore CMOS personalizzato accoppiato a fibre ottiche, per offrire velocità e sensibilità, garantendo risultati di alta qualità anche sui materiali più difficili.
La velocità massima di 2000 pps del C-Swift+ è raggiunta con una buona risoluzione del pattern (156 x 128 pixel), che rappresenta un numero di pixel 4 volte superiore a quello utilizzato da un analogo rivelatore basato su CCD che opera a velocità molto più basse, garantendo un’indicizzazione affidabile, un’alta percentuale di hit e un’impressionante produttività su tutti i tipi di campioni. L’ottica priva di distorsioni, in collaborazione con i potenti algoritmi di indicizzazione del software AZtec, consente al C-Swift+ di fornire un’eccellente precisione angolare inferiore a 0,05°. Per le applicazioni che richiedono pattern di qualità superiore, il C-Swift+ può raccogliere pattern da 622 x 512 pixel a velocità fino a 250 pps, rendendolo ideale per campioni multifase complessi e analisi di fase dettagliate.
Si tratta di un rivelatore progettato per una caratterizzazione rapida ed efficace dei campioni. Ogni componente del sistema, dall’esclusivo sensore di prossimità ai rivelatori forescatter integrati opzionali, è stato progettato per massimizzare le prestazioni e la facilità d’uso e per rendere l’EBSD uno strumento standard in ogni laboratorio.
Il rilevatore C-Swift+ stabilisce un nuovo standard quando la velocità è fondamentale:
- Velocità di indicizzazione garantita di > 2000 pps con una corrente di fascio di soli 8 nA
- Eccezionale sensibilità fornita da fibre ottiche e da uno schermo al fosforo ottimizzato, che assicura pattern di alta qualità a basse dosi e basse energie del fascio, con conseguente massima risoluzione spaziale
- Risoluzione del pattern di 156 x 128 pixel alla massima velocità – 4 volte più pixel rispetto a un rivelatore CCD veloce che opera a velocità inferiori
- Pattern a piena risoluzione (622 x 512) – ideale per analisi dettagliate di fase e deformazione
- Ottica a bassa distorsione, che garantisce una precisione angolare migliore di 0,05°
- Integrazione EDS senza soluzione di continuità anche alle velocità più elevate
- Interfaccia SEM a soffietto, per mantenere l’integrità del vuoto del microscopio
- Sensore di prossimità unico nel suo genere: rileva potenziali collisioni prima che si verifichino e sposta automaticamente il rivelatore in una posizione sicura
- Impostazioni del rivelatore semplici e intuitive, per garantire sempre risultati ottimali
- Cinque rivelatori forescatter integrati (opzionali), che forniscono immagini a colori a contrasto di canalizzazione complementare e a contrasto di numero atomico.
App. Notes
