Cameca - SIMS, APT, EPMA, LEXES

Cameca

APT – Tomografia atomica

Cameca SIMS IMS 7f-Auto

Cameca APT Invizo 6000

Cameca APT – EIKOS

Cameca APT – LEAP 6000 XR

Cameca EPMA – SKAPHIA

EPMA – SXFive

SIMS – SIMS schermato

Cameca SIMS 4550

Cameca SIMS – IMS Wf & SC Ultra

Cameca SIMS – NanoSIMS 50 L

Cameca SIMS – KLEORA

Cameca SIMS – IMS 1300-HR³

Cameca SIMS – IMS 7f-GEO

LEXES

EPMA – Microanalisi elettronica

SIMS – Spettrometri di massa a ioni secondari

REMET – Tecnologia avanzata per l'osservazione e lo studio dei campioni.

Strumenti avanzati di RMC Boeckeler per la preparazione di campioni in microscopia elettronica e ricerca scientifica

CIQTEK – Azienda specializzata in strumenti scientifici di alta precisione per l'analisi dei materiali e delle proprietà fisiche

Vac Coat, azienda specializzata in sistemi di rivestimento sottovuoto PVD per ricerca e preparazione di campioni SEM

Strumento Edax per microanalisi EDS, EBSD e WDS

Strumenti Bruker per analisi EDS, WDS ed EBSD su microscopi elettronici

Strumentazione CAMECA per microanalisi e metrologia avanzata

Sistemi di soppressione dei campi magnetici Spicer Consulting

Strumenti Oxford Instruments Nano Analysis per EDS, EBSD, WDS

Microscopi elettronici a trasmissione TEM da banco Delong Instruments

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