L’EBSD (Electron Backscatter Diffraction) è una tecnica avanzata per l’analisi microstrutturale quantitativa al microscopio elettronico a scansione (SEM). Permette di studiare l’orientazione cristallografica, la distribuzione dei grani e le deformazioni nei materiali, su scala millimetrica o nanometrica.
Ideale per applicazioni in scienze dei materiali, metallurgia e semiconduttori, l’EBSD fornisce dati essenziali per la caratterizzazione dei materiali e il controllo qualità.
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