Il WDS (Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry) è una tecnica avanzata per l’analisi elementare che sfrutta i raggi X caratteristici emessi da un campione colpito da un fascio di elettroni.
Utilizzata per identificare e quantificare elementi con precisione micrometrica, permette di ottenere mappe dettagliate della distribuzione elementare sulla superficie del campione.
Rispetto all’EDS, comunemente usata nei SEM, la WDS offre una maggiore risoluzione spettrale, riducendo le sovrapposizioni tra i picchi e migliorando l’accuratezza dell’analisi.
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