Una delle caratteristiche più sorprendenti dei microscopi a trasmissione compatti di Delong Instruments riguarda indubbiamente le loro dimensioni contenute. Di fatto, dal confronto con microscopi a trasmissione convenzionali, è lampante la differenza in termini di spazio occupato dalle due tipologie di strumenti. La possibilità di produrre tali microscopi a trasmissione compatti è stata concretizzata grazie a lunghi studi, i quali hanno permesso la messa a punto di specifiche colonne elettron-ottiche basate sull’utilizzo di lenti a magneti permanenti.
Questo particolare tipo di lenti differisce dalle lenti magnetiche abitualmente utilizzate all’interno dei microscopi elettronici convenzionali. Quest’ultime infatti sono essenzialmente costituite da una parte interna in ferro di simmetria cilindrica con un foro centrale, chiamata pezzo polare, e da una bobina di rame che avvolge il pezzo polare. Quando la lente è in funzione, la bobina è percorsa da corrente che induce un campo magnetico in prossimità del foro del pezzo polare. A seconda dell’intensità della corrente, varia l’intensità del campo magnetico indotto e, di conseguenza, l’effetto sul fascio di elettroni che attraversa la lente. Tuttavia, il dimensionamento delle lenti elettromagnetiche dev’essere da tale da permettere la dissipazione del calore generato dal passaggio di corrente nella bobina, ottenuta tramite un adeguato sistema di raffreddamento composto da una serpentina in cui circola acqua.
Le lenti a magneti permanenti impiegate nei microscopi a trasmissione compatti di Delong Instruments sono costituite da particolari leghe magnetiche che producono un campo magnetico costante nel tempo, da cui il nome magneti permanenti. Questo di fatto permette di realizzare lenti dalle dimensioni molto contenute, non necessitando di sistemi di raffreddamento, dato che non vi è alcuna corrente che circola all’interno della lente stessa. D’altro canto, trattandosi di un campo magnetico costante, è necessario lavorare a precisi valori di tensione di accelerazione, in modo tale da ottimizzare l’intero schema elettron-ottico del microscopio.
