05. Cameca -SIMS, APT, EPMA, LEXES

05. Cameca -SIMS, APT, EPMA, LEXES

Atom Probe che consente la nanoanalisi 3D di routine e ad alte prestazioni sia per la ricerca che per l'industria

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APT – EIKOS

Microscopio a sonda atomica 3D con prestazioni analitiche sub-nanometriche 3D senza pari

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APT – LEAP 5000

Soluzione metrologica compositiva per semiconduttori front-end per nodo 22nm e oltre

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LEXES – EX 300

MicroAnalyzer con sonda elettronica protetta per campioni radioattivi

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EPMA – SKAPHIA

La microelica elettronica che porta l'EPMA a portata di mano

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EPMA – SXFive-TACTIS

EPMA a emissione di campo per analisi quantitativa ad alta risoluzione e mappatura a raggi X.

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EMPA – SXFive FE

Micro analizzatore di sonde elettroniche per materiali e geoscienze

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EPMA – SXFive

Strumento SIMS ad alte prestazioni per l'analisi di campioni radioattivi

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SIMS – SIMS schermato

Il CAMECA SIMS 4550 offre funzionalità estese per profilature di profondità, elementi in tracce e misure di composizione di strati sottili in Si, high-k, SiGe e altri materiali composti come III-V per dispositivi ottici.

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SIMS – SIMS 4550

SIMS a basso consumo energetico ad alte prestazioni per applicazioni avanzate a semiconduttore

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SIMS – IMS Wf & SC Ultra

nanosims, NanoSIMS 50L è un'esclusiva microelica ionica che ottimizza le prestazioni dell'analisi SIMS ad alta risoluzione laterale. Si basa su un design ottico coassiale del fascio ionico e sull'estrazione di ioni secondari e su un analizzatore di massa del settore magnetico originale con multi-collettore.

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SIMS – NanoSIMS 50 L

cameca, SIMIS, APT, LEXES, EPMA, chimica, analisi chiica, elementi chimici

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SIMS – KLEORA

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SIMS – IMS 1300-HR³

SIMS compatta, per scienze della terra. IMS 7f-GEO è un modello SIMS appositamente progettato per eseguire misurazioni ad alta precisione ed elevata produttività in campioni geologici, ovvero isotopi stabili, Elementi di terre rare, elementi in traccia. Viene anche utilizzato per analisi delle scienze dei materiali e studi ambientali.

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SIMS – IMS 7f-GEO

cameca, SIMS, Strumento SIMS versatile: sensibilità di rilevamento di riferimento con throughput elevato e automazione completa

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SIMS – IMS 7f-Auto

LEXES, UPM, analisi chimica, wafer, Cameca

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LEXES

EPMA; cameca, analisi chimica,

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EPMA – Microanalisi elettronica

Atem probe, sonda, tomografia a sonda atomica, cameca

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APT – Tomografia atomica

SIMS; cameca, ppb, elementi, chimica

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SIMS – Spettrometri di massa a ioni secondari

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