Cameca APT – LEAP 6000 XR

Compatibile con Microtip e in grado di utilizzare funzionalità di automazione avanzate, LEAP 6000 XR di CAMECA offre una resa migliorata e una maggiore sensibilità per le vostre applicazioni di ricerca.

Introduce una nuova modalità operativa che applica contemporaneamente al campione sia un impulso laser che un impulso di tensione.
Poiché la maggior parte dello sfondo spettrale è causata dall’evaporazione fuori tempo dovuta alla tensione permanente, ciò si traduce in uno sfondo significativamente inferiore durante l’esperimento.

• Lunghezza d’onda del laser UV profonda che fornisce una resa migliorata e una ricostruzione più accurata
• Tensione sincrona più funzionamento a impulsi laser (VLP) che si traduce in una maggiore sensibilità e una più facile identificazione dei picchi
• Automazione LEAP che consente il funzionamento fuori orario e non presidiato per un più rapido ritorno sull’investimento

• Guarda qui il webinar: "An Introduction to Atom Probe Tomography and Catalytic Applications"
• Guarda qui il webinar: "Introduction of 6000 generation : Invizo 6000 & LEAP 6000 XR"
• Guarda qui il webinar: "High Impact Research: Composition metrology and correlative microscopy of wide bandgap semiconductors with APT"
• Guarda qui il webinar: "What to Expect When You're Expecting an Atom Probe"
• Guarda qui il webinar: "An Introduction to Atom Probe Tomography and its Applications"