Atom Probe che consente la nanoanalisi 3D di routine e ad alte prestazioni sia per la ricerca che per l’industria
Basandosi su 30 anni di successi nella strumentazione e nell’applicazione della tomografia atomica della sonda atomica, CAMECA ha sviluppato EIKOS ™, il microscopio Atom Probe per lo sviluppo rapido di leghe e la ricerca di materiali su nanoscala.
La sonda atomica EIKOS offre:
- Tomografia tridimensionale con caratterizzazione su scala nanometrica di microstrutture
- Rilevazione di singoli atomi ad alta risoluzione spaziale con alta efficienza
- Pari sensibilità a tutti gli elementi e ai loro isotopi
- Misura quantitativa della composizione (da sub-nm a quasi micron)
- Disponibile in voltaggio o voltaggio e configurazioni laser
- Metodi standard di preparazione dei campioni
