Il CAMECA SIMS 4550 offre funzionalità estese per profilature di profondità, elementi in tracce e misure di composizione di strati sottili in Si, high-k, SiGe e altri materiali composti come III-V per dispositivi ottici.
Il CAMECA SIMS 4550 offre funzionalità estese per profilature di profondità, elementi in tracce e misure di composizione di strati sottili in Si, high-k, SiGe e altri materiali composti come III-V per dispositivi ottici.
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