Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
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Le sorgenti di elettroni: differenze tra emissione di campo a catodo freddo ed emissione di campo a catodo caldo
Le sorgenti di elettroni: differenze tra emissione di campo a catodo freddo ed emissione di campo a catodo caldo
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti a emissione di campo
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti a emissione di campo
Service informatico in microscopia
Con il progredire delle tecnologie, l’utilizzo dei personal computer ha assunto una rilevanza preponderante nelle attività quotidiane, sia in ambito lavorativo dove lo scambio continuo di email, le riunioni in videoconferenza e l’impiego di programmi per la preparazione di progetti e documenti sono all’ordine del giorno, che nella vita privata per lo svago e la […]
Ingrandimento e campo visivo al SEM
Come possiamo fidarci della misura riportata sulla “scale bar” di ogni SEM? Media System Lab fornisce standard certificati e tracciabili con cui è possibile verificare ed eventualmente ricalibrare la dimensione dell’immagine visualizzata al microscopio elettronico. Durante l’acquisizione di un’immagine, lo scan generator del SEM deflette il fascio elettronico sul campione, mentre i detector SE e BSE raccolgono gli elettroni secondari e retrodiffusi per ogni posizione x, y del fascio.
