Ball Grid Array e analisi al SEM
I componenti BGA, fondamentali in elettronica avanzata, richiedono tecniche precise per l’analisi delle saldature. In questo articolo scopriamo come la lucidatura a ioni (con strumenti come il Coxem CP-8000+) permette di ottenere superfici prive di stress meccanici, ideali per immagini ad alto contrasto al microscopio elettronico a scansione (SEM). Confrontiamo metodi tradizionali e innovativi per una failure analysis affidabile.
Università di Torino, Dipartimento di Fisica
Il Prof. Vittone racconta come la microscopia elettronica e il supporto tecnico di Media System Lab siano strumenti essenziali per la ricerca su materiali semiconduttori, fisica del diamante e tecnologie quantistiche presso l’Università di Torino.
NanoInnovation 2024
Il Congresso di microscopia elettronica italiano NanoInnovation 2024 si svolgerà a Roma dal 9 al 13 Settembre e Media System Lab ci sarà. Saremo presenti anche con uno dei nuovi SEM Ciqtek che sarà a disposizione di chiunque vorrà testarlo durante gli orari di apertura del Congresso ed è già possibile prenotare live demo chiamando […]
Metodi non distruttivi di ricostruzione 3D al SEM
Se analizzati con le opportune tecniche analitiche (ad es. Microscopia elettronica a scansione), un numero inaspettatamente elevato di impianti dentali non mantiene la promessa di pulizia che dovrebbe essere garantita da un dispositivo medico in confezione sterile.
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Analisi SEM su grassello di calce in sospensione acquosa
Analisi SEM su grassello di calce in sospensione acquosa
Failure analysis su PCB: nel labirinto del Minotauro
Failure analysis su PCB
