Nuovo Corso EDS a Rovereto – SOLD OUT!
Il 14 e 15 Maggio, presso il nostro ufficio situato nella Be Factory di Rovereto, avremo il piacere di ospitare un corso innovativo sulla Microanalisi a dispersione di energia (EDS). Guidato dai nostri esperti di EDS e Microscopia elettronica a scansione, il corso promette di offrire un’esperienza intensiva e informativa.
Il programma del corso è stato attentamente strutturato per offrire una panoramica completa delle fondamenta e delle tecniche avanzate nell’ambito della microanalisi. Si inizia con un’analisi dell’interazione elettrone-materia, seguita dall’approfondimento dei componenti di un sistema EDS e della preparazione dei campioni per l’analisi.
Attraverso sessioni teoriche e pratiche, i partecipanti esploreranno le tecniche di analisi elementare qualitativa e quantitativa, inclusi approcci con e senza standard reali/virtuali. Saranno inoltre esaminate strategie per affrontare la disomogeneità nei campioni e per ottimizzare l’analisi chimica.
Il corso culminerà in sessioni pratiche al SEM-EDS, in cui metteremo in pratica le informazioni teoriche discuteremo i risultati ottenuti. Le sessioni di domande e risposte forniranno ulteriore chiarezza e approfondimento su argomenti specifici.
Da notare che il corso è a numero chiuso, garantendo un’attenzione personalizzata a ciascun partecipante. Il costo dell’iscrizione include i pranzi e il pernottamento in hotel, offrendo un’esperienza completa e confortevole. Inoltre, i clienti SEM Media System Lab potranno beneficiare di un significativo sconto sull’iscrizione, come segno del nostro apprezzamento per la loro fiducia e collaborazione.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
C’è un nuovo detector che rivoluzionerà le tue analisi al SEM, è di Oxford Instruments ed è il primo al mondo a combinare segnali di elettroni retrodiffusi e raggi X 🔬 per produrre immagini a colori ad alta definizione con dati elementari.
Mappe Chimiche qualitative o semiquantitative?
SEM EDS Mappe Chimiche qualitative o semiquantitative?
Analisi GSR (Gun Shot Residue) secondo la normativa ASTM E1588-20
Analisi GSR (Gun Shot Residue) secondo la normativa ASTM E1588-20
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
SEM+EDS per l’Automotive conformi ISO 16232 e VDA 19
Nell’ambito della Cleanliness, prodotti e materiali vengono controllati seguendo i metodi di prova specificati nelle norme ISO 16232 e VDA 19. In particolare, la fase di analisi e conteggio delle particelle contaminanti ottenute dopo le fasi di estrazione e filtrazione, può essere eseguita impiegando diverse tecniche analitiche. L’utilizzo della tecnica SEM-EDS (Microscopio elettronico a scansione accessoriato con Microanalisi) rispetto all’osservazione con microscopio ottico porta numerosi vantaggi, tra cui la possibilità di rilevare particelle inferiori al micron e la capacità di ottenere con un’unica analisi automatizzata il conteggio, la misurazione e l’identificazione chimica di tutte le particelle presenti su un filtro.
