Analisi delle strutture metallorganiche (MOFs) in polvere

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la composizione e la microstruttura delle polveri delle materie prime influenzano le proprietà finali dei materiali. La distribuzione granulometrica delle particelle, la forma, la porosità e la superficie specifica delle polveri possono corrispondere a ben precise e peculiari proprietà del materiale. Pertanto la verifica e il controllo della materia prima in polvere è un prerequisito fondamentale.
Nel settore della catalisi, la realizzazione di materiali metallorganici (MOFs) per migliorare le prestazioni catalitiche superficiali è diventata oggi uno dei temi di ricerca più studiati. Scopriamo come il SEM può contribuire allo studio e allo sviluppo di questi materiali

Il SEM per lo studio della texture delle celle fotovoltaiche

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Nel settore delle energie rinnovabili, i sistemi per la produzione di energia solare fotovoltaica (PV) rivestono da molti anni un ruolo di primo piano. In quanto componente centrale della produzione di energia fotovoltaica, le celle PV sono sempre oggetto di sviluppo e ottimizzazione. Il microscopio elettronico a scansione (SEM) svolge un ruolo fondamentale sia nell’ambito R&D che in quello del miglioramento del processo produttivo delle celle fotovoltaiche.

Detto in maniera molto sintetica, una cella PV è un sottile foglio (wafer) di materiale semiconduttore in grado di convertire l’energia solare in energia elettrica. Le celle fotovoltaiche attualmente in commercio e prodotte in serie sono principalmente celle in silicio, che si dividono in celle in silicio monocristallino, celle in silicio policristallino e celle in silicio amorfo.

Nell’attuale processo di produzione delle celle fotovoltaiche, al fine di migliorare ulteriormente l’efficienza di conversione energetica, sulla superficie della cella viene solitamente realizzata una speciale struttura texturizzata. Nello specifico, la texture sulla superficie di queste celle incrementa l’assorbimento della luce grazie all’aumentato numero di riflessioni della luce irradiata sulla superficie del wafer di silicio. Questa particolare texture non solo riduce la riflettività finale della superficie, ma crea anche “trappole di luce” all’interno della cella, aumentando così in modo significativo l’efficienza di conversione della cella stessa, anche a diversi angoli di incidenza (Fig.1). Rispetto ad una superficie piana, infatti, un wafer di silicio con struttura superficiale piramidale ha una maggiore probabilità che la componente riflessa dalla luce incidente agisca nuovamente sulla superficie del wafer anziché riflettersi in aria, consentendo l’assorbimento di più fotoni e fornendo dunque più coppie elettrone-lacuna.

Analisi dei materiali ceramici con microscopia elettronica a scansione

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I materiali ceramici presentano una serie di proprietà tra cui elevato punto di fusione, elevata durezza, ottima resistenza all’usura e resistenza all’ossidazione, e per questo sono ampiamente utilizzati in svariati settori come l’industria elettronica, automobilistica, tessile, chimica e aerospaziale. Le proprietà fisiche dei materiali ceramici dipendono in gran parte dalla loro microstruttura, che è possibile caratterizzare grazie all’osservazione al SEM.

I materiali ceramici sono una classe di materiali inorganici non metallici realizzati a partire da composti naturali o sintetici mediante formatura e sinterizzazione ad alta temperatura, e possono essere suddivisi in materiali ceramici generali e materiali ceramici speciali.

I materiali ceramici speciali possono essere a loro volta classificati o in base alla composizione chimica: ceramiche su base ossidi, nitruri, carburi, boruri, siliciuri, ecc.; oppure in base alle loro caratteristiche e applicazioni: ceramiche strutturali e ceramiche funzionali.

Il posto dei microscopisti

Siamo così come ci vedi: trasparenti e pieni di passione per il nostro lavoro. Essere affidabili è un obiettivo che ogni membro del nostro team sente suo e ci impegniamo per poter garantire sempre il meglio ai nostri clienti: la nostra professionalità è il nostro biglietto da visita!
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Profondità di campo

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La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.

Metodi non distruttivi di ricostruzione 3D al SEM

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Se analizzati con le opportune tecniche analitiche (ad es. Microscopia elettronica a scansione), un numero inaspettatamente elevato di impianti dentali non mantiene la promessa di pulizia che dovrebbe essere garantita da un dispositivo medico in confezione sterile.

Ingrandimento e campo visivo al SEM

Come possiamo fidarci della misura riportata sulla “scale bar” di ogni SEM? Media System Lab fornisce standard certificati e tracciabili con cui è possibile verificare ed eventualmente ricalibrare la dimensione dell’immagine visualizzata al microscopio elettronico. Durante l’acquisizione di un’immagine, lo scan generator del SEM deflette il fascio elettronico sul campione, mentre i detector SE e BSE raccolgono gli elettroni secondari e retrodiffusi per ogni posizione x, y del fascio.

Identificazione automatica di fibre per l’analisi di amianto e FAV

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L’analisi automatizzata di fibre di amianto e fibre artificiali vetrose (FAV) mediante microscopio elettronico a scansione (SEM) e microanalisi a dispersione di energia (EDS) rappresenta un’innovativa implementazione della tecnica che consente di caratterizzare campioni in modo rapido e affidabile e sono molti i laboratori qualificati dal Ministero della Salute che la usano per identificare e quantificare la presenza di amianto nei campioni ambientali. Nello specifico consente di misurare la quantità, la morfologia e la composizione di fibre sospette costituite ad esempio da asbesto o da lane minerali utilizzate come isolanti nell’edilizia e in altre applicazioni.