BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
C’è un nuovo detector che rivoluzionerà le tue analisi al SEM, è di Oxford Instruments ed è il primo al mondo a combinare segnali di elettroni retrodiffusi e raggi X 🔬 per produrre immagini a colori ad alta definizione con dati elementari.
Uso degli standard per l’analisi EDS quantitativa
Dalle altezze relative dei picchi di uno spettro EDS è possibile ricavare informazioni di tipo quantitativo. Per poterlo fare è necessario correggere il valore dell’integrale di ciascun picco per tenere conto di diversi fattori che possono inficiare il calcolo, come ad esempio il valore del background o la parziale sovrapposizione di più picchi. Il software applica automaticamente gli opportuni algoritmi di correzione ed esegue un’analisi semi-quantitativa confrontando lo spettro ottenuto con un database di standard precaricato con i valori di fabbrica per l’analisi standardless (a 5 o 20 kV). Per migliorare la precisione del calcolo è possibile tuttavia utilizzare dei propri materiali standard di riferimento di cui sia nota l’esatta composizione chimica. I risultati migliori si hanno quando la composizione del campione e quella dello standard sono simili: in questo caso l’accuratezza della misura dipende solamente dalla catena di misura e dall’affidabilità delle concentrazioni dichiarate per lo standard. Se uno standard simile al campione non è disponibile, si impiegano standard “semplici” come elementi puri o ossidi. In questo caso l’interpretazione diventa meno precisa a causa dell’effetto matrice, che va quindi corretto applicando modelli matematici come il metodo ZAF (Z, numero atomico; A, coefficiente di assorbimento specifico; F, fluorescenza indotta).
Presentazione esclusiva Oxford Nanoanalysis a Rovereto
Oxford Instruments, in collaborazione con Media System Lab, è lieta di invitarvi al primo workshop in Europa di presentazione del nuovo rivelatore “Unity”, in uscita a giugno 2023. Il sistema BEX (Backscatter Electron and X-ray) è una tecnologia innovativa che visualizza informazioni sulla composizione da raggi X caratteristici in parallelo con gli elettroni retrodiffusi, fornendo […]
Dimmi che righe K, L, M hai e ti dirò che spettro sei
Chi si occupa di analisi mediante spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (#EDS o #EDX), è abituato ad usare la denominazione K, L, M per identificare le righe spettrali caratteristiche degli elementi della tavola periodica. Ma da dove arriva questa denominazione? Come possiamo sfruttare gli spettri EDS acquisiti per riconoscere automaticamente un materiale?
Microanalisi in microscopia elettronica? Chiedi agli esperti
La spettroscopia a dispersione di energia, dall’inglese Energy Dispersive Spectroscopy (EDS), è una tecnica potente e versatile; molto spesso, essa viene accoppiata alla microscopia elettronica così da massimizzarne i vantaggi ed espandere l’insieme dei possibili campi di applicazione.
