Microscopio elettronico a scansione con fascio ionico focalizzato FIB-SEM
CIQTEK DB500 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con una colonna di fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni, il quale è applicato con la tecnologia “SuperTunnel”, un design di lente obiettivo a bassa aberrazione e senza magneti, con capacità di bassa tensione e alta risoluzione che garantisce la sua capacità analitica a scala nanometrica. La colonna ionica facilita una sorgente ionica di metallo liquido Ga+ con un fascio ionico altamente stabile e di alta qualità per garantire la capacità di nano-fabbricazione.
Il DB500 è dotato di un nano-manipolatore integrato, sistema di iniezione di gas, meccanismo di anti-contaminazione elettrico per la lente obiettivo e 24 porte di espansione, rendendolo una piattaforma completa per l’analisi e la nano-fabbricazione con configurazioni e espandibilità complete.
