CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM, FEG SEM) ad alta risoluzione e ricco di funzionalità.
Il design avanzato della colonna, la tecnologia SuperTunnel, il design della lente obiettivo magnetica a bassa aberrazione consentono di ottenere immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, mentre possono essere analizzati campioni magnetici. Navigazione ottica, funzioni automatiche avanzate, ottima user experience e operatività ottimizzata.
• Imaging ad alta risoluzione a bassa tensione di accelerazione.
• L’electromagnetic compound mirror riduce le aberrazioni, migliora significativamente la risoluzione a basse tensioni e consente l’osservazione di campioni magnetici.
• Tecnologia di canalizzazione ad alta pressione (SuperTunnel), in cui gli elettroni nel tunnel possono mantenere alta energia, riducendo gli effetti della carica spaziale e garantendo la risoluzione a bassa tensione.
• Il percorso elettron-ottico senza crossover riduce efficacemente le aberrazioni del sistema e migliora la risoluzione.
• Lente obiettivo a temperatura costante raffreddata ad acqua, per garantire la stabilità, l’affidabilità e la ripetibilità del lavoro.
• Diaframma regolabile a sei fori con deflessione magnetica, commutazione automatica dei fori del diaframma, senza regolazione meccanica, per ottenere rapidamente l’osservazione ad alta risoluzione o la commutazione rapida in modalità di analisi a fascio largo.
| Key Parameters | Resolution | 0.9 nm @ 15 kV, SE
1.3 nm @ 1.0 kV, SE 0.8 nm @ 30 kV, STEM |
| Acceleration Voltage | 20 V ~ 30 kV | |
| Magnification | 1 ~ 2,500,000 x | |
| Electron Gun | High brightness Schottky Field Emission Electron Gun | |
| Sample Chamber | Vacuum System | Fully automatic control, oil-free vacuum system |
| Camera | Dual Cameras (Optical navigation + in-bin monitor) | |
| Distance | X: 125 mm, Y: 125 mm, Z: 50 mm
T: -10°～ +90°, R: 360° (*Optional extra-large bin version available) |
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| Detectors and Extensions | Standard | The high-angle electronic detector in the lens column
The side low-angle electronic detector |
| Optional | Flush-mounted mid-angle backscattered electron detector
Automatic retractable scanning transmission electron microscopy (STEM) detector Sample exchange chamber High-speed beam gate and electron beam exposure Energy dispersive spectroscopy (EDS/EDX) Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Electron-beam-induced current (EBIC) Cathodoluminescence (CL) High and low temperature in-situ stretching table nanoManipulator Large-Scale Image Stitching Trackball & Knob Control Panel |
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| Software | Operating System | Windows |
| Navigation | Optical Navigation, Gesture Quick Navigation | |
| Automatic Functions | Auto Brightness Contrast, Auto Focus, Automatic Dissipation |
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