Standard di calibrazione AFM / SPM e reticoli di prova

CS-20NG AFM XYZ standard di calibrazione, 20nm Z

La microscopia a forza atomica (AFM) è diventata uno strumento prezioso per l’imaging e misurazioni accurate su scala micrometrica e nanometrica. Per convalidare le capacità di misurazione, è necessario calibrare correttamente il sistema AFM. In questa pagina troverai una selezione di standard di calibrazione AFM convenienti e precisi per la calibrazione dell’asse Z e dell’asse X:

  • La serie HS con altezza Z calibrata 20nm, 100nm e 500nm offre anche la calibrazione X-Y per scanner più grandi nella gamma 40-100µm.
  • Lo standard di calibrazione CS con altezza Z di 20 nm consente inoltre la calibrazione dell’asse X su una dimensione dello scanner inferiore nell’intervallo µm.
  • Le strutture standard di calibrazione AFM serie CS e HS sono tutte fabbricate su un chip Si che è montato su un disco AFM in acciaio inossidabile da 12 mm con resina epossidica elettricamente conduttiva.

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