I sistemi FEI Teneo VolumeScope utilizzano stub di campionamento appositamente progettati con un perno di diametro 3,1 mm. I campioni montati su questi pin vengono utilizzati per il sezionamento seriale e l’imaging BSD seriale a blocchi seriali per creare dati di imaging 3D della struttura del campione.
L’area campione è costituita da una piattaforma rialzata con un diametro di 2 mm che si trova su una testa di Ø8 mm. Per migliorare la maneggevolezza dei perni FEI Teneo VS, abbiamo aggiunto una scanalatura sul lato della testa Ø8mm.
Con la scanalatura, i perni FEI VS Teneo possono essere facilmente maneggiati, rimossi dal supporto del campione e posizionati in scatole di immagazzinaggio.
Questi pin sono completamente compatibili con il sistema FEI Teneo VS SEM; Perno Ø3,1 mm, testa Ø8 mm e piattaforma rialzata per il montaggio del campione. Prodotto in alluminio per vuoto.
