Supporti e tronchetti EM-Tec per i SEM da tavolo JEOL NeoScope

Gli stub e il supporto attualmente disponibili per la serie JEOL NeoScope sono:

1. Adattatore per palco EM-Tec per SEM JEOL NeoScope da tavolo
2. Porta campioni EM-Tec
3. Supporti EM-Tec S-Clip su tronchetti JEOL
4. Stub campioni EM-Tec fino a un diametro di 32 mm
5. Adattatori stub campione EM-Tec per stub pin e supporti Cambridge S4

Kit adattatore da palco EM-Tec JV40 per i SEM da tavolo serie JEOL NeoScope:

Il kit adattatore stadio EMV Tec JV40 è pienamente compatibile con lo stadio X / Y standard dei SEM da tavolo JEOL NeoScope JCM-6000plus, JCM-6000 e JCM-5000. Con l’adattatore da palco EM-Tec JV40, una vasta gamma di supporti per campioni può essere utilizzata su JEOL NeoScope, offrendo una migliore gestione dei campioni e l’accesso alla vasta gamma di supporti per campioni versatili EM-Tec. Si compone di tre parti:

• Inserto per adattatori da palco con filetto femmina M6
• Pilastro adattatore palco in ottone (altezza regolabile) con filetto maschio M6 e vite M4 in alto
• Anello di bloccaggio in alluminio M6.

Sostituisce l’adattatore per palco JEOL NeoScope standard come sostituto dello stile. La parte superiore del pilastro regolabile in altezza comprende una vite M4. Pienamente compatibile con tutti i porta campioni EM-Tec SEM con foro filettato M4.

Porta campioni EM-Tec per i SEM da tavolo serie JEOL NeoScope

I porta-campioni EM-Tec con foro filettato M4 sono pienamente compatibili con i SEM JEOL NeoScope da tavolo utilizzando l’adattatore di stadio EM-Tec JV-40. I portacampioni si attengono entro i limiti di corsa del palco e l’altezza massima disponibile. Con i supporti EM-Tec, è possibile aggiungere l’inclinazione ai movimenti del campione. I supporti per campioni EM-Tec consentono una presa rapida e sicura dei campioni senza l’uso di adesivi.

Supporti S-Clip EM-Tec per i SEM da tavolo serie JEOL NeoScope

I supporti EM-Tec S-Clips con clip a molla caricati compatibili con il piano d’appoggio serie JEOL NeoScope che utilizza l’adattatore di stadio EM-Tec JV40 sono:

• Orizzontale standard
• Stub campione 45 ° e 45 ° / 90 °
• Stub campione a 90 °.

Sono utili per contenere campioni sottili come chip di wafer di Si, strisce di metallo, fogli di plastica, ecc.

Stub campione EM-Tec per i SEM da tavolo serie JEOL NeoScope

I SEM da tavolo serie JEOL NeoScope utilizzano principalmente gli stub JEOL da 25 mm. Questi sono anche usati sulla fase di inclinazione / rotazione disponibile opzionalmente. Quando si utilizzano i supporti per campioni EM-Tec, è possibile utilizzare anche gli stub standard JEOL 9.5, 12.2,25 e 32mm. Gli stub JEOL attualmente disponibili per JEOL NeoScope JCM-6000plus, JCM6000 e JCM-5000 sono:

• Stub cilindro JEOL standard con i famosi diametri da 25, 9,5, 12,2 e 32 mm. Disponibile con altezze di 5 e 10 mm.
• Stub cilindro JEOL angolato con superfici di pre-inclinazione 45 °, 45/90 ° e 90 °.
• Stub a perno piatto con diametro di 12,2 mm e piano incassato per campioni e soluzioni fluidi.

Adattatori stub EM-Tec SEM per i SEM da tavolo serie JEOL NeoScope:

Con gli adattatori per stub EM-Tec SEM, è possibile utilizzare gli stub pin standard, gli stub Cambridge S4 e gli stub Zeiss sui SEM da tavolo della serie NeoScope JEOL. Gli stub JEOL con la base filettata M4 si adattano direttamente all’adattatore da palco EM-Tec JV-40 e non richiedono un adattatore stub. Con un adattatore stub, non è necessario reinstallare il campione e viene mantenuta l’integrità del campione. Utile anche per l’utilizzo di standard di calibrazione che sono montati su uno stub pin.

Gli adattatori stub SEM consigliati sono:

• Adattatore mozzo EM-Tec H15P con filettatura M4 per accettare tutti i tronchetti standard e Zeiss
• Adattatore EM-Tec HS4 con filettatura M4 per accettare supporti Cambridge S4 da 32 mm

	EM-Tec JV40 versatile SEM stage adapter with M4 screw for JEOL Neoscope JCM6000 and JCM5000 table top SEMs
Product #	Unit
11-000540	each

#12-000334 EM-Tec GS24 supporto tronchese con piastra di serraggio, 0-4mm, alluminio, M4

EM-Tec GS24 porta-tronchi di presa con piastra di serraggio, 0-4mm, alluminio, M4 EM-Tec GS24 tronchesi di presa con piastra di serraggio per contenere campioni di sezione trasversale o tessuti fino a 4 mm di spessore. Il campione viene trattenuto dalla piastra di serraggio che viene spinta con le viti di arresto. Utile anche per trattenere i tessuti per la disidratazione e l’elaborazione della CPD. Le dimensioni del supporto sono 24x12x12mm x M4

	EM-Tec GS24 gripping stub holder with clamping plate, 0-4mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-000334	EM-Tec GS24 gripping stub holder with clamping plate, 0-4mm, aluminium, M4 each

#12-000331 EM-Tec HS2 mini M4 stub cilindro / pinza ago Ø2mm, Ø15x10mm, M4

EM-Tec HS2 mini M4 cilindro stub / pinza ago Ø2mm, Ø15x10mm, M4 EM-Tec HS2 mini M4 cilindro pinza / pinza ago. La capacità è di Ø2 mm massimo, l’ago è fissato con una piccola vite di fermo. Questo supporto è ideale per sonde, aghi, filo e tubi sottili. Il supporto perfetto per i campioni a forma di ago del microscopio a sonda Cameca Atom. Le dimensioni del supporto sono Ø15x10mmxM4.

	EM-Tec HS2 mini M4 cylinder stub tube/needle clamp Ø2mm , Ø15x10mm, M4
Product #	Unit
12-000331	EM-Tec HS2 mini M4 cylinder stub tube/needle clamp Ø2mm , Ø15x10mm, M4

#12-000306 EM-Tec HS6 mini cilindro M4 morsetto morsa morsetto 0-6mm, Ø15x10mm, M4

Morsetto morsa EM-Tec HS6 mini M4 cilindro 0-6mm, Ø15x10mm, M4 Morsetto morsa EM-Tec HS6 mini M4 cilindro per spessore campione da 0-6mm. Il campione viene tenuto verticalmente con una piccola vite di fermo. Modo semplice ed economico per bloccare sezioni trasversali di campioni sottili. Le dimensioni dello stub del supporto sono Ø15x10mmxM4.

	EM-Tec HS6 mini M4 cylinder stub vise clamp 0-6mm, Ø15x10mm, M4
Product #	Unit
12-000306	EM-Tec HS6 mini M4 cylinder stub vise clamp 0-6mm, Ø15x10mm, M4

#12-003209 Pinza per campione mini morsa EM-Tec HV5, M4

Pinza per morsa mini EM-Tec HV5, M4 Pinza per morsa mini EM-Tec HV5 per spessori da 0-5 mm. Il campione viene tenuto verticalmente tra le ganasce della morsa. Le ganasce della morsa sono serrate da una vite a testa zigrinata in ottone. Le dimensioni del supporto sono Ø12,2x17mmxM4.

	EM-Tec HV5 mini vise sample clamp, M4
Product #	Unit
12-003209	EM-Tec HV5 mini vise sample clamp, M4

#12-000315 EM-Tec HS15 M4 morsetto morsa cilindro 0-16mm, Ø25x10mm, M4

Morsetto morsa EM-Tec HS15 M4 cilindro 0-16mm, Ø25x10mm, M4 Morsetto morsa EM-Tec HS15 M4 cilindro per spessore campione da 0-16mm. Il campione viene tenuto verticalmente con una vite di fermo (vengono fornite più lunghezze). Base di fissaggio a morsa piccola economica e pratica sulla dimensione del mozzo di Ø25x10mmxM4.

	EM-Tec HS15 M4 cylinder stub vise clamp 0-16mm, Ø25x10mm, M4
Product #	Unit
12-000315	EM-Tec HS15 M4 cylinder stub vise clamp 0-16mm, Ø25x10mm, M4

#12-000323 EM-Tec GB16 porta campioni sfuso fino a 16mm, ottone dorato, M4

EM-Tec GB16 porta campioni sfuso per fino a 16mm, ottone dorato, M4 EM-Tec GB16 con filetto M4. Porta campioni sfuso di tipo rettangolare con due staffe laterali per spessori del campione fino a 16 mm. Realizzato in ottone, placcato in oro 1µm. Ideale per campioni più piccoli e SEM più piccoli. Fornito con 4 viti di fermo.

	EM-Tec GB16 bulk sample holder for up 16mm, gilded brass, M4
Product #	Unit
12-000323	EM-Tec GB16 bulk sample holder for up 16mm, gilded brass, M4

#12-000314 EM-Tec P4 supporto mozzo multiplo per tronchetti a 4 poli, Ø31,5×10,5mm, M4

EM-Tec P4 supporto mozzo multiplo per tronchetti a 4 poli, Ø31,5×10,5mm, M4 EM-Tec P4 perno tronchese multiplo per tronchetti a 4 pin, Ø31,5×10,5mm, M4

	EM-Tec P4 multi pin stub holder for 4 pin stubs, Ø31.5×10.5mm, M4
Product #	Unit
12-000314	EM-Tec P4 multi pin stub holder for 4 pin stubs, Ø31.5×10.5mm, M4

# 12-000328 EM-Tec HS7 mini M4 cilindro stub morsetto morsa doppia morsa, 2x1mm, Ø15x6mm, M4

Morsa EM-Tec HS7 mini m4 cilindrica con doppio foro per morsa cilindrica, 2x1mm, Ø15x6mm, M4 Morsa EM-Tec HS7 mini morsa con doppio perno con doppio intaglio largo due mm. Ideale per contenere wafer sottili come campioni per l’imaging di sezioni trasversali. Il campione viene bloccato da viti di fermo. Le dimensioni del supporto sono Ø15x6mm, foro filettato M4.

	EM-Tec HS7 mini M4 cylinder stub dual slot vise clamp, 2x1mm, Ø15x6mm, M4
Product #	Unit
12-000328	EM-Tec HS7 mini M4 cylinder stub dual slot vise clamp, 2x1mm, Ø15x6mm, M4

#12-003228 Mini morsa EM-Tec VS8 caricata a molla per un massimo di 8 mm, M4

Mini morsa EM-Tec VS8 caricata a molla per un massimo di 8 mm, M4 EM-Tec VS8 è una morsa mini caricata a molla a singola azione per campioni con una dimensione massima di serraggio di 8 mm. La morsa si apre tirando la ganascia della morsa mobile. Ideale per caricare rapidamente sezioni trasversali sottili. Le dimensioni della base del vaso sono di Ø25 x 12,5 mm di altezza. Realizzato in alluminio per vuoto con barre e molle in acciaio inossidabile.

	EM-Tec VS8 mini spring-loaded vise holder for up to 8mm, M4
Product #	Unit
12-003228	EM-Tec VS8 mini spring-loaded vise holder for up to 8mm, M4

#12-000347 EM-Tec TV12 mini porta inclinazione 0-90 ° inclinabile 11x12mm, indicatori di angolo a 0, 30, 45, 70 e 90 gradi

EM-Tec TV12 mini supporto per inclinazione 0-90 ° inclinazione variabile 11x12mm, indicatori di inclinazione a 0, 30, 45, 70 e 90 gradi, M4 EM-Tec TV12 mini inclinazione per montaggio inclinabile consente un angolo 0-90 ° in un piccolo supporto per campione ; disponibile con perno filettato o filetto M4. Il campione deve essere montato sulla piattaforma inclinabile di questo supporto compatto. Le incisioni laterali sulla piattaforma inclinabile aiutano a impostare l’angolo di inclinazione desiderato.

	EM-Tec TV12 mini variable 0-90° angle tilt sample holder 11x12mm, angle indicators at 0, 30, 45, 70 and 90 degrees, M4
Product #	Unit
12-000347	EM-Tec TV12 mini variable 0-90° angle tilt sample holder 11x12mm, angle indicators at 0, 30, 45, 70 and 90 degrees, M4

#12-000348 EM-Tec TV25 supporto inclinazione variabile 0-90 ° per tronchetti Ø38mm, M4

EM-Tec TV25 supporto inclinazione variabile 0-90 ° per tronchesi Ø38mm, M4 EM-Tec TV25 supporto inclinazione variabile più grande consente un angolo 0-90 ° per tronchesi o supporti campione Ø38mm. Stub più grandi possono essere montati, ma l’inclinazione può essere limitata, a seconda del SEM utilizzato. Compatibile con tronchesi o supporti filettati a perno o Hitachi M4.

	EM-Tec TV25 variable 0-90° angle tilt holder for stubs up Ø38mm, M4
Product #	Unit
12-000348	EM-Tec TV25 variable 0-90° angle tilt holder for stubs up Ø38mm, M4

#12-000324 EM-Tec HS16 M4 stub cilindro morsetto tondo fino a Ø16mm, Ø25x10mm, M4

Pinza tonda cilindro M4 EM-Tec HS16 M4 fino a Ø16mm, Ø25x10mm, Pinza tonda M4 EM-Tec HS16 M4 per bloccare campioni di forma rotonda fino a Ø16 mm di diametro. I campioni sono trattenuti da una vite di fermo nel mezzo di uno stub Hitachi da 25 mm. Le dimensioni dello stub del supporto sono Ø25x10mmxM4.

	EM-Tec HS16 M4 cylinder stub round clamp up to Ø16mm, Ø25x10mm, M4
Product #	Unit
12-000324	EM-Tec HS16 M4 cylinder stub round clamp up to Ø16mm, Ø25x10mm, M4

#12-000325 EM-Tec B26 porta campioni sfuso fino a 26 mm, alluminio, M4

EM-Tec B26 porta campioni sfuso fino a 26mm, alluminio, M4 EM-Tec B26 con filettatura M4. Porta campioni sfuso di tipo rettangolare con due staffe laterali per spessori fino a 26 mm. Realizzato in alluminio per vuoto. Fornito con 8 viti di fermo.

	EM-Tec B26 bulk sample holder for up 26mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-000325	EM-Tec B26 bulk sample holder for up 26mm, aluminium, M4

#12-000300 Portacampioni tipo morsa EM-Tec V22 compatto per un massimo di 22 mm, M4

Porta campioni per morsa compatta EM-Tec V22 fino a 22 mm, M4 Porta campioni per morsa compatta EM-Tec V22 per campioni di dimensioni fino a 0-22 mm con filettatura M4. Una mascella fissa e una mascella mobile guidata da mandrino. L’altezza della mascella è di 10 mm, la larghezza di serraggio è di 25 mm. Morsa compatta economica che può essere utilizzata in SEM standard e SEM da tavolo. Realizzato in alluminio per vuoto, mandrino in ottone e viti in acciaio inossidabile.

	EM-Tec V22 compact vise type sample holder for up to 22mm, M4
Product #	Unit
12-000300	EM-Tec V22 compact vise type sample holder for up to 22mm, M4

#12-000345 EM-Tec H45P supporto pre-inclinazione 45 ° fisso per tronchesi / supporti perno, Ø12,7x17mm, M4

EM-Tec H45P supporto di inclinazione fisso a 45 ° per tronchesi / supporti, Ø12.7x17mm, M4 EM-Tec H45P supporto di inclinazione fisso a 45 ° per tronchesi standard e Zeiss. Le superfici del campione dell’immagine o le sezioni trasversali direttamente al di sotto di 45 ° senza usare l’inclinazione sul palco SEM. Particolarmente utile per i SEM da tavolo senza dispositivi di inclinazione o per estendere gli angoli di inclinazione per fasi di inclinazione limitate. La dimensione complessiva è Ø12,7x17mmxM4.

	EM-Tec H45P fixed 45° pre-tilt holder for pin stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4
Product #	Unit
12-000345	EM-Tec H45P fixed 45° pre-tilt holder for pin stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4

#12-000312 EM-Tec J4 supporto multiplo per 4 tronchetti JEOL Ø9,5mm, Ø31,5x10mm, M4

Supporto multiplo EM-Tec J4 per 4 tronchetti JEOL Ø9,5mm, Ø31,5x10mm, supporto multiplo EM-Tec J4 per 4 dei tronchetti JEOL Ø9,5mm. Le dimensioni del supporto sono Ø32x10mm.

	EM-Tec J4 multi stub holder for 4 x Ø9.5mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4
Product #	Unit
12-000312	EM-Tec J4 multi stub holder for 4 x Ø9.5mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4

# 12-000341 EM-Tec H45 supporto pre-inclinazione fisso a 45 ° per tronchesi / attacchi Hitachi M4, Ø12,7x17mm, M4

EM-Tec H45 supporto fisso pre-inclinazione 45 ° per tronchetti / attacchi Hitachi M4, Ø12,7x17mm, M4 EM-Tec H45 supporto fisso inclinazione 45 ° tronchetti Hitachi M4. Le superfici del campione dell’immagine o le sezioni trasversali direttamente al di sotto di 45 ° senza inclinare lo stadio SEM. Particolarmente utile per i SEM da tavolo senza dispositivi di inclinazione o per estendere gli angoli di inclinazione per fasi di inclinazione limitate. La dimensione complessiva è Ø12,7x17mmxM4.

	EM-Tec H45 fixed 45° pre-tilt holder for Hitachi M4 stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4
Product #	Unit
12-000341	EM-Tec H45 fixed 45° pre-tilt holder for Hitachi M4 stubs/holders, Ø12.7x17mm, M4

#12-000308 EM-Tec SC1 Supporto SampleClamp SEM, area campione 15x10mm, M4

EM-Tec SC1 SampleClamp Supporto SEM, area di campionamento 15x10mm, M4 EM-Tec SC1 SampleClamp con area di serraggio di 15x10mm. Fili piccoli e sottili, strisce, fibre, cavi possono essere fissati con le strisce laterali per esaminare la superficie esterna. Nessun uso di adesivo mantiene pulita la superficie e consente di ruotare il campione per esaminare il campione con diverse angolazioni.

	EM-Tec SC1 SampleClamp SEM holder, 15x10mm sample area, M4
Product #	Unit
12-000308	EM-Tec SC1 SampleClamp SEM holder, 15x10mm sample area, M4

#12-000326 EM-Tec M26 supporto per supporto metallografico per supporti Ø25mm / Ø1inch, M4

Supporto di montaggio metallografico EM-Tec M26 per supporti Ø25mm / Ø1 pollici, supporto di supporto metallografico M26 EM-Tec M26 per contenere supporti metallografici o petrografici Ø25mm o Ø1 ”con campioni incorporati, M4.

	EM-Tec M26 metallographic mount holder for Ø25mm / Ø1inch mounts, M4
Product #	Unit
12-000326	EM-Tec M26 metallographic mount holder for Ø25mm / Ø1inch mounts, M4

#12-000313 EM-Tec J3 supporto multiplo per 3 mozzi JEOL Ø12,2mm, Ø31,5x10mm, M4

Supporto multiplo EM-Tec J3 per 3 tronchetti JEOL Ø12,2mm, Ø31,5x10mm, M4 Supporto multiplo EM-Tec J3 per 4 tronchetti JEOL Ø12,2mm. Le dimensioni del supporto sono Ø32x10mm.

	EM-Tec J3 multi stub holder for 3 x Ø12.2mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4
Product #	Unit
12-000313	EM-Tec J3 multi stub holder for 3 x Ø12.2mm JEOL stubs, Ø31.5x10mm, M4

#12-000317 EM-Tec GR20 porta campioni sfuso fino a Ø20mm, ottone dorato, M4

EM-Tec GR20 porta campioni sfuso fino a Ø20mm, ottone dorato, M4 EM-Tec GR20 con filetto M4. Supporto per campioni sfusi di tipo rotondo con tre staffe per campioni rotondi e di forma scomoda fino a Ø20mm. Realizzato in ottone, placcato in oro 1µm. Ideale per campioni più piccoli e SEM più piccoli. Fornito con 6 viti di fermo.

	EM-Tec GR20 bulk sample holder for up to Ø20mm, gilded brass, M4
Product #	Unit
12-000317	EM-Tec GR20 bulk sample holder for up to Ø20mm, gilded brass, M4

#12-000321 EM-Tec VS12 supporto morsa compatto a molla a singola azione per un massimo di 12 mm, M4

EM-Tec VS12 porta morsa compatta a molla a singola azione fino a 12 mm, M4 EM-Tec VS12 è una morsa compatta a molla a singola azione per campioni con dimensioni massime di serraggio di 12 mm. La morsa si apre spingendo la ganascia della morsa mobile con un’asta di spinta. L’asta di spinta può essere rimossa quando il supporto è caricato nel SEM. I perni di centraggio possono essere inseriti nelle ganasce fisse e mobili per aumentare l’apertura fino a una dimensione del campione fino a un diametro di 18 mm o per contenere campioni dalla forma scomoda; Sono inclusi 4 tasselli. Realizzato in alluminio per vuoto con barre e molle in acciaio inossidabile.

	EM-Tec VS12 compact single action spring-loaded vise holder for up to 12mm, M4
Product #	Unit
12-000321	EM-Tec VS12 compact single action spring-loaded vise holder for up to 12mm, M4

#12-000309 EM-Tec SC2 Supporto SampleClamp SEM, area campione 25x15mm, M4

EM-Tec SC2 SampleClamp Supporto SEM, area di campionamento 25x15mm, M4 EM-Tec SC2 SampleClamp con area di serraggio di 25x15mm. Fili, strisce, fibre, cavi più lunghi e più spessi possono essere bloccati con le strisce laterali per esaminare la superficie esterna. Nessun uso di adesivo mantiene pulita la superficie e consente di ruotare il campione per esaminare il campione con diverse angolazioni.

	EM-Tec SC2 SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4
Product #	Unit
12-000309	EM-Tec SC2 SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4

#12-000332 Supporto metallografico EM-Tec M32 per supporti Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1 / 4 pollici, M4

Supporto di montaggio metallografico M32 EM-Tec per supporti Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1 / 4 pollici, supporto di supporto metallografico M4 EM-Tec M32 per il supporto di supporto metallografico o petrografico Ø30mm, Ø32mm o Ø1-1 / 4 ”con campioni incorporati.

	EM-Tec M32 metallographic mount holder for Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1/4inch mounts, M4
Product #	Unit
12-000332	EM-Tec M32 metallographic mount holder for Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1/4inch mounts, M4

#12-000322 EM-Tec VS26 supporto morsa compatto a molla a doppia azione per un massimo di 26 mm, M4

EM-Tec VS26 porta morsa compatta a molla a doppia azione fino a 26 mm, M4 EM-Tec VS26 è una morsa compatta a molla a doppia azione per campione con una dimensione massima di serraggio di 26 mm con filettatura M4. A causa della molla a doppia faccia, questa morsa funge da morsa di centraggio. Le ganasce della morsa sono aperte da aste di spinta che possono essere rimosse quando il supporto del campione viene caricato nel SEM. I perni di riferimento possono essere inseriti nelle ganasce per aumentare la dimensione del campione fino a un diametro di 34 mm o per contenere campioni di forma irregolare; Sono inclusi 4 tasselli. Realizzato con aste e molle in alluminio per vuoto e acciaio inossidabile.

	EM-Tec VS26 compact double action spring-loaded vise holder for up to 26mm, M4
Product #	Unit
12-000322	EM-Tec VS26 compact double action spring-loaded vise holder for up to 26mm, M4

#12-000310 EM-Tec SC2R Supporto da incasso SampleClamp SEM, area campione 25x15mm, M4

EM-Tec SC2R SampleClamp ad incasso Supporto SEM, area campione 25x15mm, M4 EM-Tec SC2R SampleClamp con area incasso di 25x15mm. La parte incassata lascia l’area del campione da esaminare completamente indipendente. Ciò consente una rotazione completa del campione per esaminare tutti i lati. L’area incassata tende a essere sfocata, il che lascia maggiore enfasi sul campione. Suggerimento: per evitare il segnale dall’area incassata, si potrebbe posizionare un disco di carbone sotto il campione; questo ridurrà notevolmente sia il segnale elettronico che i raggi X.

	EM-Tec SC2R recessed SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4
Product #	Unit
12-000310	EM-Tec SC2R recessed SampleClamp SEM holder, 25x15mm sample area, M4

#12-000333 EM-Tec R32 porta campioni sfuso fino a Ø32mm, alluminio, M4

EM-Tec R32 porta campioni sfuso fino a Ø32mm, alluminio, M4 EM-Tec R32 con filetto M4. Supporto per campioni sfusi di tipo rotondo con tre staffe per campioni rotondi e di forma scomoda fino a Ø32mm. Altrettanto utile come supporto per supporti metallografici per supporti da 30mm / 1-1 / 4 “. Realizzato in alluminio per vuoto. Fornito con 9 viti di fermo

	EM-Tec R32 bulk sample holder for up to Ø32mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-000333	EM-Tec R32 bulk sample holder for up to Ø32mm, aluminium, M4

#12-000311 EM-Tec HS3 mini stelo cilindro M4 SampleClamp 0-2mm, Ø15x10mm, M4

Stub cilindro EM-Tec HS3 mini M4 SampleClamp 0-2mm, Ø15x10mm, M4 Stub cilindro EM-Tec HS3 mini M4 SampleClamp per bloccare campioni sottili, fogli, pezzi di wafer Si ecc. Direttamente sullo stub. I campioni vengono trattenuti da una rondella sotto la piccola vite. Più efficace e più pulito rispetto all’utilizzo di nastro adesivo o vernice / pasta conduttiva. Le dimensioni dello stub del supporto sono Ø15x10mmxM4.

	EM-Tec HS3 mini M4 cylinder stub SampleClamp 0-2mm , Ø15x10mm, M4
Product #	Unit
12-000311	EM-Tec HS3 mini M4 cylinder stub SampleClamp 0-2mm , Ø15x10mm, M4

#12-003315 Pinza girevole EM-Tec HS19 per campioni fino a 16 mm, alluminio, M4

Morsetto orientabile EM-Tec HS19 per campioni fino a 16 mm, alluminio, M4 Morsetto orientabile EM-Tec HS19 con morsa girevole per spessori del campione da 0 a 16 mm. Il campione viene tenuto con una vite di fermo (sono fornite lunghezze multiple). La cerniera girevole consente un’inclinazione di quasi 90 ° in entrambe le direzioni. Le dimensioni del supporto sono Ø25x30mm xM4.

	EM-Tec HS19 swivel clamp for up to 16mm samples, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003315	EM-Tec HS19 swivel clamp for up to 16mm samples, aluminium, M4

#12-003330 Morsa EM-Tec HS18 mini girevole con attacco sdoppiato per un massimo di 8 mm, alluminio, M4

Morsa EM-Tec HS18 mini con attacco snodato split per un massimo di 8 mm, alluminio, M4 Morsa EM-Tec HS18 mini con attacco snodato split per campioni con spessore fino a 8 mm. Il campione viene tenuto tra i mini morsetti per morsa. Questo supporto girevole consente di inclinarlo di 90 ° in entrambi i modi. Le dimensioni del supporto sono Ø15x30mm xM4.

	EM-Tec HS18 mini swivel split mount vise for up to 8mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003330	EM-Tec HS18 mini swivel split mount vise for up to 8mm, aluminium, M4

#12-003340 EM-Tec HS17 mini porta morsa girevole per un massimo di 4 mm, alluminio, M4

Mini porta morsa girevole EM-Tec HS17 fino a 4 mm, alluminio, M4 Mini porta morsa EM-Tec HS17 per spessore campione fino a 4 mm. Il campione viene tenuto con una vite di fermo; ideale per chip Si e sezioni sottili del campione. Questo supporto girevole consente un’inclinazione completa di 90 ° in entrambe le direzioni. Le dimensioni del supporto sono Ø12x23mm xM4.

	EM-Tec HS17 mini swivel vise holder for up to 4mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003340	EM-Tec HS17 mini swivel vise holder for up to 4mm, aluminium, M4

#12-003110 EM-Tec HGS10 supporto per testina girevole fino a 10mm, ottone placcato oro, M4

Portacampioni a testa girevole EM-Tec HGS10 fino a 10 mm, ottone placcato oro, M4 Portacampioni a testa girevole EM-Tec HGS10 è realizzato in ottone placcato oro per consentire una facile pulizia e resistere alla contaminazione. Lo spessore massimo del campione è di 10 mm; il campione viene bloccato con due viti a testa zigrinata. Il campione può essere bloccato da modi opposti. Questo supporto girevole consente un’inclinazione completa di 90 ° in entrambe le direzioni. Le dimensioni del supporto sono 28x16x32mm x M4.

	EM-Tec HGS10 swivel head sample holder for up to 10mm, gold plated brass, M4
Product #	Unit
12-003110	EM-Tec HGS10 swivel head sample holder for up to 10mm, gold plated brass, M4

#12-000330 Morsa EM-Tec HS9 mini split 0 – 8mm, M4

Morsa EM-Tec HS9 mini split split 0 – 8mm, M4 Morsa EM-Tec HS9 mini split split per campioni con spessore da 0-8mm. Il campione viene bloccato tra le due ganasce del supporto diviso. Le ganasce della morsa con attacco diviso sono chiuse da due viti a brugola. Le dimensioni della morsa mini con attacco diviso chiuso sono Ø15x10mm; quando aperto 24x15x10mm. Foro filettato M4 nella base.

	EM-Tec HS9 mini split mount vise 0 – 8mm, M4
Product #	Unit
12-000330	EM-Tec HS9 mini split mount vise 0 – 8mm, M4

#12-003211 EM-Tec HS15 Attacco girevole per troncone Hitachi, Ø15x21mm, alluminio, M4

EM-Tec HS15 Hitachi attacco mozzo girevole, Ø15x21mm, alluminio, M4 EM-Tec HS15 Hitachi attacco mozzo girevole. La testa del supporto è fissata al mozzo del cilindro tramite una cerniera girevole che consente un’inclinazione di 90 gradi in entrambe le direzioni. Può essere ruotato di 360 gradi nel mozzo del cilindro. Eccellente supporto per SEM senza dispositivi di inclinazione o quando sono necessarie inclinazioni casuali angolate. Quando viene impostato l’angolo di inclinazione desiderato, la parte superiore viene fissata con una vite a testa cilindrica. Il diametro superiore è di 15 mm e l’altezza totale è di 30 mm.

	EM-Tec HS15 Hitachi stub swivel mount, Ø15x21mm, aluminium, M4
Product #	Unit
12-003211	EM-Tec HS15 Hitachi stub swivel mount, Ø15x21mm, aluminium, M4

	5 each EM-Tec copper alloy S-Clips with 5 each brass M2x3mm screws
Product #	Unit
12-000900	5 each EM-Tec copper alloy S-Clips with 5 each brass M2x3mm screws

	EM-Tec HS15C S-Clip swivel mount sample holder with 1xS-Clip, Ø15mm, M4
Product #	Unit
12-004911	EM-Tec HS15C S-Clip swivel mount sample holder with 1xS-Clip, Ø15mm, M4

	EM-Tec TV12C mini variable 0-90° angle tilt sample holder with 1 x S-Clip, angle indicators at 0, 30, 45, 70 and 90°, M4
Product #	Unit
12-004947	EM-Tec TV12C mini variable 0-90° angle tilt sample holder with 1 x S-Clip, angle indicators at 0, 30, 45, 70 and 90°, M4

	EM-Tec S-Clip sample holder with 1xS-Clip 45° on Ø25mm stub, M4
Product #	Unit
12-004925	EM-Tec S-Clip sample holder with 1xS-Clip 45° on Ø25mm stub, M4

	EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø25x10mm stub, M4
Product #	Unit
12-004920-1	EM-Tec S-Clip sample holder with 1x S-Clip on Ø25x10mm stub, M4
12-004920-2	EM-Tec S-Clip sample holder with 2x S-Clips on Ø25x10mm stub, M4
12-004920-3	EM-Tec S-Clip sample holder with 3x S-Clips on Ø25x10mm stub, M4

	EM-Tec S-Clip sample holder with 2xS-Clips 45°/90° on Ø25 stub, M4
Product #	Unit
12-004927	EM-Tec S-Clip sample holder with 2xS-Clips 45°/90° on Ø25 stub, M4

	EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32x10mm stub, M4
Product #	Unit
12-004930-1	EM-Tec S-Clip sample holder with 1x S-Clip on Ø32x10mm stub, M4
12-004930-2	EM-Tec S-Clip sample holder with 2x S-Clips on Ø32x10mm stub, M4
12-004930-3	EM-Tec S-Clip sample holder with 3x S-Clips on Ø32x10mm stub, M4

	EM-Tec S-Clip sample holder with 2xS-Clips double 90° on Ø25mm stub, M4
Product #	Unit
12-004929	EM-Tec S-Clip sample holder with 2xS-Clips double 90° on Ø25mm stub, M4

	EM-Tec S-Clip sample holder with 4xS-Clips at 90°, 12.7×12.7x14mm, M4
Product #	Unit
12-004914	EM-Tec S-Clip sample holder with 4xS-Clips at 90°, 12.7×12.7x14mm, M4

	JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005010-50	JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005010-100	JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø12.2x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005012-50	JEOL Ø12.2x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005012-100	JEOL Ø12.2x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø25x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005012-50	JEOL Ø25x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005012-100	JEOL Ø25x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005025-100	JEOL Ø25x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005105-10	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
10-005105-50	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium

	JEOL Ø25x8mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005028-10	JEOL Ø25x8mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005028-50	JEOL Ø25x8mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005109-10	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
10-005109-50	JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

	JEOL Ø25x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005125-10	JEOL Ø25x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005125-50	JEOL Ø25x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005125-100	JEOL Ø25x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø25×12.7mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005126-10	JEOL Ø25×12.7mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005126-50	JEOL Ø25×12.7mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005115-10	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
10-005115-50	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium

	JEOL Ø25x16mm cylinder SEM sample stub, aluminium
Product #	Unit
10-005215-10	JEOL Ø25x16mm cylinder SEM sample stub, aluminium
10-005215-50	JEOL Ø25x16mm cylinder SEM sample stub, aluminium

	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005119-10	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
10-005119-50	JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005127-5	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
10-005127-10	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium

	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005219-1	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
10-005219-5	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005225-1	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium
10-005225-5	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium

	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium
Product #	Unit
10-005225-1	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium
10-005225-5	JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium

	JEOL Dish stub, Ø12.2×10 with 1.5mm dish depth, aluminium
Product #	Unit
10-005114-1	JEOL Dish stub, Ø12.2×10 with 1.5mm dish depth, aluminium
10-005114-5	JEOL Dish stub, Ø12.2×10 with 1.5mm dish depth, aluminium
10-005114-10	JEOL Dish stub, Ø12.2×10 with 1.5mm dish depth, aluminium

#11-000304 Adattatore EM-Tec H15P M4 per perno, Ø15x16mm, M4

Adattatore EM-Tec H15P M4 per perno, Ø15x16mm, M4 Adattatore EM-Tec H15P M4 per perno per perno standard e corto diametro Ø3,2mm. Lo stelo del perno del perno è fissato con una vite di fermo. Permette di utilizzare i famosi stub a perno sui SEM da tavolo Hitachi e JEOL Neoscope. Realizzato in alluminio per vuoto. La dimensione complessiva è di Ø15x16mm. Include chiave a brugola.

	EM-Tec H15P M4 adapter for pin stub, Ø15x16mm, M4
Product #	Unit
11-000304	EM-Tec H15P M4 adapter for pin stub, Ø15x16mm, M4

#11-000305 Adattatore EM-Tec HS4 M4 per mozzi Cambridge S4, M4

Adattatore EM-Tec HS4 M4 per mozzi Cambridge S4, adattatore M4 EM-Tec HS-4 M4 per contenere supporti Cambridge S4. Le viti vengono utilizzate per fissare il supporto Cambridge S4. Realizzato in alluminio per vuoto. La dimensione complessiva è di Ø30x10mm.

	EM-Tec HS4 M4 adapter for Cambridge S4 stubs, M4
Product #	Unit
11-000305	EM-Tec HS4 M4 adapter for Cambridge S4 stubs, M4

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