NanoMill® TEM specimen preparation system

Rivoluzionario fascio ionico concentrato a bassa energia
Il sistema di preparazione dei campioni NanoMill® TEM modello 1040 di Fischione è uno strumento eccellente per la creazione di campioni sottili di alta qualità necessari per l’imaging e l’analisi di microscopia elettronica a trasmissione avanzata.
È ideale sia per l’elaborazione post-FIB (fascio ionico focalizzato) che per il miglioramento di campioni preparati convenzionalmente.

Processo NanoMillingSM mirato a bassissimo consumo energetico
Il sistema NanoMill è dotato di una tecnologia di sorgente ionica gassosa che si traduce in energie ioniche fino a 50 eV e una dimensione del fascio di 1 µm.
Consente la preparazione dei campioni senza amorfizzazione, impianto o rideposizione.
Il fascio ionico può essere mirato a una specifica area di interesse.
Un rilevatore di elettroni secondario viene utilizzato per visualizzare gli elettroni secondari indotti da ioni generati dall’area mirata del campione.

Operazione automatizzata
Il sistema NanoMill è facilmente programmabile.
Le energie del fascio ionico regolabili, gli angoli di fresatura, la rotazione dei campioni e i parametri di raffreddamento dei campioni criogenici offrono la massima flessibilità per garantire la preparazione ottimale di un’ampia varietà di campioni.
Un blocco del carico a vuoto facilita il cambio rapido dei campioni per applicazioni ad alta produttività.

• https://www.youtube.com/watch?v=bhV5RP7Ap0A

• Model 1040 NanoMill^® TEM specimen preparation system specimen configuration
• Removal of amorphous layer from nanoneedle specimens fabricated by focused ion beam
• Microelectronic device delayering using an adjustable broad‑beam ion source