05. Cameca -SIMS, APT, EPMA, LEXES

SIMS – KLEORA

APT – EIKOS

APT – LEAP 5000

LEXES – EX 300

EPMA – SKAPHIA

EPMA – SXFive-TACTIS

EMPA – SXFiveFE

EPMA – SXFive

SIMS – shielded SIMS

SIMS – SIMS 4550

SIMS – IMS Wf & SC Ultra

SIMS – NanoSIMS 50 L

SIMS – KLEORA

SIMS – IMS 1300-HR³

SIMS – IMS 7f-GEO

SIMS – IMS 7f-Auto

LEXES

EPMA – Electronic microanalysis

SIMS – secondary ion mass spectrometry

REMET – Tecnologia avanzata per l'osservazione e lo studio dei campioni.

Strumenti avanzati di RMC Boeckeler per la preparazione di campioni in microscopia elettronica e ricerca scientifica

CIQTEK – Azienda specializzata in strumenti scientifici di alta precisione per l'analisi dei materiali e delle proprietà fisiche

Vac Coat, azienda specializzata in sistemi di rivestimento sottovuoto PVD per ricerca e preparazione di campioni SEM

Strumento Edax per microanalisi EDS, EBSD e WDS

Strumenti Bruker per analisi EDS, WDS ed EBSD su microscopi elettronici

Strumentazione CAMECA per microanalisi e metrologia avanzata

Sistemi di soppressione dei campi magnetici Spicer Consulting

Strumenti Oxford Instruments Nano Analysis per EDS, EBSD, WDS

Microscopi elettronici a trasmissione TEM da banco Delong Instruments

RIMANI AGGIORNATO

Iscriviti alla nostra newsletter