L’uso del microscopio elettronico nel settore Food.
La microscopia elettronica a scansione (SEM), è una tecnica potente per lo studio della struttura degli alimenti, influenzata dai parametri di lavorazione e dagli ingredienti. 🍝🥧
Il SEM offre una visualizzazione dettagliata delle caratteristiche superficiali e interne degli alimenti, con una profondità di campo molto maggiore rispetto alla microscopia ottica.
Negli ultimi anni, l’analisi della microstruttura degli alimenti ha guadagnato importanza poiché la struttura interna può influenzare il valore nutrizionale, la reologia e la texture degli alimenti. I processi di lavorazione possono alterare la struttura naturale e la composizione, provocando cambiamenti chimici e fisici che possono ridurre la biodisponibilità dei nutrienti.
L’osservazione al SEM dei campioni alimentari presenta alcuni vantaggi, come una preparazione relativamente semplice. Tuttavia, la natura chimico-fisica dei campioni può limitare l’uso di tecniche SEM convenzionali. Diverse tecniche di preparazione e osservazione sono utilizzate per superare queste limitazioni
La microscopia elettronica a scansione nella failure analysis
Sai riconoscere le diverse tipologie di frattura su una superficie metallica? Scopri nel nostro ultimo articolo come il hashtag#SEM può essere il tuo migliore alleato nella Failure Analysis sui metalli.
L’importanza del diaframma nelle batterie agli ioni di litio
L’uso della microscopia elettronica a scansione con sorgente a emissione di campo (SEM-FEG) permette di caratterizzare la forma, la dimensione e la distribuzione dei pori nel diaframma, componente chiave nella realizzazione delle batterie agli ioni di litio. Vediamo come
Media System Lab e Flim Labs a Palermo
Workshop sulle Metodologie Avanzate di Investigazione: Unitevi a Noi all’Università di Palermo!
Fluorescence Lifetime Analysis, FLIM e Live-Cell Label-Free imaging con il microscopio olotomografico Nanolive.
Analisi delle strutture metallorganiche (MOFs) in polvere
la composizione e la microstruttura delle polveri delle materie prime influenzano le proprietà finali dei materiali. La distribuzione granulometrica delle particelle, la forma, la porosità e la superficie specifica delle polveri possono corrispondere a ben precise e peculiari proprietà del materiale. Pertanto la verifica e il controllo della materia prima in polvere è un prerequisito fondamentale.
Nel settore della catalisi, la realizzazione di materiali metallorganici (MOFs) per migliorare le prestazioni catalitiche superficiali è diventata oggi uno dei temi di ricerca più studiati. Scopriamo come il SEM può contribuire allo studio e allo sviluppo di questi materiali
Il SEM per lo studio della texture delle celle fotovoltaiche
Nel settore delle energie rinnovabili, i sistemi per la produzione di energia solare fotovoltaica (PV) rivestono da molti anni un ruolo di primo piano. In quanto componente centrale della produzione di energia fotovoltaica, le celle PV sono sempre oggetto di sviluppo e ottimizzazione. Il microscopio elettronico a scansione (SEM) svolge un ruolo fondamentale sia nell’ambito R&D che in quello del miglioramento del processo produttivo delle celle fotovoltaiche.
Detto in maniera molto sintetica, una cella PV è un sottile foglio (wafer) di materiale semiconduttore in grado di convertire l’energia solare in energia elettrica. Le celle fotovoltaiche attualmente in commercio e prodotte in serie sono principalmente celle in silicio, che si dividono in celle in silicio monocristallino, celle in silicio policristallino e celle in silicio amorfo.
Nell’attuale processo di produzione delle celle fotovoltaiche, al fine di migliorare ulteriormente l’efficienza di conversione energetica, sulla superficie della cella viene solitamente realizzata una speciale struttura texturizzata. Nello specifico, la texture sulla superficie di queste celle incrementa l’assorbimento della luce grazie all’aumentato numero di riflessioni della luce irradiata sulla superficie del wafer di silicio. Questa particolare texture non solo riduce la riflettività finale della superficie, ma crea anche “trappole di luce” all’interno della cella, aumentando così in modo significativo l’efficienza di conversione della cella stessa, anche a diversi angoli di incidenza (Fig.1). Rispetto ad una superficie piana, infatti, un wafer di silicio con struttura superficiale piramidale ha una maggiore probabilità che la componente riflessa dalla luce incidente agisca nuovamente sulla superficie del wafer anziché riflettersi in aria, consentendo l’assorbimento di più fotoni e fornendo dunque più coppie elettrone-lacuna.
Analisi dei materiali ceramici con microscopia elettronica a scansione
I materiali ceramici presentano una serie di proprietà tra cui elevato punto di fusione, elevata durezza, ottima resistenza all’usura e resistenza all’ossidazione, e per questo sono ampiamente utilizzati in svariati settori come l’industria elettronica, automobilistica, tessile, chimica e aerospaziale. Le proprietà fisiche dei materiali ceramici dipendono in gran parte dalla loro microstruttura, che è possibile caratterizzare grazie all’osservazione al SEM.
I materiali ceramici sono una classe di materiali inorganici non metallici realizzati a partire da composti naturali o sintetici mediante formatura e sinterizzazione ad alta temperatura, e possono essere suddivisi in materiali ceramici generali e materiali ceramici speciali.
I materiali ceramici speciali possono essere a loro volta classificati o in base alla composizione chimica: ceramiche su base ossidi, nitruri, carburi, boruri, siliciuri, ecc.; oppure in base alle loro caratteristiche e applicazioni: ceramiche strutturali e ceramiche funzionali.
Il posto dei microscopisti
Siamo così come ci vedi: trasparenti e pieni di passione per il nostro lavoro. Essere affidabili è un obiettivo che ogni membro del nostro team sente suo e ci impegniamo per poter garantire sempre il meglio ai nostri clienti: la nostra professionalità è il nostro biglietto da visita!
contattaci +39347942823 info@m-s.it
Corso di Microscopia elettronica a scansione
La nostra attività di formazione ad alto valore tecnico continua, abbiamo già fissato le date per il prossimo corso SEM. Nella nostra sede di Rovereto ospiteremo le attività del corso di microscopia elettronica a scansione, sarà tenuto dai nostri esperti che saranno a disposizione dei corsisti durante i due giorni di discussione su temi quali: profondità di campo, risoluzione, aberrazioni, sistemi di vuoto, astigmatismo e molti altri.
I posti sono limitati per poter garantire una esperienza stimolante a tutti i partecipanti.
Durante il corso sarà possibile vedere in azione alcuni dei microscopi elettronici a scansione installati nel Demo space di Media System Lab nella Be Factory di Rovereto, saranno utilizzati SEM di modelli diversi per offrire una opportunità esperienziale più ampia.
Se sei interessato ad avere informazioni sul corso sem contattaci +39347942823 info@m-s.it
Profondità di campo
La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.
La nuova era della Microscopia elettronica
Vieni a conoscere la tecnologia Flim labs e a discutere con noi di Fluorescence Lifetime Analysis e Fuorescence Lifetime Imaging Microscopy, ad Aprile saremo a Bologna, a Maggio a Palermo, a Giugno a Milano e poi a Roma.
Se sei interessato ad ospitare questo evento nel tuo Istituto contattaci +39347942823 info@m-s.it
<strong>Le tante facce del detector BSE</strong>
Nel Microscopio Elettronico a Scansione, il fascio elettronico, generato dalla sorgente ed accelerato attraverso la colonna, giunge sul campione e ne scansiona la superficie. In ogni punto della scansione, l’interazione tra elettroni e materia produce dei segnali che vengono sfruttati dai detector presenti nel SEM per generare le immagini o effettuare analisi elementali.
I segnali più spesso utilizzati sono quello degli elettroni secondari (SE), quello degli elettroni retrodiffusi, o back-scattered (BSE), e quello dei raggi X.
Poiché gli elettroni secondari provengono da una zona più superficiale del campione rispetto agli elettroni retrodiffusi che sono generati in un volume di interazione più ampio, tendenzialmente le immagini per la caratterizzazione morfologica vengono acquisite con il detector SE. Tuttavia, i più recenti detector BSE sono ormai in grado di fornire immagini ad altissima risoluzione e con un elevato dettaglio morfologico, grazie ad una sensibilità migliorata che permette di lavorare anche alle basse tensioni di accelerazione, e ad una efficace pre-amplificazione che riduce il rumore e massimizza la velocità di risposta del sensore. Grazie al suo principio di funzionamento, il detector BSE può dare grandi soddisfazioni e riservare interessanti sorprese.
Come è fatto: lattine di alluminio
La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
C’è un nuovo detector che rivoluzionerà le tue analisi al SEM, è di Oxford Instruments ed è il primo al mondo a combinare segnali di elettroni retrodiffusi e raggi X 🔬 per produrre immagini a colori ad alta definizione con dati elementari.
Analisi chimica con EDS: 5 errori da evitare
Puoi dire di non sbagliare mai utilizzando la tua hashtag#microanalisi? 🔬L’analisi hashtag#EDS può rivelare errori di rilevamento degli elementi dovuti a parametri non ottimali. 📊L’acquisizione di immagini per la morfologia potrebbe compromettere l’analisi chimica. Gli operatori del SEM devono bilanciare le condizioni per evitare errori di rilevazione o sottostima degli elementi. Leggi i 5 errori più comuni e dicci se ne riconosci qualcuno 👇
hashtag#SEM hashtag#EDX hashtag#MicoscopiaElettronica
Media System Lab alla Aldo Armigliato school on Scanning electron microscopy in Material science
Noi di Media System Lab avremo l’onore di essere presenti alla School on SEM dedicata al Prof. Aldo Armigliato. Inoltre durante la giornata inaugurale della Scuola alle ore 14:15 durante il nostro speech introdurremo per la prima volta in Europa una partnership che cambierà il panorama del mercato della microscopia elettronica.
Uso degli standard per l’analisi EDS quantitativa
Dalle altezze relative dei picchi di uno spettro EDS è possibile ricavare informazioni di tipo quantitativo. Per poterlo fare è necessario correggere il valore dell’integrale di ciascun picco per tenere conto di diversi fattori che possono inficiare il calcolo, come ad esempio il valore del background o la parziale sovrapposizione di più picchi. Il software applica automaticamente gli opportuni algoritmi di correzione ed esegue un’analisi semi-quantitativa confrontando lo spettro ottenuto con un database di standard precaricato con i valori di fabbrica per l’analisi standardless (a 5 o 20 kV). Per migliorare la precisione del calcolo è possibile tuttavia utilizzare dei propri materiali standard di riferimento di cui sia nota l’esatta composizione chimica. I risultati migliori si hanno quando la composizione del campione e quella dello standard sono simili: in questo caso l’accuratezza della misura dipende solamente dalla catena di misura e dall’affidabilità delle concentrazioni dichiarate per lo standard. Se uno standard simile al campione non è disponibile, si impiegano standard “semplici” come elementi puri o ossidi. In questo caso l’interpretazione diventa meno precisa a causa dell’effetto matrice, che va quindi corretto applicando modelli matematici come il metodo ZAF (Z, numero atomico; A, coefficiente di assorbimento specifico; F, fluorescenza indotta).
Metodi non distruttivi di ricostruzione 3D al SEM
Se analizzati con le opportune tecniche analitiche (ad es. Microscopia elettronica a scansione), un numero inaspettatamente elevato di impianti dentali non mantiene la promessa di pulizia che dovrebbe essere garantita da un dispositivo medico in confezione sterile.
Analisi SEM-EDS per il recupero del silicio dai pannelli fotovoltaici a fine vita
Analisi SEM-EDS per il recupero del silicio dai pannelli fotovoltaici a fine vita
Cachemere o Lana? Chiediamolo al SEM
Cachemere o Lana? Chiediamolo al SEM
Failure analysis su PCB: nel labirinto del Minotauro
Failure analysis su PCB
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
Osservazione di campioni liquidi e semisolidi al SEM
Osservazione di campioni liquidi e semisolidi al SEM
