Consumabili

Offriamo un’ampia gamma di consumabili per la microscopia elettronica e altre applicazioni di laboratorio. Dalla preparazione dei campioni agli accessori per l’analisi, selezioniamo solo prodotti di alta qualità per garantire risultati affidabili.

Consulta la nostra lista, verifica i dati tecnici e trova ciò di cui hai bisogno. Il nostro team è a disposizione per supportarti nella scelta del miglior materiale per il tuo laboratorio.

Pinzette a mensola Micro-Tec AFM / SPM

Pinzette industriali Value-Tec

Pinza in acciaio inossidabile resistente alle pinze Value-Tec

Pinzette fini in acciaio inossidabile Value-Tec

Pinzette con punta in ceramica Value-Tec ZTA

Pinzette in plastica rinforzata con fibra di carbonio ESD EM-Tec

Pinzette con punta in ceramica intercambiabile EM-Tec ZC

Pinzette con punta in ceramica sostituibili sicure EM-Tec ZE ESD

Pinzette EM-Tec CT ESD sostituibili in plastica

Pinzette di movimentazione EM-Tec per scatole cryo grid

Pinzette EM-Tec SEM per tronchesi

Pinzette di manipolazione di wafer di precisione EM-Tec

Pinzette a chiusura inversa ad alta precisione con chiusura automatica EM-Tec

Pinzette in lega super EM di alta precisione EM-Tec

Pinzette sottili di alta precisione EM-Tec

Mini pinzette antimagnetiche di precisione EM-Tec

Pinzette di bloccaggio antimagnetico di alta precisione EM-Tec

Pinzette in titanio di alta precisione EM-Tec

Pinzette antimagnetiche di alta precisione EM-Tec

Pinzette per biologia di precisione ultra-EM-Tec

Vetrini per microscopio in metallo nero Micro-Tec

Vetrini e vetrini per microscopio al quarzo Micro-Tec

Vetrini per microscopio in vetro Micro-Tec

Vetrino per microscopio rivestito in oro Nano-Tec

Wafer di silicio con rivestimento in oro Nano-Tec

Dischi per substrati di quarzo Micro-Tec

Dischi e fogli di mica muscovite Nano-Tec

EM-Tec substrato griglia SEM finder in silicio

Wafer di silicio, substrati e supporti per campioni

Dischi in carbonio vitreo e dischi/piastre in grafite

Fluido di rivestimento SEM conduttivo

Cristalli di quarzo EM-Tec per monitor / controller di spessore

Barre di carbonio per l’evaporazione del carbonio

Targhet Disc pr Sputter

Sorgenti di evaporazione rivestite di allumina

Fili e materiali metallici EM-Tec per evaporazione sotto vuoto

Contenitori di spedizione EM-Storr per il trasporto di campioni EM

Kit sigillante resina epossidica vuoto Hysol 1C / Torr Seal

Olio per vuoto per pompe per vuoto a palette

Flange da vuoto EM-Tec

Manometri per test del vuoto a controllo rapido Micro-Tec

Vacuometri portatili di precisione Bullseye

Standard di calibrazione per graticole individuali Micro-Tec

Micrometri per lo stage e reticoli per microscopia ottica

Standard di calibrazione AFM / SPM e reticoli di prova

TipCheck esempio per la verifica dei suggerimenti AFM

Pozzo di faraday B100 EM-Tec per misurazioni della corrente del fascio

EM-Tec CXS standard di calibrazione e riferimento per EDS, WDS, BSD, CL e Raman

EM-Tec SEM Risoluzione standard di prova

Standard di calibrazione EM-Tec M-1 e M-10

EM-Tec LAMC-15 standard di calibrazione per ingrandimento di grandi aree

Standard di calibrazione del reticolo a bersaglio multiplo Micro-Tec MTC-5

Standard di calibrazione dell’ingrandimento serie EM-Tec MCS

Portainserti pre-inclinazione FIB EM-Tec

Stub a basso profilo EM-Tec per applicazioni FIB

Manipolatore per ciglia acriliche EM-Tec per ultramicrotomia

Pin di campionamento EM-Tec per crio-ultramicrotomi

EM-Tec tubi da incasso Ø3mm per la preparazione del campione TEM

Alternativa alla colorazione UranyLess TEM per l’acetato di uranile

Scatole di stoccaggio griglia EM-Tec e Gilder TEM

Film di supporto TEM di EM-Tec Graphene

K-kit camera porta campioni di liquido a celle umide TEM

Film di supporto e membrane in nitruro di silicio EM-Tec per EM

Film di Formvar per supporti TEM

Panoramica TEM Support Films

Strumento antistatico Zerostat 3

EM-Tec FIB lift-out grids

Griglie di supporto TEM Value-Tec

Griglie Gilder Griglie TEM in rame, nichel e oro

Griglie di supporto TEM EM-Tec

Porta campioni EM-Tec SEM

Supporti e tronchetti EM-Tec per i SEM da tavolo JEOL NeoScope

Strumenti di preparazione del campione TEM e strumenti per campioni di sezioni trasversali

Abbattitori acustici premium per i laboratori

Stub e supporti per campioni EM-Tec per Phenom desktop SEM

Stub e supporti per campioni EM-Tec per SEM da tavolo Hitachi

Kit e scatole per campionatore da campo e da laboratorio EM-Tec

Scatole portaoggetti stub EM-Tec

Steli a perno FEI Teneo VolumeScope con scanalatura

Gatan 3View stub, pinzette e scatola di memoria di esempio

Griglia SEM finder in silicio

Filamenti EM di tungsteno EBS

Supporti per stub per SEM

Adattatori stub campione EM-Tec SEM

Nastri e nastri in carbonio biadesivo conduttivi ad elevata purezza

Standard SEM supporti

REMET – Tecnologia avanzata per l'osservazione e lo studio dei campioni.

Strumenti avanzati di RMC Boeckeler per la preparazione di campioni in microscopia elettronica e ricerca scientifica

CIQTEK – Azienda specializzata in strumenti scientifici di alta precisione per l'analisi dei materiali e delle proprietà fisiche

Vac Coat, azienda specializzata in sistemi di rivestimento sottovuoto PVD per ricerca e preparazione di campioni SEM

Strumento Edax per microanalisi EDS, EBSD e WDS

Strumenti Bruker per analisi EDS, WDS ed EBSD su microscopi elettronici

Strumentazione CAMECA per microanalisi e metrologia avanzata

Sistemi di soppressione dei campi magnetici Spicer Consulting

Strumenti Oxford Instruments Nano Analysis per EDS, EBSD, WDS

Microscopi elettronici a trasmissione TEM da banco Delong Instruments

RIMANI AGGIORNATO

Iscriviti alla nostra newsletter