Analisi delle strutture metallorganiche (MOFs) in polvere

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la composizione e la microstruttura delle polveri delle materie prime influenzano le proprietà finali dei materiali. La distribuzione granulometrica delle particelle, la forma, la porosità e la superficie specifica delle polveri possono corrispondere a ben precise e peculiari proprietà del materiale. Pertanto la verifica e il controllo della materia prima in polvere è un prerequisito fondamentale.
Nel settore della catalisi, la realizzazione di materiali metallorganici (MOFs) per migliorare le prestazioni catalitiche superficiali è diventata oggi uno dei temi di ricerca più studiati. Scopriamo come il SEM può contribuire allo studio e allo sviluppo di questi materiali

Il SEM per lo studio della texture delle celle fotovoltaiche

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Nel settore delle energie rinnovabili, i sistemi per la produzione di energia solare fotovoltaica (PV) rivestono da molti anni un ruolo di primo piano. In quanto componente centrale della produzione di energia fotovoltaica, le celle PV sono sempre oggetto di sviluppo e ottimizzazione. Il microscopio elettronico a scansione (SEM) svolge un ruolo fondamentale sia nell’ambito R&D che in quello del miglioramento del processo produttivo delle celle fotovoltaiche.

Detto in maniera molto sintetica, una cella PV è un sottile foglio (wafer) di materiale semiconduttore in grado di convertire l’energia solare in energia elettrica. Le celle fotovoltaiche attualmente in commercio e prodotte in serie sono principalmente celle in silicio, che si dividono in celle in silicio monocristallino, celle in silicio policristallino e celle in silicio amorfo.

Nell’attuale processo di produzione delle celle fotovoltaiche, al fine di migliorare ulteriormente l’efficienza di conversione energetica, sulla superficie della cella viene solitamente realizzata una speciale struttura texturizzata. Nello specifico, la texture sulla superficie di queste celle incrementa l’assorbimento della luce grazie all’aumentato numero di riflessioni della luce irradiata sulla superficie del wafer di silicio. Questa particolare texture non solo riduce la riflettività finale della superficie, ma crea anche “trappole di luce” all’interno della cella, aumentando così in modo significativo l’efficienza di conversione della cella stessa, anche a diversi angoli di incidenza (Fig.1). Rispetto ad una superficie piana, infatti, un wafer di silicio con struttura superficiale piramidale ha una maggiore probabilità che la componente riflessa dalla luce incidente agisca nuovamente sulla superficie del wafer anziché riflettersi in aria, consentendo l’assorbimento di più fotoni e fornendo dunque più coppie elettrone-lacuna.

Analisi dei materiali ceramici con microscopia elettronica a scansione

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I materiali ceramici presentano una serie di proprietà tra cui elevato punto di fusione, elevata durezza, ottima resistenza all’usura e resistenza all’ossidazione, e per questo sono ampiamente utilizzati in svariati settori come l’industria elettronica, automobilistica, tessile, chimica e aerospaziale. Le proprietà fisiche dei materiali ceramici dipendono in gran parte dalla loro microstruttura, che è possibile caratterizzare grazie all’osservazione al SEM.

I materiali ceramici sono una classe di materiali inorganici non metallici realizzati a partire da composti naturali o sintetici mediante formatura e sinterizzazione ad alta temperatura, e possono essere suddivisi in materiali ceramici generali e materiali ceramici speciali.

I materiali ceramici speciali possono essere a loro volta classificati o in base alla composizione chimica: ceramiche su base ossidi, nitruri, carburi, boruri, siliciuri, ecc.; oppure in base alle loro caratteristiche e applicazioni: ceramiche strutturali e ceramiche funzionali.

Il posto dei microscopisti

Siamo così come ci vedi: trasparenti e pieni di passione per il nostro lavoro. Essere affidabili è un obiettivo che ogni membro del nostro team sente suo e ci impegniamo per poter garantire sempre il meglio ai nostri clienti: la nostra professionalità è il nostro biglietto da visita!
contattaci +39347942823 info@m-s.it

Corso di Microscopia elettronica a scansione

La nostra attività di formazione ad alto valore tecnico continua, abbiamo già fissato le date per il prossimo corso SEM. Nella nostra sede di Rovereto ospiteremo le attività del corso di microscopia elettronica a scansione, sarà tenuto dai nostri esperti che saranno a disposizione dei corsisti durante i due giorni di discussione su temi quali: profondità di campo, risoluzione, aberrazioni, sistemi di vuoto, astigmatismo e molti altri.

I posti sono limitati per poter garantire una esperienza stimolante a tutti i partecipanti.

Durante il corso sarà possibile vedere in azione alcuni dei microscopi elettronici a scansione installati nel Demo space di Media System Lab nella Be Factory di Rovereto, saranno utilizzati SEM di modelli diversi per offrire una opportunità esperienziale più ampia.

Se sei interessato ad avere informazioni sul corso sem contattaci +39347942823 info@m-s.it

Profondità di campo

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La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.

La nuova era della Microscopia elettronica

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Vieni a conoscere la tecnologia Flim labs e a discutere con noi di Fluorescence Lifetime Analysis e Fuorescence Lifetime Imaging Microscopy, ad Aprile saremo a Bologna, a Maggio a Palermo, a Giugno a Milano e poi a Roma.

Se sei interessato ad ospitare questo evento nel tuo Istituto contattaci +39347942823 info@m-s.it

<strong>Le tante facce del detector BSE</strong>

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Nel Microscopio Elettronico a Scansione, il fascio elettronico, generato dalla sorgente ed accelerato attraverso la colonna, giunge sul campione e ne scansiona la superficie. In ogni punto della scansione, l’interazione tra elettroni e materia produce dei segnali che vengono sfruttati dai detector presenti nel SEM per generare le immagini o effettuare analisi elementali.

I segnali più spesso utilizzati sono quello degli elettroni secondari (SE), quello degli elettroni retrodiffusi, o back-scattered (BSE), e quello dei raggi X.

Poiché gli elettroni secondari provengono da una zona più superficiale del campione rispetto agli elettroni retrodiffusi che sono generati in un volume di interazione più ampio, tendenzialmente le immagini per la caratterizzazione morfologica vengono acquisite con il detector SE. Tuttavia, i più recenti detector BSE sono ormai in grado di fornire immagini ad altissima risoluzione e con un elevato dettaglio morfologico, grazie ad una sensibilità migliorata che permette di lavorare anche alle basse tensioni di accelerazione, e ad una efficace pre-amplificazione che riduce il rumore e massimizza la velocità di risposta del sensore. Grazie al suo principio di funzionamento, il detector BSE può dare grandi soddisfazioni e riservare interessanti sorprese.

Come è fatto: lattine di alluminio

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La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.

Nuovo Corso EDS a Rovereto – SOLD OUT!

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Il 14 e 15 Maggio, presso il nostro ufficio situato nella Be Factory di Rovereto, avremo il piacere di ospitare un corso innovativo sulla Microanalisi a dispersione di energia (EDS). Guidato dai nostri esperti di EDS e Microscopia elettronica a scansione, il corso promette di offrire un’esperienza intensiva e informativa.

Il programma del corso è stato attentamente strutturato per offrire una panoramica completa delle fondamenta e delle tecniche avanzate nell’ambito della microanalisi. Si inizia con un’analisi dell’interazione elettrone-materia, seguita dall’approfondimento dei componenti di un sistema EDS e della preparazione dei campioni per l’analisi.

Attraverso sessioni teoriche e pratiche, i partecipanti esploreranno le tecniche di analisi elementare qualitativa e quantitativa, inclusi approcci con e senza standard reali/virtuali. Saranno inoltre esaminate strategie per affrontare la disomogeneità nei campioni e per ottimizzare l’analisi chimica.

Il corso culminerà in sessioni pratiche al SEM-EDS, in cui metteremo in pratica le informazioni teoriche discuteremo i risultati ottenuti. Le sessioni di domande e risposte forniranno ulteriore chiarezza e approfondimento su argomenti specifici.

Da notare che il corso è a numero chiuso, garantendo un’attenzione personalizzata a ciascun partecipante. Il costo dell’iscrizione include i pranzi e il pernottamento in hotel, offrendo un’esperienza completa e confortevole. Inoltre, i clienti SEM Media System Lab potranno beneficiare di un significativo sconto sull’iscrizione, come segno del nostro apprezzamento per la loro fiducia e collaborazione.

BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector

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C’è un nuovo detector che rivoluzionerà le tue analisi al SEM, è di Oxford Instruments ed è il primo al mondo a combinare segnali di elettroni retrodiffusi e raggi X 🔬 per produrre immagini a colori ad alta definizione con dati elementari.

Analisi chimica con EDS: 5 errori da evitare

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Puoi dire di non sbagliare mai utilizzando la tua hashtag#microanalisi? 🔬L’analisi hashtag#EDS può rivelare errori di rilevamento degli elementi dovuti a parametri non ottimali. 📊L’acquisizione di immagini per la morfologia potrebbe compromettere l’analisi chimica. Gli operatori del SEM devono bilanciare le condizioni per evitare errori di rilevazione o sottostima degli elementi. Leggi i 5 errori più comuni e dicci se ne riconosci qualcuno 👇
hashtag#SEM hashtag#EDX hashtag#MicoscopiaElettronica

Uso degli standard per l’analisi EDS quantitativa

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Dalle altezze relative dei picchi di uno spettro EDS è possibile ricavare informazioni di tipo quantitativo. Per poterlo fare è necessario correggere il valore dell’integrale di ciascun picco per tenere conto di diversi fattori che possono inficiare il calcolo, come ad esempio il valore del background o la parziale sovrapposizione di più picchi. Il software applica automaticamente gli opportuni algoritmi di correzione ed esegue un’analisi semi-quantitativa confrontando lo spettro ottenuto con un database di standard precaricato con i valori di fabbrica per l’analisi standardless (a 5 o 20 kV). Per migliorare la precisione del calcolo è possibile tuttavia utilizzare dei propri materiali standard di riferimento di cui sia nota l’esatta composizione chimica. I risultati migliori si hanno quando la composizione del campione e quella dello standard sono simili: in questo caso l’accuratezza della misura dipende solamente dalla catena di misura e dall’affidabilità delle concentrazioni dichiarate per lo standard. Se uno standard simile al campione non è disponibile, si impiegano standard “semplici” come elementi puri o ossidi. In questo caso l’interpretazione diventa meno precisa a causa dell’effetto matrice, che va quindi corretto applicando modelli matematici come il metodo ZAF (Z, numero atomico; A, coefficiente di assorbimento specifico; F, fluorescenza indotta).

Presentazione esclusiva Oxford Nanoanalysis a Rovereto

workshop oxford nanoanalysis e Media Sysem Lab

Oxford Instruments, in collaborazione con Media System Lab, è lieta di invitarvi al primo workshop in Europa di presentazione del nuovo rivelatore “Unity”, in uscita a giugno 2023. Il sistema BEX (Backscatter Electron and X-ray) è una tecnologia innovativa che visualizza informazioni sulla composizione da raggi X caratteristici in parallelo con gli elettroni retrodiffusi, fornendo […]

Dimmi che righe K, L, M hai e ti dirò che spettro sei

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Chi si occupa di analisi mediante spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (#EDS o #EDX), è abituato ad usare la denominazione K, L, M per identificare le righe spettrali caratteristiche degli elementi della tavola periodica. Ma da dove arriva questa denominazione? Come possiamo sfruttare gli spettri EDS acquisiti per riconoscere automaticamente un materiale?

Sold Out!

Il workshop a Roma del Microscopio elettronico della Delong Instruments LVEM25E è andato sold-out, tutto esaurito nell’arco di pochi giorni. Abbiamo quindi deciso di offrire una possibilità in più per poter provare questo innovativo e versatile All-in-One Electron Microscope LVEM25E dal 21 al 23 Giugno. Un solo posto disponibile dunque a chi ci contatterà per […]

Preparazione dei campioni per Solder Bump Joint Failure Analysis

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La failure analysis al microscopio elettronico sui microgiunti di saldatura nei dispositivi elettronici è fondamentale per garantire l’affidabilità dei dispositivi stessi. La Broad Ion Beam Milling con ioni Argon è la tecnica di preparazione del campione ideale, perché non introduce deformazioni o modifiche strutturali, garantendo una corretta valutazione del campione. Scopri i vantaggi del #BIBmilling e come ottenere il campione perfetto per le tue analisi al #SEM, #EDS ed #EBSD. #semiconduttori #semiconductors #microelettronica #electronicdevice #failureanalysis #solderbump #solderjoint #ionmill #SEMmill #ionpolishing

Lo strano caso del biossido di Titanio: innocuo o pericoloso?

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Il biossido di Titanio è un additivo ampiamente utilizzato in molti prodotti alimentari, cosmetici e farmaceutici, tra cui il dentifricio. Nel 2021, l’EFSA ha stabilito che il TiO2 non dovrebbe essere considerato sicuro come additivo alimentare a causa di possibili infiammazioni e neurotossicità. L’EMA ha bandito il TiO2 come additivo alimentare nell’UE dal 7 agosto 2022. Tuttavia, la FDA negli Stati Uniti e la Health Canada considerano il TiO2 sicuro come colorante e ingrediente dei prodotti per la protezione solare. Il TiO2 si presenta in due differenti gradi, pigmento e nanometrico e può entrare nell’organismo tramite inalazione, ingestione, iniezione ed esposizione cutanea. Nel dentifricio, dove viene utilizzato principalmente come colorante, la quantità di TiO2 usata è molto bassa e il rischio di tossicità è improbabile, ma è importante verificare la dimensione delle particelle presenti. Alcuni studi suggeriscono l’uso del microscopio elettronico ed eds per osservare le particelle presenti nella pasta del dentifricio.

Occasione solo per 10 fortunati

Workshop in Italia a Roma dell’ All-in-One Electron Microscope LVEM25E dal 21 al 23 Giugno, solo 10 posti prenotabili per una demo privata avrete circa due ore per provare tutte le modalità di cui è equipaggiato questo incredibile microscopio elettronico: TEM, SEM, STEM, EDS, Diffrazione (ED) cliccate sul link qui sotto: ALL-IN-ONE ELECTRON MICROSCOPE

Workshop All-in-One Electron microscope a Roma 21-23 Giugno 2023

Il microscopio all-in-one LVEM25E della Delong Instruments sarà a vostra disposizione, per una demo privata con i vostri campioni a Roma dal 21 al 23 Giugno prezzo l’Università Tor Vergata. Pre prenotare la vostra demo privata dovete contattarci via e-mail a info@m-s.it o telefonicamente allo 3517603399 o attraverso il vostro commerciale Media System Lab di […]

Leghe di rame per la Stampa 3D (Additive Manufacturing)

Il rame costituisce una delle aree più promettenti della stampa 3D in metallo in diversi settori, dai motori elettrici ai dissipatori di calore. In precedenza, la stampa 3D con il rame rappresentava una vera e propria sfida, a causa della riflettività del metallo e dell’elevata conducibilità termica, ma i progressi nelle stampanti e nei materiali hanno ampiamente superato queste prime sfide.

Un pesticida anti-tumorale?

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Tra le sfide più grandi della ricerca mondiale, la lotta contro il cancro rappresenta uno degli ostacoli maggiori. Negli ultimi decenni, l’oncologia ha fatto passi da gigante affrontando questa sfida con molteplici strategie. Dalla chemioterapia alla radioterapia, dall’immunoterapia alla fototerapia, il trattamento delle neoplasie si basa su svariati approcci. Tra le strategie più diffuse troviamo la chemioterapia, ovvero la somministrazione di una o più sostanze capaci di aggredire le cellule che si moltiplicano più rapidamente, quindi quelle cancerose.

Materiali plastici da riciclo: la normativa UNI 10667

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Grazie all’introduzione delle normative UNI 10667 ad opera della commissione tecnica Uniplast (Ente Italiano di Unificazione nelle Materie Plastiche), sono stati definiti i requisiti e i metodi di prova da applicare alle materie plastiche derivanti dalla raccolta dei rifiuti o da sottoprodotti di lavorazione, e destinate ad essere utilizzate come materie prime secondarie.

Microscopia elettronica a scansione a basso vuoto

sem microscopio elettronico

Dagli albori della tecnica, la microscopia elettronica a scansione è stata via via sempre più soggetta a miglioramenti e sviluppi che hanno dato luce a nuove modalità di imaging: tra queste, alcune hanno anche permesso di sopperire a varie criticità, permettendo di espandere l’insieme delle possibili applicazioni della tecnica e, conseguentemente, le varie tipologie di campioni osservabili attraverso il microscopio elettronico a scansione.

Quando si dice: hai il microscopio a due fotoni nel sangue

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L’apparato cardiocircolatorio è l’insieme di organi e vasi che permettono al sangue di circolare nel nostro organismo. Tale sistema distribuisce ossigeno e nutrienti a tutti gli organi e tessuti e come tutti noi sappiamo è indispensabile per la nostra sopravvivenza. L’arresto del battito cardiaco e la mancanza di sangue ossigenato comportano danni cerebrali irreversibili in pochi minuti e conduce alla morte in meno di 10 minuti. Le malattie cardiovascolari sono la principale causa di morte al mondo, sottolineando indiscutibilmente l’importanza della ricerca in questo campo. Lo studio dell’appartato cardiocircolatorio avviene con varie strategie e anche la microscopia ricopre un ruolo determinante.

Best practice per la pulizia di stub e supporti SEM

Gli stub sono quei supporti standard che vengono utilizzati per montare i campioni in microscopia elettronica a scansione (SEM). Sono realizzati in alluminio vacuum grade e devono essere puliti quando si montano i campioni, per evitare contaminazioni in camera o sui campioni stessi.

Quando il SEM è delicato

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L’utilizzo di basse tensioni di accelerazione per l’acquisizione di immagini al SEM rappresenta una delle modalità operative più impegnative ma al tempo stesso stimolanti. Dato che, riducendo l’energia degli elettroni che impattano con la superficie del campione, gli elettroni secondari vengono generati da una regione del campione spazialmente più contenuta, i maggiori vantaggi di questa modalità si esplicano in un aumento della risoluzione laterale e un maggior accento alla morfologia, e perciò al dettaglio superficiale, a discapito del contrasto

Metodi non distruttivi di ricostruzione 3D al SEM

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Se analizzati con le opportune tecniche analitiche (ad es. Microscopia elettronica a scansione), un numero inaspettatamente elevato di impianti dentali non mantiene la promessa di pulizia che dovrebbe essere garantita da un dispositivo medico in confezione sterile.

Uno, nessuno e centomila

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analisi di metalli, ceramici, coating, polveri o altri materiali, sia che l’immagine provenga da un microscopio ottico o elettronico o sia stata ottenuta con altre tecniche analitiche, avvalersi di software basati su Machine Learning ormai semplici da usare e alla portata di tutti, non solo permette di ridurre i tempi di lavoro, ma è anche un valido aiuto per uniformare una metodologia e garantire una migliore ripetibilità dei risultati.

Microanalisi in microscopia elettronica? Chiedi agli esperti

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La spettroscopia a dispersione di energia, dall’inglese Energy Dispersive Spectroscopy (EDS), è una tecnica potente e versatile; molto spesso, essa viene accoppiata alla microscopia elettronica così da massimizzarne i vantaggi ed espandere l’insieme dei possibili campi di applicazione.

Controllo qualità su impianti dentali mediante tecnica SEM-EDS

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La tecnica SEM-EDS rappresenta il migliore strumento a disposizione dei produttori di impianti dentali per poter eseguire un controllo qualità adeguato e affidabile, in quanto con il microscopio elettronico a scansione si analizza la morfologia del campione e con la microanalisi gli elementi chimici presenti

Ingrandimento e campo visivo al SEM

Come possiamo fidarci della misura riportata sulla “scale bar” di ogni SEM? Media System Lab fornisce standard certificati e tracciabili con cui è possibile verificare ed eventualmente ricalibrare la dimensione dell’immagine visualizzata al microscopio elettronico. Durante l’acquisizione di un’immagine, lo scan generator del SEM deflette il fascio elettronico sul campione, mentre i detector SE e BSE raccolgono gli elettroni secondari e retrodiffusi per ogni posizione x, y del fascio.

Identificazione automatica di fibre per l’analisi di amianto e FAV

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L’analisi automatizzata di fibre di amianto e fibre artificiali vetrose (FAV) mediante microscopio elettronico a scansione (SEM) e microanalisi a dispersione di energia (EDS) rappresenta un’innovativa implementazione della tecnica che consente di caratterizzare campioni in modo rapido e affidabile e sono molti i laboratori qualificati dal Ministero della Salute che la usano per identificare e quantificare la presenza di amianto nei campioni ambientali. Nello specifico consente di misurare la quantità, la morfologia e la composizione di fibre sospette costituite ad esempio da asbesto o da lane minerali utilizzate come isolanti nell’edilizia e in altre applicazioni.

Corso EDS

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16-17 Ottobre 2019, ospiteremo un nuovo corso EDS, analisi chimica per la caratterizzazione del campione con la Microscopia elettronica a scansione, i nostri tecnici esperti in SEM ed EDS durante due giorni di esporranno le tecniche di analisi, l’hardware, il software e i trucchi del mestiere per accompagnare i partecipanti in un viaggio attraverso gli […]