Sputter o Evaporatore Termico?
Sistema da laboratorio per sputtering magnetron e PVD, ideale per la deposizione controllata di film sottili su diversi substrati. Offre configurazioni personalizzabili, elevate prestazioni e massima precisione nei processi di deposizione sottovuoto.
Corso SEM – 21-22 Ottobre 2025, Rovereto
Partecipa al corso SEM a Rovereto il 21-22 ottobre 2025. Due giorni di formazione tecnica sul microscopio elettronico a scansione.
CNR ITAE di Messina
Oggi pubblichiamo una breve intervista con la Dott.ssa Cannilla del CNR ITAE di Messina, cliente del supporto service di Media System Lab, conosciamo la sua attività e il supporto che negli anni Media System Lab ha portato al suo gruppo di lavoro.”
Analisi elementare del vetro al SEM
L’analisi elementare al SEM con EDS è un potente strumento per la caratterizzazione chimica e morfologica del vetro, utile per determinare la composizione e la qualità dei campioni. Queste tecniche permettono di esaminare in dettaglio i materiali e di controllare la loro idoneità per applicazioni specifiche, come quelle farmaceutiche.
La ricostruzione 3D al SEM per lo sviluppo di modelli a supporto delle terapie in parodontologia e odontoiatria restaurativa
L’usura cervicale dei denti, legata a spazzolamento eccessivo, è un fenomeno moderno. Uno studio con SEM e modellizzazione 3D ha permesso di caratterizzare l’abrasione dentale e creare criteri diagnostici utili in parodontologia e odontoiatria restaurativa.
Analisi della morfologia dei farmaci a rilascio prolungato mediante microscopia elettronica a scansione (SEM)
I farmaci a rilascio prolungato migliorano l’efficacia e l’esperienza del paziente. La morfologia delle particelle, studiata con SEM e Ion-Polisher, rivela differenze tra farmaci generici e innovativi, con particelle più uniformi e cavità interne che favoriscono un rilascio più lento.
Analisi dei coatings con il microscopio elettronico
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) è uno strumento fondamentale per l’analisi dei coating, permettendo di indagare morfologia, composizione chimica e ottimizzare i parametri di processo. L’articolo esplora esempi pratici di applicazione SEM su coating depositati tramite diverse tecnologie, come PVD, e su trattamenti di fosfatazione. Vengono anche trattati gli aspetti di controllo qualità e la creazione di mappe di spessore per rivestimenti sottili.
Il SEM FEG 5000X nello studio dei setacci molecolari: bassa tensione, alta risoluzione
I setacci molecolari sono materiali essenziali in molti settori industriali grazie alla loro capacità di selezionare molecole in base a forma e dimensione. La microscopia elettronica SEM permette di analizzarne con precisione struttura, morfologia e distribuzione dei pori. Attraverso esempi come ZSM-5 e SBA-15, osservati con il SEM5000X CIQTEK, è possibile correlare la morfologia alla reattività, alla selettività e alla stabilità dei materiali, migliorando l’efficienza dei processi di sintesi e applicazione.
Come si preparano i funghi… per il SEM?
La microscopia elettronica SEM permette di ottenere immagini ad alta risoluzione di organismi e strutture biologiche. Con il SEM3200 di CIQTEK, combinato a un protocollo semplice e veloce basato su essicazione chimica con HMDS o TBA, è possibile osservare dettagli morfologici senza artefatti. Questo approccio rappresenta una valida alternativa ai metodi tradizionali, offrendo risultati affidabili e accessibili anche a livello economico.
Le cause del danneggiamento per fatica su scala sub-millimetrica
La fatica è un processo di degrado progressivo che interessa i materiali sottoposti a sollecitazioni cicliche, portando spesso a rotture anche al di sotto del limite elastico. Questo articolo approfondisce il fenomeno nei materiali metallici, analizzando l’effetto dei difetti interni, delle disomogeneità microstrutturali e delle dislocazioni cristalline. Grazie all’impiego di tecniche avanzate come SEM, EBSD e FIB-SEM, è possibile visualizzare la struttura interna del materiale e identificare le cause dell’innesco e della propagazione delle cricche. L’obiettivo è comprendere meglio il comportamento a fatica per migliorare l’affidabilità dei componenti meccanici.
Nano-lavorazione con FIB-SEM per la preparazione dei campioni per le analisi al TEM
Il microscopio Dual Beam DB500 di CIQTEK unisce fascio elettronico e ionico per analisi e preparazione di campioni a livello nanometrico. Ideale per la ricerca avanzata in nanotecnologie, scienza dei materiali e semiconduttori, offre prestazioni eccezionali, risoluzione elevata e versatilità nelle applicazioni. Dispone di un nano-manipolatore integrato e un sistema di espansione che lo rende uno strumento potente per la ricerca e l’industria.
Immagini SEM a bassa tensione
L’uso di SEM a bassa tensione offre vantaggi nella morfologia dei campioni, riducendo il rischio di carica elettrica e migliorando la risoluzione. A basse tensioni, è possibile evitare la preparazione complessa dei campioni e osservare materiali non conduttivi in vuoto. Il bilanciamento della carica e la gestione della tensione di accelerazione sono cruciali per ottenere immagini chiare e dettagliate. L’articolo esplora anche l’uso delle tecniche ESEM e Low Vacuum per analisi ottimali.
Microscopia elettronica nella produzione di batterie
Il controllo della microstruttura del rame è fondamentale per migliorare le prestazioni degli elettrodi nelle batterie al litio. Grazie al SEM (microscopia elettronica a scansione) e all’analisi EDS, è possibile valutare purezza e morfologia del rame durante le fasi di raffinazione ed elettrodeposizione. Trattamenti specifici come il roughening migliorano l’adesione dei materiali, ottimizzando l’efficienza della batteria e riducendo i rischi strutturali.
NanoInnovation 2024
Il Congresso di microscopia elettronica italiano NanoInnovation 2024 si svolgerà a Roma dal 9 al 13 Settembre e Media System Lab ci sarà. Saremo presenti anche con uno dei nuovi SEM Ciqtek che sarà a disposizione di chiunque vorrà testarlo durante gli orari di apertura del Congresso ed è già possibile prenotare live demo chiamando […]
Electron Microscopy Congress 2024
Il Congresso di microscopia elettronica più importante d’Europa apre le porte e Media System Lab ci sarà. Nel Gennaio 2020 abbiamo partecipato a Copenhagen alla riunione per la presentazione agli espositori dell’EMC20 che si sarebbe dovuto tenere nell’Agosto dello stesso anno al centro congressi Bella Center ma la pandemia da SARS-COV-2 ha cambiato i piani […]
L’uso del microscopio elettronico nel settore Food.
La microscopia elettronica a scansione (SEM), è una tecnica potente per lo studio della struttura degli alimenti, influenzata dai parametri di lavorazione e dagli ingredienti. ??
Il SEM offre una visualizzazione dettagliata delle caratteristiche superficiali e interne degli alimenti, con una profondità di campo molto maggiore rispetto alla microscopia ottica.
Negli ultimi anni, l’analisi della microstruttura degli alimenti ha guadagnato importanza poiché la struttura interna può influenzare il valore nutrizionale, la reologia e la texture degli alimenti. I processi di lavorazione possono alterare la struttura naturale e la composizione, provocando cambiamenti chimici e fisici che possono ridurre la biodisponibilità dei nutrienti.
L’osservazione al SEM dei campioni alimentari presenta alcuni vantaggi, come una preparazione relativamente semplice. Tuttavia, la natura chimico-fisica dei campioni può limitare l’uso di tecniche SEM convenzionali. Diverse tecniche di preparazione e osservazione sono utilizzate per superare queste limitazioni
La microscopia elettronica a scansione nella failure analysis
Sai riconoscere le diverse tipologie di frattura su una superficie metallica? Scopri nel nostro ultimo articolo come il hashtag#SEM può essere il tuo migliore alleato nella Failure Analysis sui metalli.
L’importanza del diaframma nelle batterie agli ioni di litio
L’uso della microscopia elettronica a scansione con sorgente a emissione di campo (SEM-FEG) permette di caratterizzare la forma, la dimensione e la distribuzione dei pori nel diaframma, componente chiave nella realizzazione delle batterie agli ioni di litio. Vediamo come
Media System Lab e Flim Labs a Palermo
Workshop sulle Metodologie Avanzate di Investigazione: Unitevi a Noi all’Università di Palermo!
Fluorescence Lifetime Analysis, FLIM e Live-Cell Label-Free imaging con il microscopio olotomografico Nanolive.
Analisi delle strutture metallorganiche (MOFs) in polvere
la composizione e la microstruttura delle polveri delle materie prime influenzano le proprietà finali dei materiali. La distribuzione granulometrica delle particelle, la forma, la porosità e la superficie specifica delle polveri possono corrispondere a ben precise e peculiari proprietà del materiale. Pertanto la verifica e il controllo della materia prima in polvere è un prerequisito fondamentale.
Nel settore della catalisi, la realizzazione di materiali metallorganici (MOFs) per migliorare le prestazioni catalitiche superficiali è diventata oggi uno dei temi di ricerca più studiati. Scopriamo come il SEM può contribuire allo studio e allo sviluppo di questi materiali
La semplicità non è più un optional
Lo sviluppo tecnologico, informatico e molecolare ha portato alla creazione di microscopi con prestazioni sempre migliori arrivando addirittura a superare il limite ottico di risoluzione (200nm). Tuttavia, la crescente performance corrisponde ad un’inevitabilmente crescita della complessità degli strumenti e quindi del loro utilizzo. Di conseguenza, la vera sfida odierna non è più produrre microscopi dalle performance eccezionali, ma di combinare qualità d’immagine e facilità d’utilizzo. Per quanto la necessità di immagini ad altissime risoluzioni sia essenziale, la rapidità nelle analisi e nella produzione di risultati, la semplicità della gestione dei dati e della loro quantificazione iniziano ad avere un peso sempre più importante, se non addirittura maggiore, sulla complessa bilancia del microscopio perfetto.
Il SEM per lo studio della texture delle celle fotovoltaiche
Nel settore delle energie rinnovabili, i sistemi per la produzione di energia solare fotovoltaica (PV) rivestono da molti anni un ruolo di primo piano. In quanto componente centrale della produzione di energia fotovoltaica, le celle PV sono sempre oggetto di sviluppo e ottimizzazione. Il microscopio elettronico a scansione (SEM) svolge un ruolo fondamentale sia nell’ambito R&D che in quello del miglioramento del processo produttivo delle celle fotovoltaiche.
Detto in maniera molto sintetica, una cella PV è un sottile foglio (wafer) di materiale semiconduttore in grado di convertire l’energia solare in energia elettrica. Le celle fotovoltaiche attualmente in commercio e prodotte in serie sono principalmente celle in silicio, che si dividono in celle in silicio monocristallino, celle in silicio policristallino e celle in silicio amorfo.
Nell’attuale processo di produzione delle celle fotovoltaiche, al fine di migliorare ulteriormente l’efficienza di conversione energetica, sulla superficie della cella viene solitamente realizzata una speciale struttura texturizzata. Nello specifico, la texture sulla superficie di queste celle incrementa l’assorbimento della luce grazie all’aumentato numero di riflessioni della luce irradiata sulla superficie del wafer di silicio. Questa particolare texture non solo riduce la riflettività finale della superficie, ma crea anche “trappole di luce” all’interno della cella, aumentando così in modo significativo l’efficienza di conversione della cella stessa, anche a diversi angoli di incidenza (Fig.1). Rispetto ad una superficie piana, infatti, un wafer di silicio con struttura superficiale piramidale ha una maggiore probabilità che la componente riflessa dalla luce incidente agisca nuovamente sulla superficie del wafer anziché riflettersi in aria, consentendo l’assorbimento di più fotoni e fornendo dunque più coppie elettrone-lacuna.
Analisi dei materiali ceramici con microscopia elettronica a scansione
I materiali ceramici presentano una serie di proprietà tra cui elevato punto di fusione, elevata durezza, ottima resistenza all’usura e resistenza all’ossidazione, e per questo sono ampiamente utilizzati in svariati settori come l’industria elettronica, automobilistica, tessile, chimica e aerospaziale. Le proprietà fisiche dei materiali ceramici dipendono in gran parte dalla loro microstruttura, che è possibile caratterizzare grazie all’osservazione al SEM.
I materiali ceramici sono una classe di materiali inorganici non metallici realizzati a partire da composti naturali o sintetici mediante formatura e sinterizzazione ad alta temperatura, e possono essere suddivisi in materiali ceramici generali e materiali ceramici speciali.
I materiali ceramici speciali possono essere a loro volta classificati o in base alla composizione chimica: ceramiche su base ossidi, nitruri, carburi, boruri, siliciuri, ecc.; oppure in base alle loro caratteristiche e applicazioni: ceramiche strutturali e ceramiche funzionali.
Il posto dei microscopisti
Siamo così come ci vedi: trasparenti e pieni di passione per il nostro lavoro. Essere affidabili è un obiettivo che ogni membro del nostro team sente suo e ci impegniamo per poter garantire sempre il meglio ai nostri clienti: la nostra professionalità è il nostro biglietto da visita!
contattaci +39347942823 info@m-s.it
Corso di Microscopia elettronica a scansione
La nostra attività di formazione ad alto valore tecnico continua, abbiamo già fissato le date per il prossimo corso SEM. Nella nostra sede di Rovereto ospiteremo le attività del corso di microscopia elettronica a scansione, sarà tenuto dai nostri esperti che saranno a disposizione dei corsisti durante i due giorni di discussione su temi quali: profondità di campo, risoluzione, aberrazioni, sistemi di vuoto, astigmatismo e molti altri.
I posti sono limitati per poter garantire una esperienza stimolante a tutti i partecipanti.
Durante il corso sarà possibile vedere in azione alcuni dei microscopi elettronici a scansione installati nel Demo space di Media System Lab nella Be Factory di Rovereto, saranno utilizzati SEM di modelli diversi per offrire una opportunità esperienziale più ampia.
Se sei interessato ad avere informazioni sul corso sem contattaci +39347942823 info@m-s.it
Profondità di campo
La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.
La nuova era della Microscopia elettronica
Vieni a conoscere la tecnologia Flim labs e a discutere con noi di Fluorescence Lifetime Analysis e Fuorescence Lifetime Imaging Microscopy, ad Aprile saremo a Bologna, a Maggio a Palermo, a Giugno a Milano e poi a Roma.
Se sei interessato ad ospitare questo evento nel tuo Istituto contattaci +39347942823 info@m-s.it
Le tante facce del detector BSE
Nel Microscopio Elettronico a Scansione, il fascio elettronico, generato dalla sorgente ed accelerato attraverso la colonna, giunge sul campione e ne scansiona la superficie. In ogni punto della scansione, l’interazione tra elettroni e materia produce dei segnali che vengono sfruttati dai detector presenti nel SEM per generare le immagini o effettuare analisi elementali.
I segnali più spesso utilizzati sono quello degli elettroni secondari (SE), quello degli elettroni retrodiffusi, o back-scattered (BSE), e quello dei raggi X.
Poiché gli elettroni secondari provengono da una zona più superficiale del campione rispetto agli elettroni retrodiffusi che sono generati in un volume di interazione più ampio, tendenzialmente le immagini per la caratterizzazione morfologica vengono acquisite con il detector SE. Tuttavia, i più recenti detector BSE sono ormai in grado di fornire immagini ad altissima risoluzione e con un elevato dettaglio morfologico, grazie ad una sensibilità migliorata che permette di lavorare anche alle basse tensioni di accelerazione, e ad una efficace pre-amplificazione che riduce il rumore e massimizza la velocità di risposta del sensore. Grazie al suo principio di funzionamento, il detector BSE può dare grandi soddisfazioni e riservare interessanti sorprese.
Come è fatto: lattine di alluminio
La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.
Nuovo Corso EDS a Rovereto – SOLD OUT!
Il 14 e 15 Maggio, presso il nostro ufficio situato nella Be Factory di Rovereto, avremo il piacere di ospitare un corso innovativo sulla Microanalisi a dispersione di energia (EDS). Guidato dai nostri esperti di EDS e Microscopia elettronica a scansione, il corso promette di offrire un’esperienza intensiva e informativa.
Il programma del corso è stato attentamente strutturato per offrire una panoramica completa delle fondamenta e delle tecniche avanzate nell’ambito della microanalisi. Si inizia con un’analisi dell’interazione elettrone-materia, seguita dall’approfondimento dei componenti di un sistema EDS e della preparazione dei campioni per l’analisi.
Attraverso sessioni teoriche e pratiche, i partecipanti esploreranno le tecniche di analisi elementare qualitativa e quantitativa, inclusi approcci con e senza standard reali/virtuali. Saranno inoltre esaminate strategie per affrontare la disomogeneità nei campioni e per ottimizzare l’analisi chimica.
Il corso culminerà in sessioni pratiche al SEM-EDS, in cui metteremo in pratica le informazioni teoriche discuteremo i risultati ottenuti. Le sessioni di domande e risposte forniranno ulteriore chiarezza e approfondimento su argomenti specifici.
Da notare che il corso è a numero chiuso, garantendo un’attenzione personalizzata a ciascun partecipante. Il costo dell’iscrizione include i pranzi e il pernottamento in hotel, offrendo un’esperienza completa e confortevole. Inoltre, i clienti SEM Media System Lab potranno beneficiare di un significativo sconto sull’iscrizione, come segno del nostro apprezzamento per la loro fiducia e collaborazione.
Le Ciglia
La storia delle ciglia è legata all’evoluzione della microscopia, fondamentale per la loro scoperta e comprensione. In questa analisi, esploreremo le tecniche microscopiche per lo studio delle ciglia. Verso il 1800, strutture come il nucleo, i mitocondri e le ciglia sono state identificate. Nonostante l’interesse iniziale, le ciglia sono state dimenticate fino alla microscopia elettronica del 1953, evidenziando il loro ruolo chiave come sensori molecolari e nelle ciliopatie.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
C’è un nuovo detector che rivoluzionerà le tue analisi al SEM, è di Oxford Instruments ed è il primo al mondo a combinare segnali di elettroni retrodiffusi e raggi X ? per produrre immagini a colori ad alta definizione con dati elementari.
Analisi chimica con EDS: 5 errori da evitare
Puoi dire di non sbagliare mai utilizzando la tua hashtag#microanalisi? ?L’analisi hashtag#EDS può rivelare errori di rilevamento degli elementi dovuti a parametri non ottimali. ?L’acquisizione di immagini per la morfologia potrebbe compromettere l’analisi chimica. Gli operatori del SEM devono bilanciare le condizioni per evitare errori di rilevazione o sottostima degli elementi. Leggi i 5 errori più comuni e dicci se ne riconosci qualcuno ?
hashtag#SEM hashtag#EDX hashtag#MicoscopiaElettronica
Nanoplastiche e biodistribuzione nei pesci
Nanoplastiche e biodistribuzione nei pesci
Media System Lab alla Aldo Armigliato school on Scanning electron microscopy in Material science
Noi di Media System Lab avremo l’onore di essere presenti alla School on SEM dedicata al Prof. Aldo Armigliato. Inoltre durante la giornata inaugurale della Scuola alle ore 14:15 durante il nostro speech introdurremo per la prima volta in Europa una partnership che cambierà il panorama del mercato della microscopia elettronica.
Uso degli standard per l’analisi EDS quantitativa
Dalle altezze relative dei picchi di uno spettro EDS è possibile ricavare informazioni di tipo quantitativo. Per poterlo fare è necessario correggere il valore dell’integrale di ciascun picco per tenere conto di diversi fattori che possono inficiare il calcolo, come ad esempio il valore del background o la parziale sovrapposizione di più picchi. Il software applica automaticamente gli opportuni algoritmi di correzione ed esegue un’analisi semi-quantitativa confrontando lo spettro ottenuto con un database di standard precaricato con i valori di fabbrica per l’analisi standardless (a 5 o 20 kV). Per migliorare la precisione del calcolo è possibile tuttavia utilizzare dei propri materiali standard di riferimento di cui sia nota l’esatta composizione chimica. I risultati migliori si hanno quando la composizione del campione e quella dello standard sono simili: in questo caso l’accuratezza della misura dipende solamente dalla catena di misura e dall’affidabilità delle concentrazioni dichiarate per lo standard. Se uno standard simile al campione non è disponibile, si impiegano standard “semplici” come elementi puri o ossidi. In questo caso l’interpretazione diventa meno precisa a causa dell’effetto matrice, che va quindi corretto applicando modelli matematici come il metodo ZAF (Z, numero atomico; A, coefficiente di assorbimento specifico; F, fluorescenza indotta).
Presentazione esclusiva Oxford Nanoanalysis a Rovereto
Oxford Instruments, in collaborazione con Media System Lab, è lieta di invitarvi al primo workshop in Europa di presentazione del nuovo rivelatore “Unity”, in uscita a giugno 2023. Il sistema BEX (Backscatter Electron and X-ray) è una tecnologia innovativa che visualizza informazioni sulla composizione da raggi X caratteristici in parallelo con gli elettroni retrodiffusi, fornendo […]
Super Sconto per Luglio e solo fino a fine Luglio! ??
Il Corso completo di Preparativa dei campioni per SEM è ora disponibile ad un terzo del prezzo, solo fino al 31 Luglio!??♀️ ?????5 Moduli: 1. Introduzione alla Preparativa dei campioni per SEM ? 2. Preparativa dei campioni in Scienze della Vita ? 3. Preparativa dei campioni in Scienze dei Materiali ⚙ 4. Preparativa dei campioni […]
Siamo entusiasti di tornare a tenere un corso SEM
Siamo entusiasti di annunciare il lancio del nostro nuovo corso sulla microscopia elettronica a scansione! #SEM ? Se sei un appassionato di microscopia elettronica a scansione o un professionista desideroso di approfondire le tue competenze, questo corso è pensato appositamente per te. ?? La microscopia elettronica a scansione offre un’incredibile opportunità di esplorare il micro e il […]
Site Survey: a caccia dell’interferenza nascosta
I campi magnetici esterni e le vibrazioni possono spesso influire sulle prestazioni di un microscopio elettronico, riducendo la qualità e la risoluzione dell’immagine. I sopralluoghi prima dell’installazione sono fondamentali per scoprire qualsiasi potenziale fonte di interferenza e sono il primo passo per creare un ambiente stabile, ma richiedono attrezzature appositamente progettate per la misurazione e l’analisi dell’acustica, dei campi magnetici e delle vibrazioni nelle direzioni X, Y e Z.
Dimmi che righe K, L, M hai e ti dirò che spettro sei
Chi si occupa di analisi mediante spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (#EDS o #EDX), è abituato ad usare la denominazione K, L, M per identificare le righe spettrali caratteristiche degli elementi della tavola periodica. Ma da dove arriva questa denominazione? Come possiamo sfruttare gli spettri EDS acquisiti per riconoscere automaticamente un materiale?
Sold Out!
Il workshop a Roma del Microscopio elettronico della Delong Instruments LVEM25E è andato sold-out, tutto esaurito nell’arco di pochi giorni. Abbiamo quindi deciso di offrire una possibilità in più per poter provare questo innovativo e versatile All-in-One Electron Microscope LVEM25E dal 21 al 23 Giugno. Un solo posto disponibile dunque a chi ci contatterà per […]
Dall’Islanda a Marte l’analisi SEM-EDS nelle scienze geologiche
Coxem SEM Dall’Islanda a Marte l’analisi SEM-EDS nelle scienze geologiche
Lo strano caso del biossido di Titanio: innocuo o pericoloso?
Il biossido di Titanio è un additivo ampiamente utilizzato in molti prodotti alimentari, cosmetici e farmaceutici, tra cui il dentifricio. Nel 2021, l’EFSA ha stabilito che il TiO2 non dovrebbe essere considerato sicuro come additivo alimentare a causa di possibili infiammazioni e neurotossicità. L’EMA ha bandito il TiO2 come additivo alimentare nell’UE dal 7 agosto 2022. Tuttavia, la FDA negli Stati Uniti e la Health Canada considerano il TiO2 sicuro come colorante e ingrediente dei prodotti per la protezione solare. Il TiO2 si presenta in due differenti gradi, pigmento e nanometrico e può entrare nell’organismo tramite inalazione, ingestione, iniezione ed esposizione cutanea. Nel dentifricio, dove viene utilizzato principalmente come colorante, la quantità di TiO2 usata è molto bassa e il rischio di tossicità è improbabile, ma è importante verificare la dimensione delle particelle presenti. Alcuni studi suggeriscono l’uso del microscopio elettronico ed eds per osservare le particelle presenti nella pasta del dentifricio.
Occasione solo per 10 fortunati
Workshop in Italia a Roma dell’ All-in-One Electron Microscope LVEM25E dal 21 al 23 Giugno, solo 10 posti prenotabili per una demo privata avrete circa due ore per provare tutte le modalità di cui è equipaggiato questo incredibile microscopio elettronico: TEM, SEM, STEM, EDS, Diffrazione (ED) cliccate sul link qui sotto: ALL-IN-ONE ELECTRON MICROSCOPE
Workshop All-in-One Electron microscope a Roma 21-23 Giugno 2023
Il microscopio all-in-one LVEM25E della Delong Instruments sarà a vostra disposizione, per una demo privata con i vostri campioni a Roma dal 21 al 23 Giugno prezzo l’Università Tor Vergata. Pre prenotare la vostra demo privata dovete contattarci via e-mail a info@m-s.it o telefonicamente allo 3517603399 o attraverso il vostro commerciale Media System Lab di […]
Leghe di rame per la Stampa 3D (Additive Manufacturing)
Il rame costituisce una delle aree più promettenti della stampa 3D in metallo in diversi settori, dai motori elettrici ai dissipatori di calore. In precedenza, la stampa 3D con il rame rappresentava una vera e propria sfida, a causa della riflettività del metallo e dell’elevata conducibilità termica, ma i progressi nelle stampanti e nei materiali hanno ampiamente superato queste prime sfide.
Un pesticida anti-tumorale?
Tra le sfide più grandi della ricerca mondiale, la lotta contro il cancro rappresenta uno degli ostacoli maggiori. Negli ultimi decenni, l’oncologia ha fatto passi da gigante affrontando questa sfida con molteplici strategie. Dalla chemioterapia alla radioterapia, dall’immunoterapia alla fototerapia, il trattamento delle neoplasie si basa su svariati approcci. Tra le strategie più diffuse troviamo la chemioterapia, ovvero la somministrazione di una o più sostanze capaci di aggredire le cellule che si moltiplicano più rapidamente, quindi quelle cancerose.
Materiali plastici da riciclo: la normativa UNI 10667
Grazie all’introduzione delle normative UNI 10667 ad opera della commissione tecnica Uniplast (Ente Italiano di Unificazione nelle Materie Plastiche), sono stati definiti i requisiti e i metodi di prova da applicare alle materie plastiche derivanti dalla raccolta dei rifiuti o da sottoprodotti di lavorazione, e destinate ad essere utilizzate come materie prime secondarie.
Microscopia elettronica a scansione a basso vuoto
Dagli albori della tecnica, la microscopia elettronica a scansione è stata via via sempre più soggetta a miglioramenti e sviluppi che hanno dato luce a nuove modalità di imaging: tra queste, alcune hanno anche permesso di sopperire a varie criticità, permettendo di espandere l’insieme delle possibili applicazioni della tecnica e, conseguentemente, le varie tipologie di campioni osservabili attraverso il microscopio elettronico a scansione.
Quando si dice: hai il microscopio a due fotoni nel sangue
L’apparato cardiocircolatorio è l’insieme di organi e vasi che permettono al sangue di circolare nel nostro organismo. Tale sistema distribuisce ossigeno e nutrienti a tutti gli organi e tessuti e come tutti noi sappiamo è indispensabile per la nostra sopravvivenza. L’arresto del battito cardiaco e la mancanza di sangue ossigenato comportano danni cerebrali irreversibili in pochi minuti e conduce alla morte in meno di 10 minuti. Le malattie cardiovascolari sono la principale causa di morte al mondo, sottolineando indiscutibilmente l’importanza della ricerca in questo campo. Lo studio dell’appartato cardiocircolatorio avviene con varie strategie e anche la microscopia ricopre un ruolo determinante.
Best practice per la pulizia di stub e supporti SEM
Gli stub sono quei supporti standard che vengono utilizzati per montare i campioni in microscopia elettronica a scansione (SEM). Sono realizzati in alluminio vacuum grade e devono essere puliti quando si montano i campioni, per evitare contaminazioni in camera o sui campioni stessi.
Quando il SEM è delicato
L’utilizzo di basse tensioni di accelerazione per l’acquisizione di immagini al SEM rappresenta una delle modalità operative più impegnative ma al tempo stesso stimolanti. Dato che, riducendo l’energia degli elettroni che impattano con la superficie del campione, gli elettroni secondari vengono generati da una regione del campione spazialmente più contenuta, i maggiori vantaggi di questa modalità si esplicano in un aumento della risoluzione laterale e un maggior accento alla morfologia, e perciò al dettaglio superficiale, a discapito del contrasto
Analisi automatizzata di fibre di amianto e fibre artificiali vetrose
Amianto al SEM, analisi automatizzata di fibre di amianto e fibre artificiali vetrose
Optical Coatings: come misurare gli spessori dei layer depositati con analisi non distruttive al SEM
Se analizzati con le opportune tecniche analitiche (ad es. Microscopia elettronica a scansione), un numero inaspettatamente elevato di impianti dentali non mantiene la promessa di pulizia che dovrebbe essere garantita da un dispositivo medico in confezione sterile.
Metodi non distruttivi di ricostruzione 3D al SEM
Se analizzati con le opportune tecniche analitiche (ad es. Microscopia elettronica a scansione), un numero inaspettatamente elevato di impianti dentali non mantiene la promessa di pulizia che dovrebbe essere garantita da un dispositivo medico in confezione sterile.
Analisi SEM-EDS per il recupero del silicio dai pannelli fotovoltaici a fine vita
Analisi SEM-EDS per il recupero del silicio dai pannelli fotovoltaici a fine vita
Uno, nessuno e centomila
analisi di metalli, ceramici, coating, polveri o altri materiali, sia che l’immagine provenga da un microscopio ottico o elettronico o sia stata ottenuta con altre tecniche analitiche, avvalersi di software basati su Machine Learning ormai semplici da usare e alla portata di tutti, non solo permette di ridurre i tempi di lavoro, ma è anche un valido aiuto per uniformare una metodologia e garantire una migliore ripetibilità dei risultati.
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Come usi il tuo Sputter Coater?
La deposizione sputtering è un processo PVD in cui un materiale viene vaporizzato da una superficie detta target attraverso uno sputtering fisico grazie a un plasma generato a bassa pressione.
Analisi SEM su grassello di calce in sospensione acquosa
Analisi SEM su grassello di calce in sospensione acquosa
Cachemere o Lana? Chiediamolo al SEM
Cachemere o Lana? Chiediamolo al SEM
Mappe Chimiche qualitative o semiquantitative?
SEM EDS Mappe Chimiche qualitative o semiquantitative?
Analisi GSR (Gun Shot Residue) secondo la normativa ASTM E1588-20
Analisi GSR (Gun Shot Residue) secondo la normativa ASTM E1588-20
Analisi SEM-EDS della distribuzione dei fungicidi sulle piante trattate
Analisi SEM-EDS della distribuzione dei fungicidi sulle piante trattate
Resine per inglobamento di campioni nell’analisi al SEM di trattamenti superficiali
Se analizzati con le opportune Resine per inglobamento di campioni nell’analisi al SEM di trattamenti superficiali
Failure analysis su PCB: nel labirinto del Minotauro
Failure analysis su PCB
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
Osservazione di campioni liquidi e semisolidi al SEM
Osservazione di campioni liquidi e semisolidi al SEM
Fattori che influenzano il volume di interazione nella microscopia elettronica a scansione
Fattori che influenzano il volume di interazione nella microscopia elettronica a scansione
Le pompe che costituiscono il sistema di vuoto di un microscopio elettronico
Le pompe che costituiscono il sistema di vuoto di un microscopio elettronico
Le aberrazioni delle lenti magnetiche
Le aberrazioni delle lenti magnetiche nel microscopio elettronico
Workshop Delong Instruments 14 e 15 Giugno 22
Workshop di microscopia eletrtonica a trasmissione TEM compatto LVEM5 Delong Instruments
Diaframmi: funzioni e tipologie
Diaframmi: funzioni e tipologie nella colonna elettron-ottica
Pulizia dei vacuometri
Un ottimo tenore di vuoto all’interno di un microscopio elettronico è un prerequisito essenziale non solo per il corretto funzionamento della macchina
Le sorgenti di elettroni: differenze tra le principali sorgenti termoioniche
Le sorgenti di elettroni: differenze tra le principali sorgenti termoioniche
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti termoioniche
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti termoioniche
Le sorgenti di elettroni: differenze tra emissione di campo a catodo freddo ed emissione di campo a catodo caldo
Le sorgenti di elettroni: differenze tra emissione di campo a catodo freddo ed emissione di campo a catodo caldo
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti a emissione di campo
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti a emissione di campo
Microanalisi in microscopia elettronica? Chiedi agli esperti
La spettroscopia a dispersione di energia, dall’inglese Energy Dispersive Spectroscopy (EDS), è una tecnica potente e versatile; molto spesso, essa viene accoppiata alla microscopia elettronica così da massimizzarne i vantaggi ed espandere l’insieme dei possibili campi di applicazione.
Service informatico in microscopia
Con il progredire delle tecnologie, l’utilizzo dei personal computer ha assunto una rilevanza preponderante nelle attività quotidiane, sia in ambito lavorativo dove lo scambio continuo di email, le riunioni in videoconferenza e l’impiego di programmi per la preparazione di progetti e documenti sono all’ordine del giorno, che nella vita privata per lo svago e la […]
Manutenzione microscopi elettronici a scansione: pulizia e allineamento colonna elettron-ottica
Manutenzione microscopi elettronici a scansione: pulizia e allineamento colonna elettron-ottica
Hai mai visto un albero respirare?
Le piante sono il fondamento della vita sulla terra e costituiscono circa tre quarti della biomassa vivente del mondo. Distribuiti in tutto il globo, i vegetali sono eucarioti foto-aerobi, ovvero organismi in grado di effettuare la fotosintesi clorofilliana. Tale processo ha luogo nei cloroplasti e consiste nella produzione di glucosio e ossigeno a partire da acqua e anidride carbonica. Il glucosio è utile alla pianta per produrre energia, mentre l’ossigeno viene rilasciato nell’atmosfera attraverso gli stomi rendendo il nostro pianeta compatibile con la vita.
Controllo qualità su impianti dentali mediante tecnica SEM-EDS
La tecnica SEM-EDS rappresenta il migliore strumento a disposizione dei produttori di impianti dentali per poter eseguire un controllo qualità adeguato e affidabile, in quanto con il microscopio elettronico a scansione si analizza la morfologia del campione e con la microanalisi gli elementi chimici presenti
SEM+EDS per l’Automotive conformi ISO 16232 e VDA 19
Nell’ambito della Cleanliness, prodotti e materiali vengono controllati seguendo i metodi di prova specificati nelle norme ISO 16232 e VDA 19. In particolare, la fase di analisi e conteggio delle particelle contaminanti ottenute dopo le fasi di estrazione e filtrazione, può essere eseguita impiegando diverse tecniche analitiche. L’utilizzo della tecnica SEM-EDS (Microscopio elettronico a scansione accessoriato con Microanalisi) rispetto all’osservazione con microscopio ottico porta numerosi vantaggi, tra cui la possibilità di rilevare particelle inferiori al micron e la capacità di ottenere con un’unica analisi automatizzata il conteggio, la misurazione e l’identificazione chimica di tutte le particelle presenti su un filtro.
Procedure operative standard (SOP) e audit trail per analisi SEM-EDS nel settore farmaceutico
Quello delle industrie farmaceutiche è uno dei settori più regolamentati al mondo. Tuttavia, fino a poco tempo fa, alcune tecniche analitiche come il SEM e l’EDS erano esenti dai regolamenti vigenti, per il semplice fatto che le analisi SEM non sono normali analisi di routine. Negli ultimi tempi le cose sono cambiate, grazie ad importanti interventi della FDA (Food and Drug Administration), che ha sviluppato due tra i più importanti set di regolamenti e linee guida. Il primo è il “21 CFR part 11”, che regolamenta l’uso di documenti e firme elettroniche nelle industrie farmaceutiche, biotecnologiche e dei dispositivi medici. Il secondo è una serie di linee guida chiamate GxP (good practice quality guidelines), create per garantire che i prodotti siano sicuri e soddisfino i requisiti richiesti. Ne è un esempio il regolamento europeo “GMP Annex 11”.
Ingrandimento e campo visivo al SEM
Come possiamo fidarci della misura riportata sulla “scale bar” di ogni SEM? Media System Lab fornisce standard certificati e tracciabili con cui è possibile verificare ed eventualmente ricalibrare la dimensione dell’immagine visualizzata al microscopio elettronico. Durante l’acquisizione di un’immagine, lo scan generator del SEM deflette il fascio elettronico sul campione, mentre i detector SE e BSE raccolgono gli elettroni secondari e retrodiffusi per ogni posizione x, y del fascio.
Identificazione automatica di fibre per l’analisi di amianto e FAV
L’analisi automatizzata di fibre di amianto e fibre artificiali vetrose (FAV) mediante microscopio elettronico a scansione (SEM) e microanalisi a dispersione di energia (EDS) rappresenta un’innovativa implementazione della tecnica che consente di caratterizzare campioni in modo rapido e affidabile e sono molti i laboratori qualificati dal Ministero della Salute che la usano per identificare e quantificare la presenza di amianto nei campioni ambientali. Nello specifico consente di misurare la quantità, la morfologia e la composizione di fibre sospette costituite ad esempio da asbesto o da lane minerali utilizzate come isolanti nell’edilizia e in altre applicazioni.
Il SEM EM30C, C come Compatto e come CeB6
Il SEM tradizionale completo è uno strumento che può intimorire chi non è stato formato per utilizzarlo, complesso e complicato.
Corso di Microscopia elettronica a Scansione e caratterizzazione chimica dei campioni con Microanalisi
. 19-20-21 Novembre a Roma presso il CNR IIA.
Corso EDS
16-17 Ottobre 2019, ospiteremo un nuovo corso EDS, analisi chimica per la caratterizzazione del campione con la Microscopia elettronica a scansione, i nostri tecnici esperti in SEM ed EDS durante due giorni di esporranno le tecniche di analisi, l’hardware, il software e i trucchi del mestiere per accompagnare i partecipanti in un viaggio attraverso gli […]
